CHƯƠNG VIII: XỬ LÝ DỮ
LIỆU ĐIỆN ÁP ĐÁNH THỦNG
1. Giới thiệu
2. Hàm phân phối xác suất
3. Ảnh hưởng của diện tích bề mặt điện cực và thể tích của vật
liệu cách điện
4. Cách sử dụng giấy Weibull
1. Giới thiệu
Nếu tăng điện áp tác dụng giữa hai điện cực một cách từ từ
cuối cùng sẽ dẫn đến phóng điện tại điện áp đánh thủng
Lặp lại thí nghiệm trong cùng điều kiện sẽ thu được giá trị điện áp
phóng điện khác so với giá trị ban đầu kết quả thí nghiệm
không tái sản xuất được
Độ bền điện quan sát thay đổi theo từng thí nghiệm có nghĩa là
thay đổi một cách ngẫu nhiên các phương pháp thống kê được
sử dụng để mô tả và dự đoán gần đúng giá trị độ bền điện hoặc
điện áp phóng điện
2. Hàm phân phối xác suất
Từ thí nghiệm thu được tập hợp số liệu điện áp phóng điện, theo
kinh nghiệm, có thể xác định được hàm phân phối tích lũy của các
giá trị điện áp phóng điện.
Hàm phân phối này mô tả xác suất tích lũy xảy ra phóng điện tại
giá trị điện áp ngẫu nhiên nhỏ hơn hoặc bằng U
Xác suất xảy ra phóng điện được xác định như sau:
nkhi
n
n
UP o
lim
Với: nlà tổng số lần thử nghiệm và nolà số lần xảy ra phóng điện
tại các giá trị điện áp nhỏ hơn hay bằng U
Thực tế, không thể xác định chính xác giá trị P(U) vì số lần thử
nghiệm hạn chế chỉ ước lượng P(U) từ số lần thí nghiệm cụ thể
Từ lý thuyết thống kê, ước lượng phù hợp nhất khi biểu diễn đồ thị
P = f(U) là sử dụng công thức:
1
n
n
UP o
Chính xác hơn có thể sử dụng công thức:
4,0
3,0
n
n
UP o