Bài giảng 6sigma: Biểu đồ kiểm soát cho biến số

Chia sẻ: _ _ | Ngày: | Loại File: PPTX | Số trang:38

Thêm vào BST

Báo xấu

39
lượt xem 3
download

Download Vui lòng tải xuống để xem tài liệu đầy đủ

Mục tiêu nghiên cứu của bài giảng là giúp bạn hiểu cách dùng biểu đồ kiểm soát cho biến số; hiểu làm sao để vẽ X bar R, X bar S, biểu đồ I-MR và hiểu làm sao để phát triển biểu đồ kiểm soát cho biến số sử dụng Minitab. Mời các bạn tham khảo!

Chủ đề:

Bình luận(0) Đăng nhập để gửi bình luận!

Lưu

Nội dung Text: Bài giảng 6sigma: Biểu đồ kiểm soát cho biến số

Biểu đồ kiểm soát cho biến số q Mục tiêu học tập l Hiểu cách dùng biểu đồ kiểm soát cho biến số l Hiểu làm sao để vẽ X bar R, X bar S, biểu đồ IMR l Hiểu làm sao để phát triển biểu đồ kiểm soát cho biến số sử dụng Minitab Proprietary to Samsung Electronics Company Control Chart for Variables- 1 Rev 7.0E
Biểu đồ kiểm soát cho biến số? q Định nghĩa của biểu đồ kiểm soát cho biến số Một phương pháp kiểm soát thống kê sử dụng các dữ liệu biến thiên để xác định sự ổn định của các quá trình và duy trì hiệu suất quá trình q Mục đích của biểu đồ kiểm soát cho biến số § Đánh giá tính liên tục cơ bản của Y bằng cách nghiên cứu phạm vi thay đổi của trung bình và biến thiên § Xác định nơi nào biến thiên xảy ra nhiều nhất trong quá trình § Theo dõi độ lệch đáng kể từ mục tiêu hoặc trung bình của X’s trọng yếu Proprietary to Samsung Electronics Company Control Chart for Variables- 2 Rev 7.0E
Tổng quan biểu đồ kiểm soát cho biến số q Ưu điểm của biểu đồ kiểm soát biến số § Dữ liệu biến thiên có thể cung cấp nhiều thông tin hơn là dữ liệu thuộc tính như đạt và không đạt (VD: đường kính của sản phẩm có đạt chỉ tiêu kỹ thuật hay không). Khi so sánh giá trị thuộc tính, giá trị biến thiên thể hiện đặc tính chất lượng dạng số và do đó yêu cầu nhiều thời gian và tiền bạc trong phép đo riêng lẻ hơn giá trị thuộc tính. Tuy nhiên, do chúng ta có thể có được thông tin về quy trình chỉ với vài phép đo, nên giá trị biến thiên ít tốn kém hơn, trong tổng chi phí. § Nó cho phép trả lời nhanh đối với vấn đề trong quá trình khi mà các tác nhân bất thường, dễ dàng bị phát hiện bằng một số lượng nhỏ mẫu thử. Do có thể đưa ra được quyết định đáng tin cậy chỉ với một số lượng nhỏ mẫu thử, nên khoảng cách về mặt thời gian giữa sản xuất sản phẩm và hành động khắc phục là ngắn. § Thậm chí dù cho tất cả các sản phẩm có đạt chỉ tiêu kỹ thuật thì dữ liệu biến thiên vẫn có thể cho phép, phân tích và cải tiến hiệu quả quá trình. Proprietary to Samsung Electronics Company Control Chart for Variables- 3 Rev 7.0E
q Biểu đồ kiểm soát sử dụng minitab Danh sách biểu đồ kiểm Miêu tả soát Trung bình Subgroup X bar Phạm vi Subgroup R Dữ liệu Độ lệch chuẩn Subgroup S nhóm nhỏ Dữ liệu Biểu đồ X bar và R vào một màn hình X bar R biến Biểu đồ X bar và S vào một màn hình X bar S thiên Biểu đồ kiểm soát trong phép đo riêng lẻ Individuals Dữ liệu Biểu đồ kiểm soát trong phạm vi di chuyển Moving Range riêng lẻ Phép đo riêng lẻ và phạm vi di chuyển được IMR biểu hiện trong một màn hình Biểu đồ kiểm soát trong tỷ lệ sai hỏng P Biểu đồ kiểm soát trong số sai hỏng NP Attribute data Biểu đồ kiểm soát trong số lỗi C Biểu đồ kiểm soát trong số lỗi trên đơn vị U Proprietary to Samsung Electronics Company Control Chart for Variables- 4 Rev 7.0E
q Các loại biểu đồ kiểm soát Loại dữ liệu Dữ liệu thuộc tính Dữ liệu sai hỏng Dữ liệu biến thiên Dữ liệu lỗi (Dữ liệu phân loại thuộc tính – (Dữ liệu đo được / liên tục) (Dữ liệu đếm được/rời rạc Pass/fail, GoNoGo) DPU) Quy mô Quy mô Quy mô phân nhóm phân nhóm phân nhóm n=25 n=6~ n=1 Hằng số Biến số Hằng số Biến số X bar R X bar S IMR C U NP P Proprietary to Samsung Electronics Company Control Chart for Variables- 5 Rev 7.0E
q Các loại biểu đồ kiểm soát cho biến số § Biểu đồ X bar R Sử dụng khi mẫu từ quá trình là dữ liệu biến thiên (VD: độ dài, khối lượng, ngày tháng, etc.) Khi nhiều dữ liệu có thể triết xuất cùng lúc cho nhóm phụ (2 ~ 5 data) Biểu đồ X bar Biểu đồ R Biểu đồ X bar R Sử đụng để kiểm Sử dụng Range Trung bình và soát thay đổi của + kiểm soát biến = biến thiên là được trung bình thiên của quá trình kiểm soát cùng lúc Proprietary to Samsung Electronics Company Control Chart for Variables- 6 Rev 7.0E
§ Biểu đồ X bar S Khi cỡ nhóm mẫu là tương đối lớn (i.e. n > 5 ), nó hiệu quả hơn sử dụng độ lệch chuẩn S thay cho phạm vi R để kiểm soát sự biến thiên quá trình. Do vậy, chúng ta sử dụng biểu đồ S thay cho biểu đồ R. Biểu đồ X bar Biểu đồ S Biểu đồ X bar S Sử dụng sai lệch Trung bình và Sử dụng để kiểm soát thay đổi trong + chuẩn để kiểm = biến thiên được soát biến thiên quá kiểm soát cùng trung bình trình một lúc Proprietary to Samsung Electronics Company Control Chart for Variables- 7 Rev 7.0E
Khi số lượng các mẫu tăng lên, phạm vi cũng tăng. Do đó, chúng ta có thể đạt được nhiều hiệu quả kiểm soát bằng cách sử dụng biểu đồ S thay vì biểu đồ R. Trong biểu đồ X bar S, độ nhạy cảm tăng lên khi kích thước mẫu lớn hơn. Nó được sử dụng khi điều khiển chính xác là cần thiết hoặc khi chúng ta không phải xem xét chi phí để lấy mẫu. Proprietary to Samsung Electronics Company Control Chart for Variables- 8 Rev 7.0E
§ Biểu đồ I MR - Được sử dụng khi phạm vi thời gian thu thập dữ liệu là tương đối lớn hoặc khi chỉ có một sự đo lường có thể thu được từ quá trình. - Điểm dữ liệu riêng lẻ để kiểm soát trung bình của quá trình. => biểu đồ Individual Sử dụng khoảng giữa hai dữ liệu liền kề (n=2) để kiểm soát sai lệch chuẩn của quá trình => được xem là khoảng dịch chuyển (MR). Proprietary to Samsung Electronics Company Control Chart for Variables- 9 Rev 7.0E
Phát triển biểu đồ kiểm soát m u h n X ác đ ịỡ ẫ § Xác định cỡ nhóm mẫu hợp lý/ tần số và cùng cỡ mẫu thích hợp. liậ ữ ệ d T tp u h ồ m soể k đ u b P át rin h gộ đ n V à cóh § Xác nhận tình trạng kiểm soát ồ ể m soáả k đ u ícb G i th Kiểm tra có là OCC không (ngoài kiểm soát) Điều tra biến thiên gây ra bởi nguyên nhân đặc biệt và cải tiến Proprietary to Samsung Electronics Company Control Chart for Variables- 10 Rev 7.0E
q Xác định cỡ mẫu § Chọn nhóm hợp lý cung cấp càng nhiều thông tin càng tốt về quá trình. § Cỡ nhóm mẫu – Biểu đồ kiểm soát cho các biến số: giữa 5 ~ 10 – Biểu đồ kiểm soát cho các thuộc tính: Dựa trên xác suất có ít nhất một l ỗi xảy ra § Tần suất lấy mẫu – Phân nhóm phải được lấy mẫu một cách thích hợp, không quá thường x uyên cũng không quá ít – Quy tắc: phân nhóm mẫu gấp 10 lần hoặc nhiều hơn so với quá trình “n goài kiểm soát" – Phương pháp giám sát trực tuyến cung cấp dữ liệu thời gian thực và cho phép kiểm soát quá trình theo thời gian thực. Proprietary to§Samsung Electronics Company Control Chart for Variables- 11 Rev 7.0E
Phát triển biểu đồ X bar R sử dụng Minitab VD) Sau đây là bảng của một đặc tính kiểm soát, thời gian trả lời trên A/S gọi cho sản phẩm A, sản phẩm được thu thập để kiểm soát với biểu đồ X bar R. Phát triển X bar R Biểu đồ và tính toán UCL và LCL. Step 1 Xác định cỡ mẫu Step 2 Chọn dữ liệu (File: Variable_X bar R.mtw) Subgroup No. x1 x2 x3 x4 x R x5 1 77 82 81 80 78 79.6 5 2 80 77 79 79 78 78.6 3 3 82 79 81 81 82 81.0 3 4 81 77 82 79 79 79.6 5 5 79 82 82 82 79 80.8 3 6 82 82 78 81 80 80.6 4 7 77 82 80 78 82 79.8 5 8 84 81 79 79 81 80.8 5 9 80 77 78 77 81 78.6 4 : : : : : : : : Proprietary to Samsung Electronics Company Control Chart for Variables- 12 Rev 7.0E
Step 3 Phát triển biểu đồ kiểm soát Stat > Control charts > Variables Charts for Subgroups > X barR chart 1 2 • Kiểm tra cụ thể cho 3 các nguyên nhân có thể xác định (Tham khảo slide tiếp theo) 4 Proprietary to Samsung Electronics Company Control Chart for Variables- 13 Rev 7.0E
Nếu bạn chọn “perform all eight tests” (tiến hành cả 8 thử nghiệm), bạn có thể kiểm tra 8 nguyên nhân có thể xác định Proprietary to Samsung Electronics Company Control Chart for Variables- 14 Rev 7.0E
q 8 loại nguyên nhân bất thường § Nếu bất kỳ tình huống sau đây xảy ra, bạn chắc chắn phải xác định và khắc phục nguyên nhân gây ra (s). 1. Một điểm 2. 9 điểm trong 3. 6 điểm trong 4. 14 điểm trên vượt ngoài giới hạn một hàng trên cùng một hàng, tất cả tăng một hàng, xen kẽ lên kiểm soát (OOC) phía của đường trung hoặc giảm (Chạy) và xuống (dao động) tâm (Trôi trượt) 5. 2 trong số 3 6. 4 trong số 5 điểm 7. 15 điểm 8. 8 điểm trên hàng điểm nằm trong nằm trong hoặc trên hàng trong ngoài vùng C (hỗn vùng A (Khác ngoài khu vực B vùng C (phân tầng) hợp) thường) (Khác thường) Proprietary to Samsung Electronics Company Control Chart for Variables- 15 Rev 7.0E
§ Xác nhận kết quả § Giới hạn kiểm Xbar R Chart o f Data soát phía trên của UCL=82.450 X bar. 82 X bar Chart S a m p le Me a n 81 __ § Trung bình của X 80 X=80.016 bar. 79 78 LCL=77.582 § Giới hạn kiểm 1 3 5 7 9 11 13 15 17 19 21 23 25 soát dưới của X S a m p le § Giới hạn kiểm bar UCL=8.924 soát trên của R 8 R Chart S a m p le Ra n g e 6 _ § Trung bình của R=4.221 4 (khoảng) R 2 0 1 3 5 7 9 11 13 15 17 19 21 23 25 LCL=0 § Giới hạn kiểm S a m p le soát dưới của R Proprietary to Samsung Electronics Company Control Chart for Variables- 16 Rev 7.0E
c 4ư ớ B Giải thích biểu đồ kiểm soát và hành động Quy trình nằm trong sự kiểm soát vì tất cả các điểm trên biểu đồ kiểm soát X bar và R đều nằm trong giới hạn kiểm soát và không thể hiện điểm gì đặc biệt. Không có vấn đề với kiểm soát Proprietary to Samsung Electronics Company Control Chart for Variables- 17 Rev 7.0E
q Khai triển biểu đồ kiểm soát bằng việc nhập dữ liệu Step 1 Xác định cỡ mẫu Step 2 Thu thập dữ liệu (File: Variable_X bar R_Unstack.MTW) Proprietary to Samsung Electronics Company Control Chart for Variables- 18 Rev 7.0E
Step 3 Phát triển biểu đồ kiểm soát Stat > Control charts > Variables Charts for Subgroups > X barR chart 1 2 Khi dữ liệu được nhập theo hàng ngang, nhập biến số theo trình tự hàng liên tục 3 Proprietary to Samsung Electronics Company Control Chart for Variables- 19 Rev 7.0E
§ Xác nhận kết quả Xba r R Cha rt o f X1 , . . . , X5 UCL=82.450 82 S a m p le Me a n 81 _ _ 80 X= 80.016 79 78 LCL= 77.582 1 3 5 7 9 11 13 15 17 19 21 23 25 S a m p le UCL=8.924 8 S a m p le Ra n g e 6 _ 4 R= 4.221 Kết quả như nhau!!!! 2 0 LCL= 0 1 3 5 7 9 11 13 15 17 19 21 23 25 S a m p le Proprietary to Samsung Electronics Company Control Chart for Variables- 20 Rev 7.0E