Engineering Materials and Processes phần 8

Sự thất bại electromigration Al (Cu) kết nối đã được điều tra bởi vì việc sử dụng ưu thế của Al (Cu) là dây dẫn trong các thiết bị vi điện tử trong nhiều thập kỷ. Gần đây, nghiên cứu electromigration Củ đã được tiến hành đáng kể và, 5 bạc Electromigration kháng (lưu lượng khối - khối lượng dòng chảy ra)