NGUYỄN XUÂN HẢI<br />
<br />
Đầu dò bán dẫn và ứng dụng<br />
<br />
S¸ch dïng néi bé vµ ®Ó tÆng sinh viªn<br />
<br />
HÀ NỘI 2010<br />
<br />
1<br />
<br />
Mục lục<br />
Mục<br />
Chương 1. Một số vấn đề cơ sở ..................................................................<br />
1.1 Bức xạ điện từ ........................................................................................<br />
1.2. Sự phát triển của phép đo phổ tia X và tia γ .........................................<br />
1.2.1 Sự phát triển của đầu dò bức xạ ...........................................................<br />
1.2.2 Các chuẩn năng lượng ..........................................................................<br />
1.3 Nguồn gốc, đặc điểm của tia X và tia gamma .....................................<br />
1.3.1. Tia X ...................................................................................................<br />
1.3.2 Tia gamma ...........................................................................................<br />
1.3.2.1 Một số quá trình làm hạt nhân bị kích thích .....................................<br />
1.3.2.2 Phân rã của hạt nhân kích thích ........................................................<br />
1.4 Tương tác của photon với vật chất ......................................................<br />
1.4.1 Hấp thụ quang điện ..............................................................................<br />
1.4.2 Tán xạ compton ....................................................................................<br />
1.4.3 Tạo cặp .................................................................................................<br />
1.4.4. Các quá trình tương tác khác ..............................................................<br />
1.4.5 Sự suy giảm của số photon ..................................................................<br />
1.5. Xử lý số liệu thống kê ..........................................................................<br />
1.5.1 Xác suất phân bố ..................................................................................<br />
1.5.1.1 Phân bố Gauss ..................................................................................<br />
1.5.1.2 Phân bố Poisson ................................................................................<br />
1.5.2. Giá trị trung bình và độ lệch chuẩn .....................................................<br />
1.5.3 Độ tin cậy của phép đo và số liệu thu được .........................................<br />
1.5.3.1 Độ tin cậy ..........................................................................................<br />
1.5.3.2 Truyền sai số .....................................................................................<br />
1.5.3.3 Tương quan giữa các đại lượng ........................................................<br />
1.5.4 Giới hạn phát hiện ................................................................................<br />
1.6 Các phương pháp khớp ........................................................................<br />
1.6.1 Khớp bình phương tối thiểu tuyến tính ................................................<br />
1.6.2 Khớp bình phương tối thiểu phi tuyến .................................................<br />
1.6.3 Nội suy và làm trơn số liệu ..................................................................<br />
1.6.4 Chất lượng khớp số liệu .......................................................................<br />
Chương 2. Thiết lập thực nghiệm ..............................................................<br />
2.1 Đầu dò ....................................................................................................<br />
2.1.1 Đặc điểm chung của đầu dò phôtôn .....................................................<br />
2.1.2 Quá trình vật lý trong các đầu dò bán dẫn ...........................................<br />
2.1.3 Độ phân giải .........................................................................................<br />
2.1.4. Các kiểu đầu dò ...................................................................................<br />
2.1.5 Lắp ráp đầu dò .....................................................................................<br />
2.1.6 Các ảnh hưởng đến biên độ xung của đầu dò ......................................<br />
2.1.7 Các đặc trưng kỹ thuật của đầu dò .......................................................<br />
2.1.8 Tiêu chuẩn để chọn đầu dò ..................................................................<br />
2.2 Các khối điện tử ....................................................................................<br />
2.2.1. Cao thế ................................................................................................<br />
2.2.2 Tiền khuếch đại ...................................................................................<br />
<br />
2<br />
<br />
Trang<br />
6<br />
6<br />
7<br />
7<br />
10<br />
11<br />
11<br />
14<br />
14<br />
17<br />
22<br />
22<br />
23<br />
25<br />
26<br />
26<br />
27<br />
27<br />
28<br />
29<br />
30<br />
31<br />
31<br />
32<br />
33<br />
34<br />
36<br />
36<br />
39<br />
40<br />
41<br />
44<br />
44<br />
44<br />
45<br />
47<br />
49<br />
51<br />
54<br />
55<br />
56<br />
58<br />
58<br />
58<br />
<br />
2.2.3 Khuếch đại ...........................................................................................<br />
2.2.4 ADC và lưu trữ số liệu .........................................................................<br />
2.2.5 Thời gian tăng và chồng chập xung .....................................................<br />
2.2.6 Sử dụng máy phát xung .......................................................................<br />
2.2.7 Sự ổn định của hệ số khuếch đại và ổn định không ............................<br />
2.3 Các nguồn tia X và gamma ..................................................................<br />
2.3.1 Các loại nguồn .....................................................................................<br />
2.3.2 Các đặc trưng của nguồn .....................................................................<br />
2.3.3 Bức xạ thứ cấp .....................................................................................<br />
2.3.4 Các nguồn chuẩn .................................................................................<br />
2.3.4.1 Các nguồn chuẩn và tài liệu tham khảo ...........................................<br />
2.3.4.2 Các phép đo hoạt độ tuyệt đối .........................................................<br />
2.3.4.3 Các nguồn chuẩn đặc biệt .................................................................<br />
2.4 Bố trí nguồn - đầu dò ............................................................................<br />
2.4.1 Vị trí nguồn ..........................................................................................<br />
2.4.2 Hình học các nguồn thể tích .................................................................<br />
2.4.3 Giá để mẫu ...........................................................................................<br />
2.4.4 Hấp thụ .................................................................................................<br />
2.4.5 Chuẩn trực ............................................................................................<br />
2.4.6 Che chắn ...............................................................................................<br />
2.5 Kiểm tra hiệu suất .................................................................................<br />
2.5.1 Hiệu suất ..............................................................................................<br />
2.5.2 Đánh giá độ phân giải năng lượng và hình dạng đỉnh .........................<br />
2.5.3 Kiểm tra tinh thể của đầu dò ................................................................<br />
2.5.4 Cửa sổ và các lớp chết .........................................................................<br />
2.5.5 Đánh giá phông ....................................................................................<br />
2.5.6 Qui trình kiểm tra .................................................................................<br />
Chương 3. Phân tích phổ và các phép đo năng lượng .............................<br />
3.1 Hình dạng của phổ và các đỉnh ...........................................................<br />
3.1.1 Hình dạng của phổ ...............................................................................<br />
3.1.2 Hình dạng của phổ phông ....................................................................<br />
3.1.3 Hình dạng của các đỉnh ........................................................................<br />
3.2 Xác định vị trí đỉnh ...............................................................................<br />
3.3 Đánh giá đỉnh ........................................................................................<br />
3.3.1 Các phương pháp đánh giá diện tích đỉnh đơn giản ............................<br />
3.3.2 Tính diện tích bằng khớp đỉnh .............................................................<br />
3.3.3 Phân tích các đỉnh chập ........................................................................<br />
3.3.4 Hình dạng và phân tích các đỉnh tia X .................................................<br />
3.4 Chuẩn năng lượng .................................................................................<br />
3.4.1 Thang năng lượng ................................................................................<br />
3.4.2 Hàm chuẩn năng lượng ........................................................................<br />
3.5 Các phép đo năng lượng .......................................................................<br />
3.5.1 Qui trình đo năng lượng .......................................................................<br />
3.5.2 Các phép đo năng lượng chính xác ......................................................<br />
3.5.2.1 Thiết kế thực nghiệm ........................................................................<br />
3.5.2.2. Các hiệu ứng do vị trí nguồn ...........................................................<br />
3.5.2.3 Khớp sơ đồ phân rã ..........................................................................<br />
<br />
3<br />
<br />
60<br />
62<br />
63<br />
64<br />
64<br />
65<br />
65<br />
66<br />
67<br />
68<br />
68<br />
69<br />
70<br />
71<br />
71<br />
73<br />
74<br />
74<br />
76<br />
78<br />
79<br />
80<br />
80<br />
82<br />
83<br />
84<br />
88<br />
90<br />
90<br />
91<br />
95<br />
99<br />
103<br />
105<br />
105<br />
106<br />
109<br />
110<br />
112<br />
112<br />
114<br />
115<br />
115<br />
117<br />
117<br />
119<br />
120<br />
<br />
Chương 4. Chuẩn hiệu suất và xác định tốc độ phát ..............................<br />
4.1 Các phương pháp chuẩn hiệu suất và giá trị các đại lượng vật lý đo được<br />
........................................................................................................<br />
4.1.1 Tính hiệu suất ......................................................................................<br />
4.1.2 Các phép đo hiệu suất ..........................................................................<br />
4.2. Chuẩn hiệu suất theo năng lượng .......................................................<br />
4.2.1. Hiệu suất trong vùng từ 60 keV đến 3 MeV .......................................<br />
4.2.1.1 Nguồn chuẩn .....................................................................................<br />
4.2.1.2 Các hàm khớp ...................................................................................<br />
4.2.1.3 So sánh và đánh giá độ tin cậy ..........................................................<br />
4.2.2 Hiệu suất dưới 60 keV .........................................................................<br />
4.2.2.1 Các nguồn chuẩn ..............................................................................<br />
4.2.2.2 Các hàm khớp ...................................................................................<br />
4.2.2.3 Sai số .................................................................................................<br />
4.2.3. Chuẩn hiệu suất trên 3 MeV ...............................................................<br />
4.2.3.1. Các nguồn chuẩn ..............................................................................<br />
4.2.3.2. Các hàm khớp ..................................................................................<br />
4.2.3.3 Hiệu suất các đỉnh thoát ....................................................................<br />
4.3. Tổng hiệu suất ......................................................................................<br />
4.3.1 Các tính toán ........................................................................................<br />
4.3.2 Đo hiệu suất .........................................................................................<br />
4.4 Sự thay đổi hiệu suất theo hình học giữa nguồn và đầu dò ..............<br />
4.4.1 Hiệu suất với nguồn điểm ở các khoảng cách khác nhau ....................<br />
4.4.2 Hiệu suất với các nguồn diện tích ........................................................<br />
4.4.3 Các nguồn thể tích ...............................................................................<br />
4.5 Hiệu chỉnh hiệu ứng trùng phùng tổng ..............................................<br />
4.5.1. Hiệu chỉnh với sơ đồ phân rã đơn giản ...............................................<br />
4.5.2. Hiệu chỉnh với sơ đồ phân rã phức tạp ...............................................<br />
4.5.3 Tính toán cho các nguồn mở rộng .......................................................<br />
4.5.4 Kết quả tính toán hiệu chỉnh trong một số trường hợp đặc biệt ..........<br />
4.5.5 Tính tất yếu cần phải hiệu chỉnh của thực nghiệm ..............................<br />
4.6 Hiệu chỉnh thời gian chết và chồng chập ............................................<br />
4.6.1 Hiệu chỉnh thời gian chết .....................................................................<br />
4.6.2 Hiệu ứng chồng chập ...........................................................................<br />
4.6.3 Hiệu chỉnh chồng chập dựa vào đo thời gian chết ...............................<br />
4.6.4 Phương pháp hiệu chỉnh dùng máy phát xung .....................................<br />
4.7 Hiệu chỉnh sự suy giảm của phôtôn .....................................................<br />
4.8 Xác định tốc độ phát .............................................................................<br />
Chương 5. Các ứng dụng ............................................................................<br />
5.1. Các chương trình máy tính cho phân tích hạt nhân phóng xạ ........<br />
5.1.1. Đặc điểm chung ..................................................................................<br />
5.1.2 Các quá trình chuẩn .............................................................................<br />
5.1.2.1 Chuẩn năng lượng và độ phân giải ...................................................<br />
5.1.2.2 Các hàm hiệu suất .............................................................................<br />
5.1.2.3 Các hàm dạng đỉnh ...........................................................................<br />
5.1.3 Thư viện các số liệu phân rã ................................................................<br />
5.1.4 Các thao tác trước khi khớp đỉnh .........................................................<br />
<br />
4<br />
<br />
121<br />
121<br />
122<br />
123<br />
125<br />
125<br />
125<br />
129<br />
131<br />
132<br />
132<br />
135<br />
140<br />
141<br />
141<br />
144<br />
144<br />
145<br />
145<br />
146<br />
147<br />
147<br />
150<br />
153<br />
154<br />
154<br />
155<br />
157<br />
158<br />
161<br />
162<br />
162<br />
163<br />
165<br />
167<br />
169<br />
172<br />
175<br />
175<br />
175<br />
176<br />
176<br />
178<br />
178<br />
178<br />
178<br />
<br />
5.1.5 Phân tích đỉnh và nhận diện các hạt nhân phóng xạ ............................<br />
5.1.6 Tính toán hoạt độ tương ứng với từng hạt nhân phóng xạ ..................<br />
5.1.6.1 Phương pháp cơ bản .........................................................................<br />
5.1.6.2 Phân tách ma trận hạt nhân-đỉnh và tính hoạt độ .............................<br />
5.1.6.3 Đánh giá độ tin cậy ...........................................................................<br />
5.1.7 Phân tích có lựa chọn ...........................................................................<br />
5.2 Một số ví dụ về phân tích nguyên tố và hạt nhân phóng xạ ..............<br />
5.2.1 Kiểm tra độ sạch phóng xạ ...................................................................<br />
5.2.2 Phân tích kích hoạt ...............................................................................<br />
5.2.3 Phân tích tia X ......................................................................................<br />
5.2.4 Kiểm tra nhiên liệu hạt nhân ................................................................<br />
5.2.4.1 Đo Uran .............................................................................................<br />
5.2.4.2 Phân tích Plutôni ...............................................................................<br />
5.3 Các phương pháp đặc biệt ...................................................................<br />
5.3.1 Đo phông thấp .....................................................................................<br />
5.3.2 Đo trong điều kiện hoạt độ cao ............................................................<br />
5.3.3 Phân tích thành phần phổ .....................................................................<br />
Chương 6. Số liệu nguyên tử và hạt nhân ...............................................<br />
6.1 Các hệ số suy giảm ..............................................................................<br />
6.2 Số liệu liên quan tới các mức nguyên tử ...........................................<br />
6.3 Số liệu hạt nhân ...................................................................................<br />
<br />
180<br />
182<br />
182<br />
183<br />
185<br />
185<br />
187<br />
187<br />
189<br />
192<br />
195<br />
195<br />
196<br />
200<br />
200<br />
203<br />
204<br />
206<br />
206<br />
211<br />
211<br />
<br />
Lời tựa:<br />
Quyển sách này được biên soạn trên cơ sở quyển “Gamma-And X-Ray<br />
spectrometry with semiconductor detectors” của tác giả Klaus Debertin và<br />
Richard G. Helmer. Về cơ bản những nội dung chính và cấu trúc của sách vẫn<br />
được giữ nguyên. Những thông tin mới về thiết bị và số liệu cũng được cập nhật.<br />
Theo kinh nghiệm của các tác giả thì đây là một tài liệu tham khảo rất tốt về ghi đo<br />
bức xạ với các đầu dò bán dẫn ở mức chuyên sâu đối với các sinh viên đại học,<br />
cao học và nghiên cứu sinh ngành vật lý nguyên tử và hạt nhân. Quyển sách cũng<br />
có thể xem là một tài liệu cẩm nang về ghi đo bức xạ khi sử dụng các đầu dò bán<br />
dẫn ở các phòng thí nghiệm.<br />
Trong lần biên dịch và xuất bản đầu tiên, do thời gian có hạn nên những kiến thức<br />
về sử dụng các chương trình đo và xử lý mới như Geni 2K, Gammavision chưa<br />
được cập nhật. Những kiến thức này sẽ được bổ sung cập nhật trong thời gian gần<br />
nhất để đảm bảo tính thời sự của một quyển cẩm nang về sử dụng đầu dò bán dẫn<br />
trong ghi đo bức xạ.<br />
Đà Lạt, 2011<br />
Nguyễn Xuân Hải<br />
<br />
5<br />
<br />