Bài giảng 6sigma: Tổng quan SPC

̀

ổ

T ng quan vê SPC

 Muc tiêu hoc tâp

̣ ̣ ̣

ổ ắ ụ ề

ồ ể ệ ắ

ứ ạ ắ ợ • N m rõ m c tiêu và t ng quan v SPC  N m rõ khái ni m bi u đ ki m soát ể  N m rõ cách th c t o ra phân nhóm h p lý

SPC?

ố ụ ể ươ ướ X không th áp d ng mistakeproofing, ph ng pháp h ng

ế i đ ki m soát bi n thiên là gì?

ị

ạ ộ

ệ

ươ

ở

ố ấ ượ

ầ ủ

ấ

ỉ

ả ộ ng pháp ki m soát cho phép m t quá trình ho t đ ng hi u qu ụ ng pháp th ng kê b i áp d ng chu trình PDCA, theo trình ng hay năng su t yêu c u c a quá trình

c ch tiêu ch t l

thông qua ph ự ể ạ ượ t đ đ t đ này.

ớ V i các nhân t ớ ể ể t  Đ nh nghĩa SPC ể ươ ộ M t ph

(PDCA : Plan – Do – Check – Action) ạ ộ ể SPC là ki m soát ho t đ ng mà

ấ ệ ử ụ ươ ố S (Statistical): S d ng ch t li u và ph ng pháp phân tích th ng kê

ế ộ ị ấ ượ ộ P (Process) ng trong m t quá

ự ạ ị : Xác đ nh nguyên nhân bi n đ ng ch t l trình và xác đ nh tr ng thái năng l c quá trình

ụ ả ế ệ ằ C (Control)

ụ ể ượ ấ ượ ỉ Cho phép liên t c c i ti n quá trình b ng vi c áp d ng chu ự c th c ng đã cho có th đ

SPC - 2

Proprietary to Samsung Electronics Company

Rev 7.0E

: ậ trình PDCA, do v y ch tiêu ch t l hi n. ệ

Đ u raầ

Đ u ầ vào Quá trình

ệ ố H th ng đo

ậ 4. Xác nh n và theo dõi

ệ 1. Phát hi n các nhân t không bình th ố ngườ

ự ồ ị 2. Xác đ nh ngu n gây ra

SPC - 3

Proprietary to Samsung Electronics Company

Rev 7.0E

ề ệ 3. Th c hi n các đi u ch nhỉ

SPC?

ủ

 M c đích c a SPC ị

ườ ườ ơ ở ủ ệ

ụ  Th

ứ ng c s , các tri u ch ng c a Y trong các

ng dùng đ xác đ nh các đ ạ ườ ể ị giai đo n Xác đ nh và Đo l ng.

ả ủ ấ ề ượ ụ ứ ề ệ ấ ộ Gi i pháp cho v n đ là ph thu c vào các tri u ch ng c a v n đ đ c

ị xác đ nh.

ả ể

ệ t, chúng ta ph i xác đ nh quá trình trong ki m soát hay không ệ ườ ứ ị ợ ng h p quá

ể

ệ ặ ị Đ c bi ị ặ ủ ổ ằ b ng vi c nghiên c u tính n đ nh c a quá trình. Trong tr ể ả ể trình “Ngoài ki m soát”, chúng ta ph i gi m thi u các nguyên nhân có th ướ ừ c t xác đ nh (nguyên nhân đ c bi ả quá trình. t) tr

ườ ủ ữ ệ ẻ ậ ổ ị ướ ả ng dùng đ xác nh n tính n đ nh c a d li u tr c khi gi i thích các

 Th ố th ng kê khác.

ượ ữ ệ ổ ề ơ ả ự ệ ề Gi c th c hi n theo các ti n đ c b n là d li u n

ả đ nhị ố i thích th ng kê đ .

ể ế ụ ườ ạ ng dùng đ ti p t c giám sát đo l ng Y đã đ ượ ả ế ở c c i ti n giai đo n

SPC - 4

Proprietary to Samsung Electronics Company

Rev 7.0E

 Th ườ ể Ki m soát.

SPC Overview

ế

ủ ả ượ ả ề ấ ng c a s n ph m đ c s n xu t trong đi u ki n

ố ụ ư ẩ ộ ế ệ ấ và bi n đ ng (ví d nh là phân tán) xung

ệ ộ ị

 Bi n thiên quá trình ấ ượ Nhìn chung, đ c tặ ính ch t l ồ gi ng h t nhau là không đ ng nh t ấ ị . quanh m t giá tr nh t đ nh

ộ ấ ượ ể ượ ệ ng có th đ c phân bi t thành 02

ượ ọ ườ c g i là nguyên nhân thông th ng)

ể ị ượ ọ ặ ệ ế Nguyên nhân gây bi n đ ng trong ch t l lo i:ạ  Nguyên nhân ng u nhiên (còn đ ẫ  Nguyên nhân có th xác đ nh (còn đ c g i là nguyên nhân đ c bi t)

ầ ế ề ủ ạ ộ

ặ

ự ể ả ệ ệ

ng và phân lo i ộ t. Sau đó, hành đ ng ệ i hi n ư ớ c th c hi n đ gi m thi u nguyên nhân đ c bi ng. V i các nguyên nhân ng u nhiên, ti p c n m t cách h th ng nh áp

ặ ế ậ ươ ươ ấ ả

ẫ ng ti n s n xu t hay ph ở ượ ấ ượ ổ ộ ẫ ấ ượ SPC đ u tiên đi u tra các nguyên nhân c a bi n đ ng ch t l ệ ẫ chúng thành nguyên nhân ng u nhiên và nguyên nhân đ c bi ậ ứ ạ ể ượ t ngay l p t c t đ ệ ố ộ ườ tr ơ ở ể ấ ụ ng pháp s n xu t là c s đ d ng thay đ i ph ế ả gi m bi n đ ng ch t l c gây ra b i các nguyên nhân ng u nhiên. ệ ả ng đ

ự

Rev 7.0E

ả ị ấ ượ i m c đ phân b trong ch t l ỉ ố ạ ỏ ẫ ớ ng quá trình v i c lo i b và ch nguyên nhân ng u

Proprietary to Samsung Electronics Company ưở

ế ớ * Năng l c quá trình đ c p t gi ả nhiên nh h ứ ộ ề ậ ớ ị ể đ nh là nguyên nhân có th xác đ nh đ SPC - 5 ấ ượ i bi n thiên ch t l ng t ượ ng.

ế

ạ

 Các lo i bi n thiên quá trình

ườ

ố ượ

ả ế

ng: Đ i t

ng cho c i ti n quá trình

 Nguyên nhân thông th i trong t T n t

ồ ạ ấ ả t c các quá trình

ừ ứ ạ ủ ạ ộ ế ố ề ả X y ra t các ho t đ ng ph c t p c a nhi u y u t trong quá trình.

ổ ơ ả ể ả ạ ỏ ư ầ ặ Có th gi m ho c lo i b , nh ng nó yêu c u thay đ i c b n trong quá trình.

ướ ướ ủ ủ

Xu h Xu h báo các s ki n t báo các s ki n t

ớ ạ ớ ạ ự ự

ự ẫ ế ự ế ẫ ng bi n thiên c a các nguyên nhân ng u nhiên cho phép d ng bi n thiên c a các nguyên nhân ng u nhiên cho phép d ể ể ự ệ ươ ự ệ ươ ể ể ng lai và làm nó có th ki m soát quá trình trong ng lai và làm nó có th ki m soát quá trình trong i h n đã d báo. i h n đã d báo. ố ượ các gi các gi ị

ể

ng cho ki m soát quá trình

 Nguyên nhân có th xác đ nh: Đ i t c (x y ra không th Không th d báo đ

ể ự ượ ả ườ ng xuyên)

ủ ẫ ả ơ ớ Nhìn chung, kho ng c a nó l n h n nguyên nhân ng u nhiên

ể ị ạ ỏ ơ ở ể ả ặ Có th b lo i b ho c gi m thông qua ki m soát và theo dõi quá trình c s .

ướ ướ ể ỉ ể ỉ ủ ủ ế ế ị ị Xu h Xu h ể ự ể ự ng bi n thiên c a nguyên nhân có th ch đ nh không th d ng bi n thiên c a nguyên nhân có th ch đ nh không th d

SPC - 6

Proprietary to Samsung Electronics Company

Rev 7.0E

ượ ượ ể ể báo cũng không đ báo cũng không đ c ki m soát. c ki m soát.

ế

ạ

ế

ạ

ủ Bi n thiên c a tr ng thái ể “Trong ki m soát”

ủ Bi n thiên c a tr ng thái ể “Ngoài ki m soát”

ự ự ế ế Bi n thiên ch t l Bi n thiên ch t l ng t ng t nhiên nhiên ng không t ng không t

ỉ ỉ ấ ượ ế ấ ượ ế ở ở b i vì nguyên nhân thông b i vì nguyên nhân thông ngườ ngườ th th ự ấ ượ ự ấ ượ Bi n thiên ch t l Bi n thiên ch t l ể ở ở ể nhiên b i vì nguyên nhân co th nhiên b i vì nguyên nhân co th ị ị ch đ nh. ch đ nh.

SPC - 7

Proprietary to Samsung Electronics Company

Rev 7.0E

ố ố ể ể ể ể Ngoài ki m soát Ngoài ki m soát Trong ki m soát th ng kê Trong ki m soát th ng kê

SPC

ấ ủ ệ

ậ ứ ậ ể ị

ị

ấ ượ ở ị ỉ  Ch c năng c b n nh t c a SPC là ch ra ngay l p t c khi xu t hi n bi n thiên ế ấ ỉ ể ợ ườ ng thích h p có th ỉ ể ỉ ng h p không có nguyên nhân có th ch đ nh, SPC ch ị ng, mà ch b gây ra b i các nguyên

 Ch c năng ứ ơ ả ứ ở ấ ượ ng b i vì nguyên nhân có th xác đ nh, do v y đo l ch t l ợ ườ ệ ự ượ c th c hi n. Trong tr đ ổ ự ế trình bày s bi n htieen n đ nh trong ch t l ẫ nhân ng u nhiên.

ể ỉ ồ ạ ị  Khi nguyên nhân có th ch đ nh t n t i:

ể ỉ ệ ườ Nhanh chóng xác đ nh các nguyên nhân có th ch đ nh và th c hi n đo l ng đo

ị ườ ị ể ư ườ ạ ự ề ng, đ a quá trình v “Trong ki m soát”. i hiên tr ng t l

ỉ ượ ở ẫ c gây ra b i nguyên nhân ng u nhiên quá

ỷ ệ ẽ  Ch khi bi n thiên ch t l ấ ượ ế ng đ ỏ sai h ng cao: cao, s gây ra t l

ơ ở ả ả ỗ ự ạ ộ ế ấ ổ

SPC - 8

Proprietary to Samsung Electronics Company

Rev 7.0E

ả Qu n lý ph i n l c thông qua ho t đ ng nhóm là c s gi m bi n đ i ch t ngượ l

ể ồ ể

Bi u đ ki m soát?

ị

ể ồ ể

ấ ượ ể ỉ ồ

 Đ nh nghĩa bi u đ ki m soát ng trong bi u đ

 Ch ra bi n thiên ch t l ế

ườ ể ự ế ị  Th

ng dùng đ d báo các thông tin liên quan đ n quá trình hay quy t đ nh ự ữ ế ấ năng l c quá trình. Cung c p các thông tin h u ích.

ướ ự ử ổ ệ ẩ ỏ  Ngăn ng a tr ằ c s sai h ng c a s n ph m b ng vi c cho phép s a đ i khi

ấ ị ủ ả ể ỉ ừ ệ xu t hi n các nguyên nhân có th ch đ nh trong quá trình.

ả ế ấ ượ ệ ả ộ ớ ớ ạ ấ  Cho phép gi m m t cách hi u qu bi n thiên ch t l ng t i gi i h n ch t

ượ l ủ ng c a nó.

ồ ể ể ị  Dr. Walter Shewhart đã phát tri n các bi u đ ki m soát, phân đ nh các lo i ạ

ẫ

ể ỉ ượ ể ị i ki m soát các quá trình trên nguyên ể ọ c, đ m i ng

ể ế nguyên nhân trong bi n thiên quá trình thành nguyên nhân ng u nhiên và nguyên ườ nhân có th ch đ nh đ ắ t c này.

ể ồ ể ể ồ ể

ụ ụ

ủ ủ

ọ ọ

Bi u đ ki m soát là công c quan tr ng c a SPC. Bi u đ ki m soát là công c quan tr ng c a SPC.

SPC - 9

Proprietary to Samsung Electronics Company

Rev 7.0E

ể ồ ể

ủ ử ụ

 M c đích c a s d ng bi u đ ki m soát

ụ ể

ả ể ượ ể ế ả c ki m soát và c nh báo

ể ả

ả ượ ồ ể ể ề ự ệ ỉ c th c hi n đ đi u tra các

ể ế ố ộ  Bi u đ ki m soát gi ồ ể i thích, n u quá trình có th đ  Bi u đ ki m soát là hi u qu khi dùng cho X’s quá trình hay Y’s quá trình. ệ ồ ể  Bi u đ ki m soát ch ra khi nào và đo cái gì ph i đ bi n thiên không mong mu n trong m t quá trình

ồ ể ể ấ  Bi u đ ki m soát cung c p thông tin cho quá trình phân tích.

 Cách s d ng bi u đ ki m soát

ử ụ ể ồ ể

ể ồ ể ả

ườ ể ạ i thích:  Bi u đ ki m soát cho gi

ị Th ấ nguyên nhân gì .

ụ ự c th c hi n ị ng dùng đ xác đ nh tr ng thái quá ế ệ ừ trình, đó là, xác đ nh bi n thiên gì, xu t hi n t  Bi u đ ki m soát cho m c đích ki m soát

: Khi công vi c đ ể ể ả ượ ồ ể

ườ ườ ợ ệ ượ ệ ấ ứ ự ể ế c ki m tra đ xem n u có b t c s ượ ng, nguyên nhân đ ng. Trong tr c

ườ ự ề ệ ể ồ ể ể ự ế d a trên bi u đ ki m soát và k t qu đ không bình th ng h p không bình th ể ạ ỏ ộ đi u tra và th ch i n các hành đ ng đ lo i b các nguyên nhân.

ệ ự ơ ệ ự ơ

ủ ủ

ụ ụ

ể ể

Ki m soát hi u l c h n, khi áp d ng cho X’s c a quá trình. Ki m soát hi u l c h n, khi áp d ng cho X’s c a quá trình.

SPC - 10

Proprietary to Samsung Electronics Company

Rev 7.0E

ề ể ồ ể

ổ

T ng quan v bi u đ ki m soát

ể ồ ể

 Mô hình bi u đ ki m soát

Upper Control Limit

Center Line (CL)

(cid:0)

X

Lower Control Limit

Time

SPC - 11

Proprietary to Samsung Electronics Company

Rev 7.0E

(cid:0)

ố

ơ ả

ớ ạ

ủ

ể

i h n ki m soát c a bi u

ượ ọ ườ ể ể ồ ng dùng đ ồ c g i là “Bi u đ Shewhart” hay bi u đ

 Các th ng kê c b n trên các gi ồ ể đ ki m soát X ể ể

 Bi u đ ki m soát th ồ ể ki m soát 3 Sigma.

ế ở ộ ể ằ ỏ  Xác su t c a m t đi m n m ngoài ± 3 sigma là r t nh , và n u

ượ ớ ạ ấ ể ờ m t th i ề ậ ấ ủ ấ ị ể t xa gi i h n ki m soát, chúng ta đ c p nó

ể ằ ộ ị ủ đi m nh t đ nh, giá tr c a nó v là “n m ngoài ki m soát”

3 Sigma (Zone A)

Upper Control Limit

(cid:0)

2 Sigma (Zone B)

1 Sigma (Zone C)

UC L

1 Sigma (Zone C)

9 5

6 8

2 Sigma (Zone B)

9 9 .7

(cid:0)

.2 6%

3 Sigma (Zone A)

LCL

3(cid:0)

SPC - 12

Proprietary to Samsung Electronics Company

Rev 7.0E

Lower Control Limit

ớ ạ

 Tính toán các gi

ể i h n ki m soát

ớ ạ ượ ệ ả ẩ ỗ ể i h n ki m soát đ c thi ế ậ ạ t l p t i kho ng cách 3 sai l ch chu n trên m i phía

ể ệ ậ  Các gi ủ ườ c a đ ng tâm đ thu n ti n cho tính toán.

(cid:0)

ố ể ỗ ấ ủ ư ọ ạ i 1 type 1 error) t i

0027

(cid:0) (cid:0) (cid:0) (cid:0)  Nó gi ng nh là thi WP { ế ậ t l p m c quan tr ng (xác xu t c a ki u l (cid:0) 3 ứ .0} ử ệ ả ế trong th nghi m gi thi t.

ồ ể ấ ủ ể ể ộ ớ ạ  Xác xu t c a m t đi m trong bi u đ ki m soát đi ra ngoài gi ể i h n ki m soát là

0.0027.

ể ớ ạ ướ ườ ể i h n ki m soát d ủ i) c a

ể ồ ể bi u đ ki m soát ớ ạ i h n ki m soát trên) & LCL(Gi W + 3(cid:0)

W 3(cid:0)

 Đ ng tâm và UCL(Gi UCL = (cid:0) CL = (cid:0) LCL = (cid:0)

W là Trung bình c a W ,

W là sai l ch chu n c a W.

SPC - 13

Proprietary to Samsung Electronics Company

Rev 7.0E

(cid:0) (cid:0) Ở ố ủ ẩ ủ ệ ẫ đó, W là m u th ng kê,

ể ồ ể

ể

ạ

 Xác minh tr ng thái ki m soát thông qua bi u đ ki m soát

YES

ậ ữ ệ ồ ể ể Thu th p d li u và phân tích bi u đ ki m soát

ể

ế

ị

Bi n thiên do nguyên nhân có th xác đ nh

ế

ẫ

Bi n thiên do nguyên nhân ng u nhiên

ể Trong ki m soát?

UCL

CL

LCL

ườ ạ (Đo l ng t ỗ i ch )

ạ ỏ ị Lo i b nguyên nhân có th ch đ nh

SPC - 14

Proprietary to Samsung Electronics Company

Rev 7.0E

ấ ượ ế gây ra bi n thiên ch t l ể ỉ ng ế ạ ừ ệ ấ (K ho ch ngăn ng a tái xu t hi n)

ể ồ ể

 Bi u đ ki m soát theo ki u d ể ữ li u ệ

ể ữ ệ Ki u d li u

ữ ệ

ộ

D li u thu c tính

ữ ệ

ỏ

D li u sai h ng

ữ ệ

ế

D li u bi n thiên

D li u l

ữ ệ ỗ i

(Countable / Discrete Data

(Measurable / Continuous Data)

(Categorical attribute data – Pass/fail, GoNoGo)

DPU)

Subgroup size

n=6~

n=25

n=1

constant

variable

constant

variable

X bar R

X bar S

IMR

SPC - 15

Proprietary to Samsung Electronics Company

Rev 7.0E

ể

ạ

 Các đi m m nh và y u ế

ế ộ Thu c tính Bi n thiên

 Nhi u thông tin có th nh n đ ữ ệ

ễ ế ể ể chi ti ầ ỏ ậ ệ ậ ự ệ  D thu th p d li u/ v t li u ờ  Yêu c u chi phí nh và th i gian ạ ả ả ấ  Cung c p thông tin chính xác và ố ượ ng t đ ki m soát đ i t ế  Nh y c m trong ph n ánh bi n ít ộ đ ng quá trình Các đi m ể m nhạ ứ ị ể ậ ượ c ả ệ  Hi u qu trong xác đ nh m c ổ ấ ượ ng t ng quát ch t l m t vài d li u ề ừ ộ t

 Khó thu th p d li u/ v t t ề

 Đ nh y kém trong vi c phát hi n bi n thiên c a quá trình

SPC - 16

Proprietary to Samsung Electronics Company

Rev 7.0E

ậ ữ ệ ậ ư ệ và ề ầ ạ ế ộ ệ ủ Các đi m ể y uế ờ yêu c u nhi u th i gian và nhi u chi phí.

Tóm t

tắ

ươ ể

ố ng pháp ki m soát, dùng ki m soát quá ấ ượ ấ ượ ỉ ng pháp th ng kê theo ch tiêu ch t l ể ng hay năng su t đ c

ầ  Statistical Process Control (SPC) là ph ươ ử ụ trình s d ng ph ở ượ c yêu c u b i quá trình. đ

ế ấ ượ ể ạ ng có th phân làm 02 lo i nguyên nhân:

 Nguyên nhân bi n thiên ch t l ị ể ỉ ể ấ ạ ờ

Nguyên nhân có th ch đ nh: nguyên nhân b t ng (Ngoài tr ng thái ki m soát)

ể ạ ỏ

ể ố ẫ Nguyên nhân ng u nhiên: Nguyên nhân không th tránh kh i (tr ng thái trong ki m soát th ng kê)

ứ ơ ả ệ ề

ấ ủ ở ấ ượ

 Ch c năng c b n nh t c a SPC là ngay l p t c c nh báo v xu t hi n bi n ợ ẽ ỉ ậ ứ ả ế ị ể ỉ ng thích h p c th c hi n. Và khi không có nguyên nhân có th xác đ nh, nó s ch ra

ể ẫ ế ổ ở ỉ ị ấ ườ ng, gây b i nguyên nhân có th ch đ nh, do đó đo l thiên ch t l ự ị ể ượ có th đ ấ ượ bi n thiên ch t l ệ ng n đ nh ch gây b i nguyên nhân ng u nhiên.

ể ồ ể ụ ể ọ

 Bi u đ ki m soát là công c quan tr ng cho ki m soát quá trình. ồ ể ể ỉ ủ ể ị

SPC - 17

Proprietary to Samsung Electronics Company

Rev 7.0E

ể ệ Vai trò c a bi u đ ki m soát: phát hi n các nguyên nhân có th ch đ nh trong quá trình đ suy ra thông tin quá trình.