Measurement Process Characterization_1

Chia sẻ: Thao Thao | Ngày: | Loại File: PDF | Số trang:31

0
36
lượt xem
2
download

Measurement Process Characterization_1

Mô tả tài liệu
  Download Vui lòng tải xuống để xem tài liệu đầy đủ

Cộng đồng bán dẫn trên toàn thế giới phải đối mặt với những thách thức ngày càng khó khăn khi nó di chuyển vào việc sản xuất chip với kích thước tính năng tiếp cận 100 nm và hơn thế nữa. Độ lớn của những thách thức này đòi hỏi sự quan tâm đặc biệt từ cộng đồng đo lường và đo lường phân tích. Mô hình mới phải được tìm thấy. Nghiên cứu và phát triển đầy đủ cho các khái niệm về đo lường mới cần thiết. Các chủ đề bao gồm: lịch sử mạch tích hợp, thách...

Chủ đề:
Lưu

Nội dung Text: Measurement Process Characterization_1

CÓ THỂ BẠN MUỐN DOWNLOAD

Đồng bộ tài khoản