Bài thuyết trình AFM (Atomic Force Microscope)

Chia sẻ: Lavie Lavie | Ngày: | Loại File: PDF | Số trang:26

Thêm vào BST

Báo xấu

82
lượt xem 4
download

Download Vui lòng tải xuống để xem tài liệu đầy đủ

Bài thuyết trình AFM (Atomic Force Microscope) nêu lên lịch sử phát triển, cấu tạo, cơ chế đo, ứng dụng, ưu điểm và nhược điểm của AFM (Atomic Force Microscope). Mời các bạn tham khảo bài thuyết trình để nắm bắt nội dung chi tiết.

Chủ đề:

Bình luận(0) Đăng nhập để gửi bình luận!

Lưu

Nội dung Text: Bài thuyết trình AFM (Atomic Force Microscope)

TRƢỜNG ĐẠI HỌC KHOA HỌC TỰ NHIÊN KHOA VẬT LÍ BỘ MÔN VẬT LÍ ƢNG DỤNG AFM (ATOMIC FORCE MICROSCOPE) Sinh viên thực hiện: VÕ THỊ HỒNG THUỶ LÊ ĐÌNH THƢỜNG VŨ VĂN LÀNH TRƢƠNG ĐÌNH THỤ
Nội dung:  Lịch sử phát triển  Cấu tạo  Cơ chế đo  Ứng dụng  Ƣu điểm,nhƣợc điểm
LỊCH SỬ PHÁT TRIỂN: Kính hiển vi lực nguyên tử đƣợc hai nhà bác học Binnig và Rohrer chế tạo vào năm 1986 Loại kính này đƣợc phát triển từ một loại kính hiển vi tunen cũng do hai ông chế tạo vào năm 1982 Kính có độ phân giải ở cấp độ nanômét
CẤU TẠO:  Kính hiển vi lực nguyên tử gồm 6 bộ phận:
1.Mũi nhọn:  Đƣợc làm bằng silic nitrit(Si3N4)
2.Cantilever(cần quét):  Nó cũng đƣợc cấu tạo từ Si3N4(cantilever)
3.Nguồn laser:
4.Miroir( phản xạ phƣơng)
5.Hai nữa tấm pin quang điện (photodiode)
6.Bộ quét áp điện:
CƠ CHẾ ĐO:
Chiếu chùm tia laze vào mặt phản xạ của cần quét
Chiếu chùm tia laze vào mặt phản xạ của cần quét(tiếp theo) Khi đầu dò quét lên bề mặt mẫu,do sự mấp mô của bề mặt mẫu đầu dò sẽ rung lên theophƣơng thẳng đứng, chùm tia laze phản xạ trên cần quét sẽ bị xê dịch.
(tiếp theo) Khi đầu dò đƣa lại gần bề mặt mẫu thì xuất hiện những lực giữa đẫu dò và bề mặt mẫu.
Nếu đầu dò quét ở chiều cao không đổi
Thông thƣờng bề mẫu đƣợc gắn vào ống điện tử.
Máy AFM có thể thao tác trong nhiều chế độ khác nhau.
AFM đo đƣợc cả cho vật dẫn điện và cách điện
ƢU ĐIỂM VÀ NHƢỢC ĐIỂM: Ƣu điểm: Là một thiết bị rất nhạy có thể đo lực rất nhỏ ở khoảng cách nhỏ hơn đƣờng kính sợi tóc cả trăm lần.
AFM cung cấp thông tin ba chiều của bề mặt mẫu.