YOMEDIA
ADSENSE
Phần tử MITC3+ được làm trơn trên cạnh dùng phân tích tĩnh tấm Reissner mindlin
39
lượt xem 3
download
lượt xem 3
download
Download
Vui lòng tải xuống để xem tài liệu đầy đủ
Trong bài viết này, công thức phần tử hữu hạn tấm tam giác 3 nút mới được đề xuất. So với phần tử tấm tam giác 3 nút truyền thống, xấp xỉ chuyển vị của phần tử đề xuất được bổ sung thêm hàm dạng nổi bậc ba (cubic bubble shape function) tại nút nổi (bubble node) ở vị trí trọng tâm phần tử.
AMBIENT/
Chủ đề:
Bình luận(0) Đăng nhập để gửi bình luận!
Nội dung Text: Phần tử MITC3+ được làm trơn trên cạnh dùng phân tích tĩnh tấm Reissner mindlin
Tạp chí Khoa học Công nghệ Xây dựng NUCE 2019. 13 (4V): 139–150<br />
<br />
<br />
<br />
PHẦN TỬ MITC3+ ĐƯỢC LÀM TRƠN TRÊN CẠNH DÙNG<br />
PHÂN TÍCH TĨNH TẤM REISSNER-MINDLIN<br />
<br />
Châu Đình Thànha,∗, Trần Văn Chơnb , Tôn Thất Hoàng Lâna<br />
a<br />
Khoa Xây dựng, Trường Đại học Sư phạm Kỹ thuật Tp. Hồ Chí Minh,<br />
Số 01 đường Võ Văn Ngân, quận Thủ Đức, Tp. Hồ Chí Minh, Việt Nam<br />
b<br />
Công ty Quản lý Dự án Shin Yeong, Tòa nhà SFC,<br />
Tầng 4, 146E Nguyễn Đình Chín, quận Phú Nhuận, Tp. Hồ Chí Minh, Việt Nam<br />
Nhận ngày 09/08/2019, Sửa xong 06/09/2019, Chấp nhận đăng 09/09/2019<br />
<br />
<br />
Tóm tắt<br />
Trong bài báo này, công thức phần tử hữu hạn tấm tam giác 3 nút mới được đề xuất. So với phần tử tấm tam<br />
giác 3 nút truyền thống, xấp xỉ chuyển vị của phần tử đề xuất được bổ sung thêm hàm dạng nổi bậc ba (cubic<br />
bubble shape function) tại nút nổi (bubble node) ở vị trí trọng tâm phần tử. Biến dạng uốn của phần tử được<br />
làm trơn trên trên miền chung cạnh (ES) xác định bởi các đoạn thẳng nối nút nổi của 2 phần tử chung cạnh với<br />
2 nút của cạnh chung này. Nhờ vào kỹ thuật làm trơn trên cạnh, tích phân trên miền làm trơn của độ cứng uốn<br />
được chuyển sang tích phân trên biên của miền làm trơn và sẽ ít bị ảnh hưởng bởi hình dạng phần tử. Để khử<br />
hiện tượng khóa cắt khi phân tích tấm mỏng, biến dạng cắt ngoài mặt phẳng của phần tử được xấp xỉ lại theo<br />
kỹ thuật khử khóa cắt MITC3+. Phần tử đề xuất, gọi là ES-MITC3+, được sử dụng để phân tích tĩnh một số<br />
bài toán tấm điển hình nhằm đánh giá mức độ chính xác và hội tụ. Thông qua các kết quả số đạt được, phần tử<br />
ES-MITC3+ có khả năng phân tích tĩnh cho cả tấm mỏng và tấm dày với độ chính xác tương đương hoặc tốt<br />
hơn một số loại phần tử khác.<br />
Từ khoá: tấm Reissner-Mindlin; khử khóa cắt MITC3+; phần tử hữu hạn trơn trên cạnh (ES-FEM); phân<br />
tích tĩnh.<br />
AN EDGE-BASED SMOOTHED MITC3+ ELEMENT FOR STATIC ANALYSIS OF REISSNER-MINDLIN<br />
PLATES<br />
Abstract<br />
In this paper, a novel formula of 3-node triangular plate finite element is proposed. In comparison with the<br />
traditional 3-node triangular plate finite elements, the displacements of the proposed element are added the<br />
cubic bubble shape function at the bubble node located at the centroid of the element. The bending strains of<br />
the suggested element are averaged on edge-based smoothed (ES) domains which are determined by straight<br />
lines connecting 2 bubble nodes of 2 adjacent elements with 2 common nodes of them. Thanks to the edge-<br />
based smoothed technique, the integration of the bending stiffness is transformed from the smoothed domain<br />
into its boundary and thus reduces errors due to element shapes. To remove the shear-locking phenomenon,<br />
the transverse shear strains are separately interpolated by using the MITC3+ technique. The proposed element,<br />
namely ES-MITC3+, is employed to statically analyze some benchmark plates for evaluation of the accuracy<br />
and robustness. Numerical results show that the ES-MITC3+ element can analyze both thin and thick plates in<br />
good agreement, or better than other reference elements.<br />
Keywords: Reissner-Mindlin plates; shear-locking removal MITC3+; edge-based smoothed FEM; static analy-<br />
sis.<br />
c 2019 Trường Đại học Xây dựng (NUCE)<br />
https://doi.org/10.31814/stce.nuce2019-13(4V)-13 <br />
<br />
<br />
∗<br />
Tác giả chính. Địa chỉ e-mail: chdthanh@hcmute.edu.vn (Thành, C. Đ.)<br />
<br />
139<br />
Thành, C. Đ., và cs. / Tạp chí Khoa học Công nghệ Xây dựng<br />
<br />
1. Giới thiệu<br />
<br />
Kết cấu tấm là một trong những kết cấu phổ biến được ứng dụng vào nhiều bộ phận công trình xây<br />
dựng như: sàn, mái, tường, vách, . . . do đặc trưng mỏng, nhẹ, khả năng chịu uốn, vượt nhịp lớn. Ứng<br />
xử tấm đồng nhất được tính toán dựa trên (1) lý thuyết tấm mỏng Kirchhoff-Love hoặc (2) lý thuyết<br />
tấm dày Reissner-Mindlin [1]. Ứng xử kết cấu tấm có thể được phân tích bằng các phương pháp giải<br />
tích hoặc các phương pháp số. Các phương pháp giải tích [1–3] cho lời giải có độ chính xác cao, là<br />
kết quả để so sánh đánh giá các nghiên cứu bằng phương pháp số nhưng chỉ áp dụng cho các kết cấu<br />
tấm có hình học, điều kiện biên và tải trọng đơn giản. Vì vậy, để phân tích ứng xử các kết cấu tấm<br />
bất kỳ, các phương pháp số đã và đang được nghiên cứu phát triển nhằm cải thiện độ chính xác, tốc<br />
độ hội tụ và thời gian tính toán. Trong đó, các phương pháp số dựa trên tiếp cận phương pháp phần<br />
tử hữu hạn (PTHH) đang thu hút sự quan tâm của nhiều nhà nghiên cứu trong và ngoài nước. Với giả<br />
thuyết bỏ qua biến dạng cắt ngoài mặt phẳng, lý thuyết Kirchhoff-Love đòi hỏi xấp xỉ chuyển vị của<br />
phương pháp PTHH có đạo hàm cấp 1 liên tục, tức là dạng C 1 . Trong khi đó, xấp xỉ chuyển vị dạng<br />
C 0 đủ để thiết lập công thức PTHH tấm theo lý thuyết tấm dày Reissner-Mindlin. Việc xây dựng hàm<br />
xấp xỉ chuyển vị dạng C 0 , đặc biệt là đối với các phần tử đẳng tham số, dễ hơn rất nhiều so với xây<br />
dựng hàm xấp xỉ chuyển vị dạng C 1 . Tuy nhiên, xấp xỉ chuyển vị dạng C 0 thuần túy sẽ không loại<br />
bỏ được biến dạng cắt ngoài mặt phẳng khi phân tích tấm mỏng và dẫn đến kết quả chuyển vị giảm<br />
khi chiều dày tấm giảm, hay còn gọi là hiện tượng khóa cắt. Cùng với khả năng chia lưới dễ dàng của<br />
phần tử tam giác so với phần tử tứ giác, một số nghiên cứu tập trung vào phát triển phần tử tấm tam<br />
giác 3 nút dựa trên lý thuyết tấm dày Reissner-Mindlin sử dụng xấp xỉ chuyển vị dạng C 0 kết hợp với<br />
các kỹ thuật khử khóa cắt như các phần tử MIN3 [4], DSG3 [5] hoặc MITC3 [6]. Các loại phần tử<br />
này có biến dạng uốn là hằng số trên phần tử và biến dạng cắt ngoài mặt phẳng được xấp xỉ lại để có<br />
thể phân tích ứng xử tấm dày và mỏng. Bằng cách sử dụng thêm hàm nổi bậc 3 ứng với nút nổi đặt tại<br />
trọng tâm phần tử tam giác 3 nút trong xấp xỉ chuyển vị, phần tử MITC3+ [7] có biến dạng uốn tuyến<br />
tính trên phần tử. Do đó, phần tử MITC3+ có độ chính xác và hội tụ tốt hơn phần tử MITC3 [6].<br />
Để giảm chênh lệch biến dạng giữa các phần tử trong kết cấu tấm phân tích bằng các loại phần tử<br />
tam giác 3 nút, các kỹ thuật xấp xỉ lại biến dạng bằng cách trung bình biến dạng giữa các phần tử có<br />
chung cạnh hoặc chung nút, hay còn gọi là phương pháp PTHH trơn, đã được đề xuất [8]. Kỹ thuật<br />
làm trơn trên cạnh (ES) hoặc làm trơn trên nút (NS) đã được áp dụng cho các phần tử DSG3 hoặc<br />
MITC3 để phân tích tấm Reissner-Mindlin [9–12]. Trong các phần tử tấm ES-DSG3 [9], ES-MITC3<br />
[11], NS-DSG3 [10], NS-MITC3 [12], các biến dạng được tính trên miền chung cạnh hoặc chung<br />
nút phần tử là trung bình các biến dạng của các phần tử này. Nhờ đó, biến dạng chênh lệch giữa các<br />
phần tử được làm trơn trên miền nhiều phần tử. Kết quả, các phần tử làm trơn ES-DSG3, ES-MITC3,<br />
NS-DSG3, NS-MITC3 cải thiện được khả năng tính toán so với các phần tử không làm trơn DSG3,<br />
MITC3, DSG3, MITC3.<br />
Trong nghiên cứu này, kỹ thuật làm trơn trên cạnh sẽ được phát triển cho phần tử tấm tam giác 3<br />
nút MITC3+. Với tên gọi ES-MITC3+, phần tử đề xuất có biến dạng uốn được trung bình trên miền<br />
xác định bởi các đoạn thẳng nối nút nổi của 2 phần tử chung cạnh với 2 nút của cạnh chung này, và<br />
biến dạng cắt ngoài mặt phẳng được xấp xỉ theo kỹ thuật khử khóa cắt MITC3+ [7]. Khác với các phần<br />
tử ES-DSG3 và ES-MITC3, biến dạng uốn của phần tử đề xuất không là hằng số trên miền phần tử<br />
nên tích phân trên miền làm trơn của biến dạng uốn được chuyển thành tích phân trên đường biên của<br />
miền làm trơn bằng cách áp dụng định lý phân kỳ Gauss-Ostrogradsky. Nhờ đó, phần tử ES-MITC3+<br />
có thể giảm được sai số do tính tích phân Gauss, đặc biệt trong các trường hợp lưới phần tử không<br />
đều. Trong phần tiếp theo, công thức phần tử ES-MITC3+ được thiết lập. Độ chính xác và tính hiệu<br />
quả của phần tử đề xuất được trình bày ở phần 3 thông qua đánh giá kết quả phân tích chuyển vị và<br />
<br />
140<br />
Thành, C. Đ., và cs. / Tạp chí Khoa học Công nghệ Xây dựng<br />
<br />
mô-men của một số kết cấu tấm điển hình. Cuối cùng, một số kết luận được tổng kết ở phần 4.<br />
<br />
2. Công thức phần tử tấm Reissner-Mindlin ES-MITC3+<br />
<br />
2.1. Công thức phần tử tấm MITC3+<br />
Xét tấm có diện tích mặt trung bình Ω chịu uốn bởi lực pz tác dụng vuông góc với mặt trung bình<br />
Ω như Hình 1. Các chuyển vị thẳng u, v, w tương ứng các phương x, y, z của tấm được xác định bởi [1]<br />
<br />
u (x, y, z) = zβ x (x, y) ; v (x, y, z) = zβy (x, y) ; w (x, y, z) = w0 (x, y) (1)<br />
Tạp chí Khoa học Công nghệ Xây dựng NUCE 2019<br />
trong đó w0 , β x , βyTạp<br />
lầnchí<br />
lượt là chuyển<br />
Khoa học Côngvịnghệ<br />
thẳngXây theo<br />
dựngphương z và góc xoay của pháp tuyến mặt trung<br />
NUCE 2019<br />
bình quanh trục y và trục x với chiều dương qui ước như Hình 1.<br />
<br />
<br />
<br />
<br />
HìnhHình<br />
h 1. Tấm 1. Tấm<br />
chịu chịuvà<br />
1.uốn<br />
Tấm uốn<br />
chịu và định<br />
định<br />
uốn nghĩa<br />
vànghĩa<br />
định cáccác<br />
các<br />
nghĩa chuyển<br />
chuyểnvịvị<br />
chuyển vị Hình 2.Hình<br />
Hình Phần tử<br />
2. 2.Phần tấmtửtử<br />
Phần 3tấm<br />
nút3với<br />
tấm 3 nút<br />
nút nútnútvới<br />
với nổi nút<br />
của tấm và của mặt trung bình và chiều dương qui ước<br />
của tấmcủavàtấm<br />
củavàmặt<br />
của mặt trung<br />
trung bình<br />
bình nổi nổi<br />
và chiều dương dương<br />
và chiều qui ước qui ước<br />
Xét<br />
Mặttấm<br />
trung diệnΩtích<br />
có bình củamặt<br />
tấm trung<br />
được rời rạcWbằng<br />
bình chịuN uốn bởi<br />
phần tử lực<br />
tấm ptam<br />
tácgiác<br />
dụng vuông<br />
3 nút góctích Ω . Trường<br />
có diện<br />
Xét tấm có vị<br />
diện tích tửmặt trung bình W chịu e<br />
uốn z<br />
bởi lực pz tác dụng vuônge góc<br />
với mặt trung bình W như Hình 1. Các chuyển vị thẳng u, v, w tương ứng các phương<br />
chuyển của phần tấm tam giác được xấp xỉ như sau [7]<br />
i mặt trung bình W như Hình 1. Các chuyển vị thẳng u, v, w tương ứng các phương<br />
x, y, z của tấm được xác định bởiX [1]<br />
3 4 4<br />
y, z của tấm được xác định bởi [1]<br />
X X<br />
w0 = Ni wi ; β x = Ni θyi ; βy = − Ni θ xi (2)<br />
u ( x, y, z ) = zb x ( x, y ) ; v ( x, yi=1<br />
, z ) = zb y ( x, y ) ; i=1<br />
w ( x, y, z ) = w0 ( x, yi=1<br />
) (1)<br />
u ( x, y, z ) = zb x ( x, y ) ; v ( x, y, z ) = z b y ( x, y ) ; w ( x, y, z ) = w0 ( x, y ) (1)<br />
trong đó,đó<br />
trong , bxθ,xib, yθyilần<br />
w0wi, lầnlượt<br />
lượtlàlàchuyển<br />
chuyển vị thẳng và<br />
vị thẳng theo<br />
gócphương<br />
xoay quanhz và trục<br />
góc xxoay củaypháp<br />
và trục của nút i với chiều<br />
ong đó,tuyến bx, qui<br />
wdương<br />
0, mặt by ước<br />
lần<br />
trung lượt<br />
được<br />
bình là nghĩa<br />
định<br />
quanh chuyển<br />
trục ytrong vị xthẳng<br />
Hình<br />
và trục 2. N<br />
với i theo<br />
là các<br />
chiều phương<br />
hàm<br />
dương dạng<br />
qui ước z như<br />
vàhệHình<br />
trong góc xoay<br />
tọa độ<br />
1. tự nhiên η) được<br />
của(ξ,pháp<br />
xác định ứng với các nút đỉnh (i = 1, 2, 3) và nút nổi (i = 4) đặt tại trọng tâm phần tử như sau<br />
yến mặt trung<br />
Mặtbình<br />
trung quanh<br />
bình W trục y và<br />
của tấm trục<br />
được rờixrạc<br />
vớibằng<br />
chiều dương<br />
Ne phần quitam<br />
tử tấm ướcgiác<br />
như Hình<br />
3 nút có 1.<br />
N1 = 1 − ξ − η − 9ξη (1 − ξ − η) ; N2 = ξ − 9ξη (1 − ξ − η)<br />
Mặtdiện tích W<br />
trung bình W của<br />
e. Trường chuyển<br />
tấmvịđược<br />
của phần<br />
rờitửrạc<br />
tấmbằng<br />
tam giác<br />
Neđược<br />
phần xấptửxỉtấm<br />
như sau<br />
tam[7]giác 3 nút có(3)<br />
N3 = η − 9ξη (1 − ξ − η) ; N4 = 27ξη (1 − ξ − η)<br />
ện tích We. Trường 3<br />
chuyển 4vị của phần tử 4<br />
tấm tam giác được xấp xỉ như sau (2) [7]<br />
w0 = å Ni wi ; b x = å Niq yi ; b y = -å Niq xi<br />
3<br />
Từ (1)<br />
i =1<br />
và (2), quan<br />
4<br />
hệ giữa biến dạng<br />
i =1 4i =1<br />
và chuyển vị nút phần tử được thiết lập<br />
w0 = å Ni wi ; b x = å Niqyi ; b y = -å Niq xi (2)<br />
ở đây, wi, qxi, q ε xi =lượt<br />
yi lần là chuyểnβ x,xvị thẳng<br />
1 vàX 4góc<br />
0xoay 0quanhNi,x trục x và<br />
wi trục y của<br />
4 nút<br />
<br />
i =1 1 i=<br />
<br />
<br />
X<br />
εy ước = z được βy,y nghĩa = trong θ xi =z<br />
<br />
z 0 −N2. i,yNi là 0các hàm Bhệ<br />
bi dei (4)<br />
<br />
i với chiều dương γqui<br />
<br />
β định<br />
Hình<br />
θ dạng<br />
<br />
trong<br />
, qxiđộ, qtự<br />
<br />
đây, witọa yi lần lượt xy là chuyển + β<br />
x,y vị y,xthẳng và góc xoay i,x quanh trụcyi x và trục y của nút<br />
<br />
i=1 0 −N N i=1<br />
nhiên (x,h) được| xác {z<br />
i,y<br />
định ứng } với các | nút đỉnh<br />
{z (i =}1,| 2, {z3)} và nút nổi<br />
ới chiều<br />
(i =dương<br />
4) đặt tạiqui<br />
trọng ước tâmđượcphần tửđịnh<br />
như nghĩa<br />
κ<br />
sau trong HìnhBbi2. Ni là các dei hàm dạng trong hệ<br />
<br />
a độ tự nhiên (x,h) được xác định ứng với các nút đỉnh (i = 1, 2, 3) và nút nổi<br />
N1 = 1 - x - h - 9xh (1 - x - h ) ; N 2 = x - 9xh (1 - x - h ) ; N 3 = h - 9xh (1 - x - h )<br />
= 4) đặt tại Ntrọng tâm phần tử như sau 141 (3)<br />
(<br />
= 27xh 1 - x - h<br />
4 )<br />
N1 = 1 - x - h - 9xh (1 - x - h ) ; N 2 = x - 9xh (1 - x - h ) ; N 3 = h - 9xh (1 - x - h )<br />
Từ (1) và (2), quan hệ giữa biến dạng và chuyển vị nút phần tử được thiết lập (3)<br />
N 4 = 27xh (1 - x - h )<br />
Thành, C. Đ., và cs. / Tạp chí Khoa học Công nghệ Xây dựng<br />
<br />
4 " # wi <br />
<br />
4<br />
γ xz β x + w0,x<br />
( ) ( ) <br />
X Ni,x 0 Ni <br />
X<br />
= = θ =<br />
<br />
xi B si dei (5)<br />
γyz βy + w0,y Ni,x −Ni 0 <br />
<br />
} θyi<br />
<br />
i=1 | i=1<br />
<br />
{z<br />
B si | {z }<br />
dei<br />
<br />
Do xấp xỉ (2) không sử dụng độ võng tại nút nổi (i = 4) nên trong các công thức (4) và (5) w4 = 0.<br />
Trong bài báo này ký hiệu , là đạo hàm của hàm đối với biến .<br />
Vì biến dạng cắt ngoài mặt phẳng xấp xỉ bởi (5) không thể tiến đến 0, nghĩa là khi phân tích tấm<br />
mỏng mỏng biến dạng cắt ngoài mặt phẳng vẫn tồn tại. Điều này không phù hợp với ứng xử thực tế<br />
của tấm mỏng và dẫn đến kết quả, tấm càng mỏng thì độ võng càng lớn. Đây chính là hiện tượng khóa<br />
cắt xảy ra với các phần tử dùng hàm xấp xỉ chuyển vị bậc thấp. Do đó, biến dạng cắt ngoài mặt phẳng<br />
được xấp xỉ lại theo kỹ thuật nội suy các thành phần ten-xơ hỗn hợp MITC3+ [7]. Cụ thể, biến dạng<br />
cắt ngoài mặt phẳng trong hệ tọa độ tự nhiên được xấp xỉ lại như sau<br />
!<br />
2 B 1 B 1 C 1<br />
γˆ ξζ = γξζ − γηζ + γξζ + γCηζ + cˆ (3η − 1)<br />
3 2 3 3<br />
! (6)<br />
2 A 1 A 1 C 1<br />
γˆ ηζ = γ − γ + γ + γηζ + cˆ (3ξ − 1)<br />
C<br />
3 ξζ 2 ηζ 3 ξζ 3<br />
<br />
với cˆ = γξζ<br />
F<br />
− γξζ<br />
D<br />
− γηζ<br />
F<br />
+ γηζ<br />
E<br />
. Ở đây, γξζ<br />
I<br />
, γηζ<br />
I<br />
là các giá trị của biến dạng cắt ngoài mặt phẳng tính<br />
tại các điểm buộc I = A, B, C, D, E, F có tọa độ cho trong Bảng 1.<br />
Bảng 1. Tọa độ các điểm buộc của kỹ thuật khử khóa cắt MITC3+ với d = 1/10000<br />
<br />
Điểm buộc ξ η<br />
A 1/6 2/3<br />
B 2/3 1/6<br />
C 1/6 1/6<br />
D 1/3 + d 1/3 − 2d<br />
E 1/3 − 2d 1/3 + d<br />
F 1/3 + d 1/3 + d<br />
<br />
Từ các tọa độ điểm buộc cho trong Bảng 1, các giá trị biến dạng cắt ngoài mặt phẳng trong hệ tọa<br />
độ (x, y) được xác định theo (5). Sử dụng công thức biến đổi biến dạng cắt ngoài mặt phẳng từ hệ tọa<br />
độ (x, y) sang hệ tọa độ (ξ, η) và thế vào xấp xỉ biến dạng cắt cho bởi (6), ta có thể thiết lập được quan<br />
hệ giữa biến dạng cắt ngoài mặt phẳng và chuyển vị nút phần tử theo kỹ thuật khử khóa cắt MITC3+<br />
như sau<br />
4<br />
γˆ xz<br />
( ) X<br />
= ˆ si dei<br />
B (7)<br />
γˆ yz<br />
i=1<br />
Quan hệ giữa ứng suất và biến dạng của tấm đồng nhất đẳng hướng xác định<br />
σx 1 ν εx 1 ν<br />
<br />
0 0 4<br />
E Ez<br />
<br />
X<br />
σy = ν 1 εy = ν 1<br />
<br />
0 0 Bbi dei (8)<br />
<br />
<br />
<br />
1 − ν2 0 0 (1 − ν)/2 1 − ν2 0 0 (1 − ν)/2<br />
<br />
<br />
τ <br />
γ <br />
<br />
i=1<br />
xy xy<br />
4<br />
τ xz γˆ xz<br />
( ) ( )<br />
E E X<br />
= = Bˆ si dei (9)<br />
τyz 2(1 − ν) γˆ yz 2(1 − ν) i=1<br />
<br />
142<br />
Thành, C. Đ., và cs. / Tạp chí Khoa học Công nghệ Xây dựng<br />
<br />
trong đó E là mô-đun đàn hồi và ν là hệ số Poisson của vật liệu.<br />
Nguyên lý công ảo của tấm có diện tích mặt trung bình Ω chịu tải trọng pz tác dụng vuông góc<br />
với mặt trung bình [13]<br />
<br />
Z Zt/2 h σx Z Zt/2 h<br />
<br />
i<br />
kt2 i ( τ xz ) Z<br />
δε x δεy δγ xy σy dzdΩ + δˆγ xz δˆγyz dzdΩ = δwpz dΩ<br />
<br />
(10)<br />
<br />
<br />
τ <br />
<br />
t2 + αh2e τyz<br />
Ω −t/2 xy Ω −t/2 Ω<br />
<br />
trong đó δ chỉ đại lượng ảo, k = 5/6 là hằng số hiệu chỉnh kể đến sự phân bố không đều theo chiều<br />
dày của các ứng suất cắt ngoài mặt phẳng τ xz , τyz , he là cạnh dài nhất của phần tử và α = 0,1 là hệ số<br />
ổn định [14].<br />
Thế các quan hệ giữa ứng suất – biến dạng (8), (9) vào (10), ta có<br />
<br />
XNe Z XNe Z XNe Z<br />
δdTe BTb Db Bb dΩ de + δdTe B d = δd<br />
ˆT ˆ T<br />
D B<br />
s s s dΩ e e Npz dΩ (11)<br />
e=1<br />
e=1<br />
e=1<br />
Ωe Ωe Ωe<br />
<br />
<br />
trong đó Bb = [Bb1 Bb2 Bb3 Bb4 ], B s = [B s1 B s2 B s3 B s4 ], de = [dTe1 dTe2 dTe3 dTe4 ]T , N =<br />
[N1 0 0 N2 0 0 N3 0 0 N4 0 0]T và<br />
<br />
1 v 0<br />
Et3<br />
<br />
Db = D v 1 0 với D = (12)<br />
<br />
12 1 − ν2<br />
<br />
0 0 (1 − ν)/2<br />
<br />
<br />
<br />
kEt3<br />
" #<br />
1 0<br />
Ds = (13)<br />
0 1<br />
<br />
t2 + αh2e 2(1 + v)<br />
<br />
Từ (11), phương trình cân bằng rời rạc PTHH của tấm chịu tải trọng tĩnh pz được viết dưới dạng<br />
<br />
Kd = F (14)<br />
<br />
trong đó d, K, F lần lượt là véc-tơ chuyển vị, ma trận độ cứng và véc-tơ tải trọng của tấm. Ma trận K<br />
và véc-tơ F tương ứng được lắp ghép từ các ma trận độ cứng ke và véc-tơ tải trọng fe của phần tử có<br />
công thức như sau<br />
Z Z<br />
ke = Bb Db Bb dΩ + B<br />
T ˆ Ts D s B<br />
ˆ s dΩ (15)<br />
Ωe Ωe<br />
Z<br />
fe = Npz dΩ (16)<br />
Ωe<br />
<br />
<br />
2.2. Công thức phần tử tấm ES-MITC3+<br />
Trong nghiên cứu này, biến dạng uốn sẽ được trung bình trên miền làm trơn có diện tích Ωk được<br />
giới hạn bởi các đoạn thẳng nối 2 nút nổi của 2 phần tử chung cạnh với 2 nút đỉnh của cạnh chung này<br />
như Hình 3.<br />
<br />
<br />
<br />
143<br />
Tạp chí Khoa học Công nghệ Xây dựng NUCE 2019<br />
<br />
<br />
<br />
(<br />
fe = ò Np dWz<br />
Thành, C. Đ., và cs. / Tạp chíW Khoa học Công nghệ Xây dựng<br />
e<br />
<br />
<br />
<br />
<br />
Do đó, biến dạng uốn được xấp xỉ lại2.2.<br />
như Công<br />
sauthức phần tử tấm ES-MITC3+<br />
Trong nghiên cứunày, biến dạng uốn sẽ được trung bình trên miền làm trơn<br />
ε εx <br />
<br />
˜<br />
tích 1Wk được<br />
x<br />
diện giới hạn<br />
bởi các đoạn thẳng nối 2 nút nổi của 2 phần tử chung cạ<br />
<br />
<br />
Z <br />
ε = ε<br />
<br />
˜ y<br />
với 2 nút đỉnh của y<br />
cạnh<br />
dΩ (17)<br />
γ˜ Ωk chung này như Hình 3.<br />
<br />
<br />
<br />
<br />
γ <br />
<br />
xy Ωk xy<br />
Do đó, biến dạng uốn được xấp xỉ lại như sau<br />
Thế (4) vào (17) ta được quan hệ giữa biến ì e!dạng<br />
x<br />
ü trơnìvà e x chuyển<br />
ü vị nút phần tử<br />
ï ï 1 ï ï (<br />
í e! y ý = Z ò í e y ý dW<br />
ïg! ï W k W ïg ï<br />
<br />
k<br />
0<br />
î<br />
0 xy þ î<br />
N þ<br />
xy dΩ<br />
i,x<br />
<br />
<br />
Thế (4) vào (17)<br />
Ω ta được quan hệ giữa biến dạng trơn và chuyển vị nút phần tử<br />
<br />
k<br />
ε<br />
<br />
˜ wi <br />
Z<br />
x 4 4<br />
1 0 − Ni,y dΩ<br />
<br />
0é =Nz dW ùúB<br />
X X<br />
ε˜ y = z 0 θ xi <br />
˜ bi dei<br />
<br />
(18)<br />
<br />
Ω ê0 ò<br />
<br />
<br />
i,x<br />
γ˜ <br />
<br />
i=1 k Ω<br />
Zk ì e"x ü ê <br />
θyi W<br />
<br />
<br />
<br />
i=1ú ì wi ü<br />
xy k<br />
<br />
ï ï 4<br />
1 ê úï ï 4 (<br />
Z <br />
ý = z å Ni,y<br />
e" ydΩ - òN i , y dW q xi ý = z å B " d<br />
| {z }<br />
0 − Níi,x ê0dΩ 0 ú í<br />
<br />
bi ei<br />
i =1 W k ê<br />
ïg" ï W k<br />
dei ú ïq ï i =1<br />
î xy þ<br />
ê ú!î yi þ<br />
<br />
Ωk Ω<br />
{z k ê0 - } ò Ni , xdW ò Ni , y dW ú d ei<br />
<br />
ë &û<br />
|<br />
Wk Wk<br />
˜ bi<br />
B #$$$$ $%$$$$$<br />
"<br />
B bi<br />
<br />
<br />
<br />
Áp dụng định lý phân kỳ Gauss-Ostrogradsky,<br />
tích phân trên miền làm trơn Ωk của các đạo hàm<br />
hàm dạng trong (18) sẽ được chuyển thành tích<br />
phân trên đường biên Γk của Ωk như sau<br />
Z Z Z Z<br />
Ni,x dΩ = Ni n x dΓ; Ni,y dΩ = Ni ny dΓ<br />
Ωk Γk Ωk Γk<br />
(19)<br />
trong đó n x và ny lần lượt là hình chiếu theo<br />
phương x và y của véc-tơ n pháp tuyếnHình với 3. Miền làm trơn trên cạnh (ES) cho biến dạng uốn của các phần tử ES-MITC<br />
biên<br />
Hình 3. Miền làm trơn trên cạnh (ES) cho biến<br />
Γk như biểu diễn ở Hình 3. và định nghĩa véc-tơ pháp tuyến của biên miền làm trơn<br />
dạng uốn của các phần tử ES-MITC3+ và định<br />
Với các hàm dạng cho bởi (3), tích phân đường<br />
Áp dụng địnhnghĩalý phân kỳ Gauss-Ostrogradsky,<br />
véc-tơ pháp tuyến của biên tích<br />
miềnphân<br />
làmtrên<br />
trơnmiền làm trơn<br />
ở (19) được tính chính xác bằng cách sử dụng 2<br />
của các đạo hàm hàm dạng trong (18) sẽ được chuyển thành tích phân trên đường b<br />
điểm Gauss trên mỗi đoạn thẳng của biên Γk . WDo<br />
Gk của k như sau<br />
đó, tích phân ở (19) có thể được tính như sau<br />
òN i,x dW = ò N n dG; ò N<br />
i x i, y dW = ò N n dG<br />
i y<br />
(<br />
Wk Gk Wk Gk<br />
Z Z Ned X<br />
X 2 <br />
Ni,x dΩ = n dΓ<br />
Ntrong = i ξgp<br />
i x đó, nx và ny lầnNlượt là, η<br />
ed ed<br />
hình wed ed<br />
gp n xtheo phương x và y của véc-tơ n pháp tuy<br />
gp chiếu<br />
Ωk Γk ed=1 gp=1<br />
Z Z Ned X<br />
2 7 (20)<br />
X <br />
Ni,y dΩ = Ni ny dΓ = Ni ξgp , ηgp<br />
ed ed<br />
wed ed<br />
gp ny<br />
Ωk Γk ed=1 gp=1<br />
<br />
<br />
trong đó Ned = 3 đối với miền Ωk nằm ở biên tấm và Ned = 4 đối với miền Ωk không nằm ở biên tấm.<br />
ξgp , ηgp , wed<br />
ed ed<br />
gp , n x , ny lần lượt là tọa độ tự nhiên, trọng số của điểm Gauss và thành phần của véc-tơ<br />
ed ed<br />
<br />
pháp tuyến n trên cạnh ed của biên Γk .<br />
<br />
<br />
<br />
<br />
144<br />
Thành, C. Đ., và cs. / Tạp chí Khoa học Công nghệ Xây dựng<br />
<br />
Vì vậy, biến dạng uốn sau khi được làm trơn có thể được xác định bởi<br />
<br />
XNed X 2 <br />
<br />
<br />
0<br />
0 Ni ξ ,<br />
gp gpη<br />
ed ed<br />
w ed ed <br />
n<br />
gp x <br />
ed=1 gp=1<br />
<br />
ε<br />
<br />
<br />
˜<br />
x <br />
4<br />
X 1 XNed X 2 wi <br />
ε = ξ , η<br />
ed ed ed ed θ xi <br />
<br />
<br />
˜ y<br />
<br />
z 0 − Ni w n 0 <br />
gp gp gp y<br />
Ωk <br />
<br />
<br />
<br />
γ˜ <br />
<br />
i=1<br />
<br />
<br />
ed=1 gp=1<br />
<br />
<br />
θ <br />
<br />
<br />
xy yi<br />
N N<br />
2 2<br />
<br />
ed ed<br />
X X X X <br />
<br />
| {z }<br />
<br />
0 −<br />
Ni ξgp , η<br />
ed ed<br />
gp w ed ed<br />
gp n x Ni ξgp , η<br />
ed ed<br />
gp w ed ed <br />
gp ny dei<br />
ed=1 gp=1 ed=1 gp=1<br />
| {z }<br />
˜ bi<br />
B<br />
4<br />
X<br />
=z ˜ bi dei<br />
B<br />
i=1<br />
(21)<br />
Tạptrơn<br />
Thế biến dạng uốn được xấp xỉ lại theo kỹ thuật làm chí Khoa<br />
trên học<br />
cạnhCông<br />
chonghệ<br />
bởi Xây<br />
(21)dựng NUCE 2019<br />
vào nguyên lý<br />
công ảo (10), phương trình cân bằng rời rạc PTHH của tấm chịu uốn được viết lại<br />
<br />
k! e = Β ˜ != F<br />
! T Kd<br />
b Db B b W k + ò Βˆ ˆ dW (22)<br />
T<br />
s Ds B s<br />
We<br />
trong đó K ˜ được lắp ghép từ các ma trận độ cứng phần tử ES-MITC3+ có biến dạng uốn được làm<br />
trơn trên cạnh 3. VíZ dụ số Z<br />
e = Bài b dΩ +test B<br />
˜k3.1. ˜ T ˜ ˆ Ts D s B<br />
ˆ s dΩ<br />
Btoán<br />
b Db Bpatch (23)<br />
Ωe Ωe<br />
h i Để kiểm tra khả năng xấp xỉ trường biến dạng và ứng suất của ph<br />
˜b = B<br />
trong đó B ˜ b1 B˜ b2 B<br />
˜ b3 B˜ b4<br />
MITC3+,<br />
. xét tấm chữ nhật dày t = 0,01 m có tọa độ nút và lưới phần tử n<br />
Theo cách tính B˜ bi cho bởi (21)<br />
Tấm làm bằngB˜ bvật<br />
thì B˜ bi hay là hằng<br />
liệu cósố.mô-đun<br />
Do đó, công<br />
đàn thức<br />
hồi Etính ma7 trận<br />
= 10 kN/m độvà<br />
cứng<br />
hệ số Poisson<br />
phần tử ES-MITC3+ có thể được viết lại 2 2<br />
Tấm chịu độ võng cưỡng bức w = (1 + x + 2y + x + xy + y ) / 200 m [9].<br />
Z<br />
˜ke = Theo<br />
˜BT Db Blý thuyết<br />
˜ bΩ k + tấm ˆ Ts Dmỏng,<br />
ADSENSE
CÓ THỂ BẠN MUỐN DOWNLOAD
Thêm tài liệu vào bộ sưu tập có sẵn:
Báo xấu
LAVA
AANETWORK
TRỢ GIÚP
HỖ TRỢ KHÁCH HÀNG
Chịu trách nhiệm nội dung:
Nguyễn Công Hà - Giám đốc Công ty TNHH TÀI LIỆU TRỰC TUYẾN VI NA
LIÊN HỆ
Địa chỉ: P402, 54A Nơ Trang Long, Phường 14, Q.Bình Thạnh, TP.HCM
Hotline: 093 303 0098
Email: support@tailieu.vn