BỘ GIÁO DỤC VÀ ĐÀO TẠO
TRƯỜNG ĐẠI HỌC SƯ PHẠM TP. HỒ CHÍ MINH
Đặng Sa Ly
KỸ THUẬT XỬ LÝ XUNG SỐ DPP CHO
HỆ ĐO GAMMA NaI(Tl)
LUẬN VĂN THẠC SĨ VẬT LÝ
Thành phố Hồ Chí Minh – 2013
BỘ GIÁO DỤC VÀ ĐÀO TẠO
TRƯỜNG ĐẠI HỌC SƯ PHẠM TP. HỒ CHÍ MINH
Đặng Sa Ly
KỸ THUẬT XỬ LÝ XUNG SỐ DPP CHO
HỆ ĐO GAMMA NaI(Tl)
Chuyên ngành: Vật Lí Nguyên Tử
Mã số: 60 44 01 06
LUẬN VĂN THẠC SĨ VẬT LÝ
NGƯỜI HƯỚNG DẪN KHOA HỌC:
TS. VÕ HỒNG HẢI
Thành phố Hồ Chí Minh – 2013
LỜI CẢM ƠN
Tôi có thể hoàn thành luận văn này, công lao to lớn của quý thầy cô, sự hổ trợ của các
học viên và sự động viên từ gia đình là không thể không kể đến.
Tôi chân thành cảm ơn quý thầy cô khoa Vật lý trường đại học Sư phạm
Hồ Chí Minh, quý thầy cô bộ môn Vật lý trường đại học Khoa học Tự nhiên Tp. Hồ
Chí Minh đã truyền đạt kiến thức và kinh nghiệm quý báu cho tôi.
Tôi đặc biệt cảm ơn Thầy Võ Hồng Hải, là người hướng dẫn khoa học cho luận văn
này, thầy đã kiên trì hướng dẫn và giúp đỡ để tôi hoàn thành tốt nhất luận văn.
Cảm ơn các bạn học viên lớp Cao học Vật lý Nguyên Tử khóa 22 trường đại học Sư
phạm Hồ Chí Minh cùng các bạn học viên Cao học trường đại học Khoa học Tự nhiên, đã
giúp đỡ tôi trong quá trình học, nghiên cứu và tiến hành thí nghiệm.
Cuối cùng, tôi muốn gửi lời cảm ơn sâu sắc đến gia đình của tôi.
Tp. Hồ Chí Minh, ngày 30 tháng 09 năm 2013
Đặng Sa Ly
1
MỤC LỤC
LỜI CẢM ƠN .............................................................................................................. 1
MỤC LỤC .................................................................................................................... 2
DANH MỤC KÝ HIỆU, CHỮ VIẾT TẮT ............................................................... 4
MỞ ĐẦU ....................................................................................................................... 5
CHƯƠNG 1: LÝ THUYẾT TỔNG QUAN .............................................................. 7 1.1. Tương tác của tia gamma[1], [6] ................................................................................... 7 1.1.1. Hiệu ứng quang điện ............................................................................................... 8
1.1.2. Hiệu ứng Compton .................................................................................................. 9
1.1.3. Hiệu ứng tạo cặp .................................................................................................... 11 1.2. Hệ phổ kế gamma NaI(Tl) [2],[5],[6],[7] ........................................................................ 12 1.2.1. Detector nhấp nháy NaI(Tl) .................................................................................. 13
1.2.2. Phân tích dạng xung nhấp nháy............................................................................. 14
1.2.3. Tiền khuếch đại ..................................................................................................... 15
1.2.4. Khuếch đại ............................................................................................................. 17
1.2.5. Bộ phân tích độ cao xung ...................................................................................... 23
1.2.6. Độ phân giải năng lượng ....................................................................................... 26
1.3. Sơ đồ hệ phổ kế hiện đại ........................................................................................... 26
CHƯƠNG 2: KỸ THUẬT XỬ LÝ XUNG TÍN HIỆU SỐ DPP ........................... 28 2.1. Kỹ thuật xử lý xung tín hiệu số DPP [15] .................................................................. 28 2.2. Xử lý xung tín hiệu phân tích độ cao xung [4],[8],[9],[10],[11] ....................................... 29 2.2.1. Sự tổng hợp của các xung hình thang và xung tam giác ....................................... 29
2.2.2. Sự tích chập với hàm chữ nhật và hàm dốc cụt (rectangular and truncated ramp functions) ......................................................................................................................... 30
2.2.3. Đáp ứng xung của sự hình thành xung hình thang ................................................ 31
2.2.4. Số hóa hình thành xung hình thang ....................................................................... 34
2.2.5. Một số giải thuật đệ quy khác ............................................................................... 38
2.3. Khôi phục mức nền (baseline restoration) ............................................................. 40
CHƯƠNG 3: KHẢO SÁT MỐI LIÊN HỆ GIỮA XUNG DẠNG MŨ VÀ XUNG HÌNH THANG ........................................................................................................... 41
3.1. Khảo sát dạng xung hình thang theo các tham số DPP ......................................... 41
3.1.1. Cố định bề rộng xung Tw, thay đổi k và m ............................................................ 41
3.1.2. Cố định thời gian tăng k, thay đổi m và Tw ........................................................... 42
2
3.1.3. Cố định thời gian phần đỉnh bằng m, thay đổi k và Tw ....................................... 43
3.1.4. Kết luận ................................................................................................................. 44
3.2. Ảnh hưởng của thời gian tăng (rise time) của xung mũ lên độ cao xung hình thang [10] ............................................................................................................................ 45 3.3. Khảo sát sự chồng chập xung [4] .............................................................................. 47
CHƯƠNG 4: THỰC NGHIỆM ............................................................................... 53
4.1. Bố trí thí nghiệm ....................................................................................................... 53
4.1.1. Bố trí thí nghiệm ................................................................................................... 53 4.1.2. Các thông số thí nghiệm [12],[13],[14] ........................................................................ 53
4.2. Phân tích các tham số DPP đối với dạng xung ra hình thang .............................. 54
4.2.1. Trường hợp cố định Tw = 20 µs ............................................................................ 55
4.2.2. Trường hợp Tw = 30 µs ......................................................................................... 56
4.2.3. Trường hợp Tw = 40 µs ......................................................................................... 56
4.2.4. So sánh và đánh giá tham số DPP dựa vào độ phân giải năng lượng ................... 57
4.3. Phân tích các tham số DPP đối với dạng xung ra mũi nhọn (cusp - like) ........... 58
4.3.1. Phân tích các tham số DPP đối với dạng xung ra tam giác ................................... 58
4.3.2. Phân tích các tham số DPP đối với dạng xung ra mũi nhọn ................................. 60
4.4. Trường hợp chồng chập xung (pile-up) .................................................................. 61
KẾT LUẬN VÀ KIẾN NGHỊ................................................................................... 63
TÀI LIỆU THAM KHẢO ........................................................................................ 65
PHỤ LỤC ................................................................................................................... 66
3
DANH MỤC KÝ HIỆU, CHỮ VIẾT TẮT
Ký hiệu
Diễn giải Vận tốc ánh sáng trong chân không 3.108 m/s c
E
h Năng lượng Hằng số Planck 6,626.10-34 J.s
K Động năng
NaI(Tl) Tinh thể Natri Iốt hoạt hóa Thalium
γ Gamma
ν Bước sóng
Chữ viết tắt Tiếng Việt Tiếng Anh
BD Độ hụt xung Ballistic Deficit
DPP Xử lý xung tín hiệu số Digital Pulse Processing
DS Khối trễ – trừ Delay – Subtract
Flash ADC Bộ chuyển đổi tương tự thành số Flash Analog Digital
loại song song Converter
FWHM Bề rộng nửa chiều cao đỉnh phổ Full Width at Half
Maximmum
Bộ phân tích đa kênh Multi Channel Analyzer MCA
Đếm số sự kiện Multi Channel Scaling MCS
Công cụ phân tích trong vật lý Physics Analysis PAW
Workstation
Phân tích độ cao xung Pulse Height Analyzer PHA
Bộ phân tích đơn kênh Single Channel Analyzer SCA
4
MỞ ĐẦU
Trong lĩnh vực phát triển các thiết bị điện tử cho detector hạt nhân, với sự phát triển
ngày càng mạnh về tốc độ mã hóa sang số từ tín hiệu tương tự, xung tín hiệu từ detector hạt
nhân được số hóa trực tiếp. Sử dụng kỹ thuật xử lý xung tín hiệu số DPP (Digital Pulse
Processing), cho phép ta thu nhận các thông tin vật lý về bức xạ ghi nhận được như năng
lượng bức xạ để lại, thời gian, số đếm. Với công nghệ này, các hệ đo hạt nhân được nhỏ
gọn tiện lợi so với các hệ đo hạt nhân “truyền thống”, sử dụng các module xử lý analog, để
thực hiện với cùng chức năng.
Trên thế giới, kỹ thuật DPP, hiện nay, đang được nghiên cứu và ứng dụng phát triển
các hệ đo phổ bức xạ hạt nhân.
Với sự hỗ trợ về thiết bị Flash-ADC 500 samp/sec và thiết bị lập trình nhúng logic
FPGA từ PTN của GS. Masaharu Nomachi, thuộc khoa Vật lý – đại học Osaka, Nhật Bản,
chúng tôi hiện đang triển khai các hệ đo gamma với detector nhấp nháy NaI(Tl). Việc triển
khai này, chúng tôi muốn áp dụng kỹ thuật xử lý xung DPP, để thực hiện xây dựng hệ đo
gamma NaI(Tl), được thực hiện tại PTN Hạt nhân trường ĐH Khoa học Tự nhiên Tp. Hồ
Chí Minh.
Trong đề tài này, chúng tôi sử dụng kỹ thuật xử lý xung số DPP để nghiên cứu về hệ
đo gamma sử dụng đầu dò nhấp nháy NaI(Tl). Trước hết chúng tôi thực hiện đánh giá về
giải thuật DPP. Chúng tôi xử lý cho xung dạng e mũ, các tham số trong giải thuật DPP (k, l,
m2 , Tw) cũng như độ tuyến tính được khảo sát và đánh giá. Kế đến, chúng tôi sử dụng giải
thuật này, thực hiện cho hệ đo gamma với đầu dò nhấp nháy NaI(Tl). Năng lượng bức xạ gamma khảo sát là 511 keV từ nguồn chuẩn 22Na, đầu dò NaI(Tl) loại 3 inch x 3 inch. Tín
hiệu xung (tương tự) từ bộ tiền khuếch đại của đầu dò NaI(Tl), dạng hàm e mũ, được số hóa
bởi bộ chuyển đổi nhanh Flash-ADC (Flash-ADC Analog Digital Converter); kết hợp với
bộ FPGA trigger dữ liệu số được truyền lên máy tính. Sử dụng kỹ thuật DPP sử dụng để xử
lý xung e mũ, thành các dạng xung hình thang, tam giác và mũi nhọn. Chúng tôi khảo sát
các thông số trong giải thuật DPP, phổ năng lượng gamma được hình thành. Dựa vào độ
phân giải ở đỉnh quang điện, chúng tôi đánh giá tính tối ưu cho hệ đo.
Trong luận văn, thí nghiệm được thực hiện tại BM. Vật lý Hạt nhân, trường đại học
Khoa học Tự nhiên-TpHCM. Các thiết bị điện tử như bộ chuyển đổi nhanh Flash-ADC và
5
FPGA trigger nằm trong chương trình hợp tác phát triển thiết bị hạt nhân chất lượng cao
giữa nhóm giáo sư Masaharu Nomachi thuộc đại học Osaka, Nhật Bản và BM. Vật lý hạt
nhân, trường đại học Khoa học Tự nhiên – Tp. HCM.
Phần bố trí luận văn được phân bổ như sau:
Chương 1: Lý thuyết tổng quan: Giới thiệu về sự tương tác của bức xạ gamma với
môi trường vật chất; Hệ phổ kế gamma đầu dò NaI(Tl).
Chương 2: Kỹ thuật xử lý xung tín hiệu số DPP: Giới thiệu các giải thuật đệ quy tạo
dạng xung ra tối ưu.
Chương 3: Khảo sát mối liên hệ giữa xung dạng mũ và xung hình thang: Áp dụng giải
thuật DPP xử lý tín hiệu như detector để khảo sát mối liên hệ giữa xung
vào và ra.
Chương 4: Thực nghiệm: Áp dụng giải thuật DPP ghi nhận phổ năng lượng của hệ đo
NaI(Tl); đánh giá các thông số DPP dựa trên độ phân giải năng lượng và
độ tuyến tính.
6
Chương 1: LÝ THUYẾT TỔNG QUAN
1.1. Tương tác của tia gamma[1], [6]
Các biến đổi hạt nhân, chẳng hạn như phân rã beta thường để lại hạt nhân biến đổi ở
trong một trạng thái kích thích mà các proton và các neutron trên các lớp năng lượng của
hạt nhân không thể ở các trạng thái liên kết chặt nhất. Khi các proton và neutron trong hạt
nhân tự sắp xếp lại các mức năng lượng thấp nhất có thể, năng lượng kích thích này sẽ được
phát ra dưới dạng các bức xạ điện từ. Năng lượng tia gamma thực chất bằng với độ chênh
lệch năng lượng giữa trạng thái đầu và cuối của hạt nhân. Vì vậy tia gamma xuất hiện với
đặc trưng chu kỳ bán rã của hạt nhân mẹ, nhưng với năng lượng mà phản ánh cấu trúc mức
năng lượng của hạt nhân con. Các trạng thái hạt nhân lượng tử hóa các mức năng lượng, do
đó, các năng lượng của tia gamma rất đặc biệt và là đặc trưng của chính hạt nhân. Vì các tia
gamma được tạo ra chỉ để giải phóng năng lượng kích thích nên không thể nói quá trình này là phân rã gamma. Bức xạ gamma vừa có tính chất sóng (bước sóng vào khoảng 10-8cm)
vừa có tính chất hạt với giới hạn năng lượng thấp nhất là 10keV. Ví dụ về sự phát tia gamma sau phân rã beta của hạt nhân phóng xạ 22Na được mô tả trong Hình 1.1.
Hình 1.1. Sơ đồ phân rã beta – phát bức xạ gamma của hạt nhân 22Na
7
Hiệu ứng tạo cặp Hiệu ứng quang điện
Z ố s ử t n ê y u g N
Hiệu ứng Compton
Năng lượng (MeV)
Hình 1.2. Ưu thế của các hiệu ứng xảy ra trong detector phụ thuộc số nguyên
tử Z của môi trường và năng lượng tia gamma
Bức xạ gamma không mang điện do đó nó không ion hóa hoặc kích thích trực tiếp
môi trường vật chất bị xuyên qua. Tương tác của bức xạ gamma với môi trường vật chất
xảy ra theo ba cơ chế chính: hiệu ứng quang điện, hiệu ứng Compton và hiệu ứng tạo cặp.
Tùy thuộc vào năng lượng của tia gamma và số nguyên tử của môi trường bên trong
detector mà ưu thế của mỗi hiệu ứng là khác nhau (xem Hình 1.2).
1.1.1. Hiệu ứng quang điện
Trong quá trình quang điện, photon đến va chạm không đàn hồi với nguyên tử và tất
cả năng lượng (hν) của nó được truyền cho electron liên kết gần hạt nhân nguyên tử. Sau đó
electron thoát ra khỏi nguyên tử với động năng Ee = hν – Eb, với Eb là năng lượng cần thiết
để bức electron liên kết ra khỏi nguyên tử. Trong hiệu ứng này, Eb là năng lượng liên kết
của electron lớp K hoặc lớp L với nguyên tử. Electron tự do mang năng lượng cao lúc này
cũng giống như hạt beta sẽ gây ra sự ion hóa thứ cấp trong môi trường. Giả sử rằng electron
để lại toàn bộ năng lượng bên trong môi trường (xem Hình 1.3).
Xem xét một số khía cạnh sau liên quan tới electron giúp chúng ta hiểu rõ hơn về
hiệu ứng quang điện:
- Bởi vì electron tự do không thể hấp thụ hay bức xạ một photon mà đồng thời
thỏa mãn định luật bảo toàn động lượng và năng lượng, nên hiệu ứng quang điện chỉ xảy ra
8
trên các electron liên kết với động lượng của hệ được bảo toàn do sự giật lùi của nguyên tử.
Electron nằm ở các lớp vỏ nguyên tử bên trong có năng lượng liên kết lớn đồng thời các
bức xạ gamma mang năng lượng cao, vì vậy, hiệu ứng quang điện chủ yếu xảy ra ở lớp K
(30%).
- Bậc số nguyên tử Z của môi trường hấp thụ càng cao thì hiệu ứng quang điện
càng tăng mạnh.
- Tiết diện hấp thụ của hiệu ứng quang điện σpe phụ thuộc vào năng lượng
của photon đến Eγ và loại nguyên tử Z, cụ thể là:
(1.1.1) σpe = k.Z5/Eγ 3,5
Tia γ
Tia γ
Tia X
Hình 1.3. Cơ chế hấp thụ quang điện (a) và sự phát tia X huỳnh quang (b)
Khi electron lớp K hấp thụ hoàn toàn một photon đến sẽ bức ra khỏi nguyên tử để lại
một lỗ trống, lỗ trống này nhanh chóng bị lấp đầy bởi một electron lớp ngoài đồng thời
nguyên tử phát ra tia X. Nguyên lý này được sử dụng trong cấu trúc lớp chì che chắn cho hệ
phổ kế gamma. Photon từ mẫu hoặc phông phóng xạ bị hấp thụ trong lớp này, nếu nó xảy ra
thông qua quá trình quang điện thì tia X từ chì sẽ được phát ra và được ghi nhận bởi
detector. Bên trong lớp chì là 1 mm lớp kim loại nặng Cd để hấp thụ tia X từ chì, tiếp theo
là 1 mm lớp đồng để hấp thụ tia X từ Cd.
1.1.2. Hiệu ứng Compton
Hiệu ứng Compton là hiện tượng photon đến tán xạ trên elecctron và truyền một
phần năng lượng của mình cho electron này. Phần năng lượng còn lại sẽ được photon tán xạ
9
mang theo và bị suy giảm dọc theo quỹ đạo. Electron bị bật ra ion hóa môi trường giống
như hạt beta. Nếu năng lượng photon đến lớn so với năng lượng liên kết thì các electron
này được xem như tự do. Photon mới bị tán xạ một góc so với hướng của photon tới (xem
Hình 1.4). θ
Electron giật lùi
Tia γ
Tia γ tán xạ
Hình 1.4 Cơ chế tán xạ Compton
Áp dụng định luật bảo toàn năng lượng và động lượng và giả sử ban đầu electron
(1.2)
hν
1+
đứng yên ta có:
hν m0c2(1− cos θ)
(1.3)
γ(1−cos θ)
1+γ(1−cos θ)
(1.4)
hν′ =
T = hν − hν′ = hν 2
2 tan φ
+1
(1.5)
2 (1+γ) θ 2
cos θ = 1 −
với cot φ = (1 + γ) tan 2 : năng lượng photon đến γ = hν/mec
: năng lượng của photon tán xạ
hν Tiết diện tán xạ Compton σc tăng lên cùng với số bậc nguyên tử của môi trường hấp hν′
thụ Z, và giảm xuống cùng với năng lượng của photon đến Eγ như sau:
(1.6) σc = k.Z/ Eγ
Năng lượng cực đại mà một photon đến có thể truyền cho một electron là khi = 1800 (khi photon bị tán xạ ngược và electron chuyển động theo hướng của photon tới). θ
10
Năng lượng cực đại này vẫn bé hơn năng lượng tổng cộng mà cùng một photon có thể
truyền cho electron trong hiệu ứng quang điện. Góc tán xạ có thể nhận giá trị từ 0 đến 1800. Góc tán xạ càng nhỏ thì năng lượng được truyền cho electron càng bé. Có một ảnh θ
hưởng nhỏ của trường hợp photon tán xạ ngược lên cách bố trí hình học khi đếm mẫu: mẫu
phóng xạ được đặt gần với detector bên trong lớp che chắn (thường là chì). Vì vậy mà
photon đến detector có thể là từ mẫu và cũng có thể là photon tán xạ ngược từ lớp che chắn.
Năng lượng của photon tán xạ ngược đóng góp vào phổ độ cao xung, là một đỉnh rộng nằm
ở vùng năng lượng thấp.
1.1.3. Hiệu ứng tạo cặp
Nói chung thì hiệu ứng tạo cặp gây ra bởi sự tương tác của tia gamma với nguyên tử
không giống với hấp thụ quang điện và tán xạ Compton. Quá trình này xảy ra bên trong
trường Coulomb của hạt nhân, kết quả là một tia gamma chuyển đổi thành một cặp
electron-positron. Sự tạo cặp có thể cũng xảy ra trong trường Coulomb của electron, nhưng
quá trình này dẫn đến sự hấp thụ gamma yếu hơn nhiều vì tiết diện tương tác bé. Điều kiện
để hiệu ứng này xảy ra là năng lượng của photon tới phải lớn hơn hoặc bằng với tổng năng
lượng nghỉ của cặp electron – positron 1022 keV. Trong thực tế, bằng chứng của sự tạo cặp
được nhìn thấy trong phổ gamma khi mà năng lượng của photon tới lớn hơn 1022 keV. Mỗi
electron và positron được tạo ra sẽ nhận một nữa năng lượng còn dư ra của photon tới, và
năng lượng này bị để lại trong môi trường detector khi chúng bị làm chậm lại. Khi năng
lượng của positron giảm xuống mức năng lượng nhiệt, nó chắc chắn gặp một electron và
hủy cặp và giải phóng ra hai photon hủy mỗi photon mang năng lượng 511 keV. Thời gian
tạo cặp là khá bé so với thời gian tập hợp điện tích để tạo nên xung dòng của một detector
(1 ns so với 100 đến 700 ns), vì vậy mà sự hủy cặp được coi như tức thời với sự sinh cặp.
Quá trình sinh hủy cặp được mô tả trong Hình 1.5. Năng lượng thực bị hấp thụ bên trong
detector của hiệu ứng tạo cặp là Ee = hν – 1022.
Electron Tia γ đến
Positron
11
Hình 1 5 Cơ chế tạo cặp
Tiết diện của tương tác σp phụ thuộc vào năng lượng gamma Eγ và số bậc nguyên tử
của môi trường Z như sau:
(1.7) σp = k.Z2.f(Eγ, Z)
với σp phụ thuộc Eγ theo hàm f(Eγ, Z). Trên mức năng lượng ngưỡng 1022 keV, tiết diện
tương tác tăng dần và đạt đến giá trị không đổi ở năng lượng rất cao (trên 10 MeV thì hiệu
ứng tạo cặp là cơ chế chủ yếu của tương tác). Cũng có khả năng positron hủy cặp với
electron liên kết mạnh, vì vậy, cần thiết phải mất năng lượng để bức electron này ra khỏi
nguyên tử. Điều này có nghĩa là năng lượng sinh ra trong sự hủy cặp có thể nhỏ hơn giá trị
1022 keV.
1.2. Hệ phổ kế gamma NaI(Tl) [2],[5],[6],[7]
Loại xung chồng chập
Khử cực zero
Khôi phục mức nền
Tích phân Cổng
Khuếch đại
Hình 1.6. Sơ đồ hệ phổ kế gamma
Hình 1.6 là sơ đồ một hệ phổ kế gamma điển hình. Trước khi đi vào chi tiết một hệ
phổ kế gamma, ta tìm hiểu các dạng xung được truyền trong hệ này gồm có ba loại chính:
Xung tuyến tính mang thông tin trong kích thước của nó, đó là, độ cao xung •
hoặc diện tích xung. Các xung ra từ tiền khuếch đại thường là loại này.
12
Xung logic, là các xung điều khiển mà có thể bắt đầu hoặc kết thúc một quá •
trình, hoặc báo sự có mặt của một xung hợp lệ, hoặc thiết lập lại mạch; thông tin nằm trong
sự có mặt hoặc không có mặt của xung, bản thân các xung này có độ rộng và độ cao đã
được chuẩn hóa. Xung logic có hai chuẩn, phần xung dương chậm và phần xung âm nhanh
(‘chậm’ và ‘nhanh’ ở đây chỉ thời gian cạnh lên của xung).
Xung cổng, là một dạng xung logic đặc biệt có độ cao cố định trước nhưng độ •
rộng thay đổi được, chức năng của xung là đóng và mở cổng điện tử trong khoảng thời gian
cho trước.
1.2.1. Detector nhấp nháy NaI(Tl)
Chất nhấp nháy Ống nhấp nháy
Tia γ Xung anode
Photo – cathode Photon nhấp nháy Quá trình ion hóa
Ánh sáng tới
Cathode quang bán trong suốt
Tập hợp quang electron
Quỹ đạo quang electron
Nhân
Vỏ bọc chân không
electron
13 Anode
1 - 12 Các dynode
14 Các điện cực điều tiêu
15 Cathode quang
Hình 1.7a. Cấu tạo detector nhấp nháy
Hình 1.7b. Cấu tạo ống nhân quang
13
Detector nhấp nháy gồm có chất nhấp nháy và một thiết bị như ống nhân quang hoặc
diode-quang, để chuyển ánh sáng nhấp nháy thành xung tín hiệu điện (xem Hình 1.7a). Các
bộ phận cơ bản của một ống nhân quang được mô tả trong Hình 1.7b. Ống nhân quang thực
hiện chuyển đổi photon ánh sáng nhấp nháy đến thành quang-electron. Bởi vì chỉ vài trăm
quang – elecctron và điện tích quá nhỏ để có thể hình thành một xung thuận tiện cho quá
trình xử lý. Bộ phận nhân electron trong ống nhân quang có vai trò tập hợp các quang –
electron cũng như khuếch đại đáng kể số lượng quang – electron. Sau khi qua bộ nhân quang, xung nhấp nháy lúc này đủ lớn sẽ có 107 – 1010 electron và có thể xung như một tín
hiệu điện thật sự. Lượng điện tích này dễ dàng được tập hợp tại anode hoặc đầu ra của ống
nhân quang.
1.2.2. Phân tích dạng xung nhấp nháy
) t ( i ộ đ c ố T
λQ
t Trường hợp 1: Hằng số thời gian lớn V(t)
Q/C
t V(t)
Trường hợp 1: Hằng số thời gian bé
𝜆 𝜃 𝑄 𝐶
t
Hình 1.8. Tốc độ tập hợp electron tại anode ống nhân quang (a); Xung áp tại anode trường
hợp θ λ (b) và θ λ (c)
Hình dạng xung tín hiệu điện từ một sự kiện nhấp nháy phụ thuộc vào hằng số thời ≪ ≫
gian của mạch anode. Tốc độ tập hợp electron tại anode bộ nhân quang i(t) được mô tả
trong Hình 1.8a. Xung áp tại anode có thể được biểu diễn bởi phương trình sau:
14
Q
1
–𝜃𝑡
–𝜆𝑡
𝜆–𝜃
(1.8) V(t) =
𝜆 𝐶 �𝑒
� – 𝑒 với λ là hằng số suy giảm nhấp nháy, θ = 1/RC, là nghịch đảo hằng số thời gian anode, Q là
tổng điện tích được tập hợp. Phụ thuộc vào độ dài của hằng số thời gian anode mà ta có thể
có hai trường hợp.
Q
Trường hợp 1: Nếu θ λ thì phương trình (1.8) xấp xỉ
–𝜃𝑡
–𝜆𝑡
(1.9) V(t) = ≪
𝐶 �𝑒
Dưới điều kiện này thì xung V(t) có dạng như trong Hình 1.8b. Đuôi xung suy giảm � – 𝑒
–𝜃𝑡
theo quy luật và vì vậy tốc độ suy giảm phụ thuộc hằng số thời gian mạch anode, RC.
Biên độ xung cực đại là Q/C tương đương với năng lượng của bức xạ tới. Hầu hết các 𝑒
detector nhấp nháy đều dựa trên hệ như thế này bởi vì độ cao xung được tối đa hóa trong
khi sự ảnh hưởng của tín hiệu nhiễu lên độ phân giải năng lượng giảm đáng kể.
λ
Q
Trường hợp 2: Nếu θ λ thì phương trình (1.8) trở thành
–𝜆𝑡
–𝜃𝑡
𝜃
(1.10) V(t) = ≫
𝐶 �𝑒
–𝜆𝑡
� – 𝑒 Như đã thấy trong Hình 1.8c đuôi xung suy giảm theo quy luật và vì vậy mà tốc
độ suy giảm phụ thuộc vào hằng số suy giảm nhấp nháy. Biên độ xung cực đại là λQ/θC, 𝑒
thấp hơn rất nhiều so với trường hợp một. Hệ này thường được áp dụng đặc biệt khi cần
biết thông tin thời gian của xung trong quá trình dò bức xạ.
1.2.3. Tiền khuếch đại
Điện tích được tạo ra trong detector bởi sự tương tác của bức xạ gamma với môi
trường được tập hợp lại bởi bộ phận tiền khuếch đại. Mặc dù tên của bộ phận này là tiền
khuếch đại nhưng chức năng chính không phải khuếch đại mà chỉ là bộ phận nối detector
với bộ khuếch đại và góp điện tích tạo ra bởi sự hấp thụ tia gamma. Nó cung cấp một tổng
trở tải cao cho detector và một tổng trở nguồn thấp cho bộ khuếch đại. Nói chung, tiền
khuếch đại có các kiểu hoạt động khác nhau: nhạy dòng, nhạy thế và nhạy điện tích.
1.2.3.1. Tiền khuếch đại hồi tiếp điện trở
Mạch hồi tiếp
Hằng số thời gian
τ = RfCf
Tín hiệu vào Tín hiệu ra
15
Hì h 1 9 S đồ h ủ iề khối kh ế h đ i hồi iế điệ ở
Sơ đồ mạch của một tiền khuếch đại thông thường được mô tả trong Hình 1.9. Điện
tích từ detector được tụ trên tụ điện Cf trong một khoảng thời gian, tích phân xung điện tích
detector hiệu quả. Khi điện tích được tập hợp, điện áp trên tụ (và cuối cùng tại lối ra tiền
khuếch đại) tăng, tạo ra một sự thay đổi theo bước trong điện áp. Nếu không có thêm ảnh
hưởng nào, điện áp ở lối vào sẽ được giữ ở mức đó. Để cho phép điện tích rò ra khỏi và
chuẩn bị cho xung kế tiếp, thì có một điện trở lớn Rf, gọi là điện trở hồi tiếp, được nối song
song với tụ điện. Loại tiền khuếch đại như vầy gọi là tiền khuếch đại loại hồi tiếp điện trở.
Dạng xung ra có đặc điểm là có thời gian tăng rất nhanh (từ 100 đến 700 nano giây) phụ
thuộc đặc tính tập hợp điện tích của detector và có thời gian phân rã dài (khoảng vài chục
micro giây) phụ thuộc hằng số thời gian của mạch hồi tiếp (τ = RfCf) (xem Hình 1.10).
Thông tin được mang trong xung tiền khuếch đại phụ thuộc bờ tăng của nó, nói cách khác,
một cách lý tưởng thì độ cao của nó tương đương với năng lượng tia gamma được hấp thụ
trong detector.
Thời gian tăng Thời gian giảm
(50 – 150 µs) (0.1 – 0.5 µs)
Không hồi tiếp
p á n ệ i Đ
Có hồi tiếp
p á n ệ i Đ
Thời gian
(a) Định nghĩa về thời gian tăng và giảm của xung; (b) Các dạng bờ tăng thực tế từ một detector 45%
Thời gian Hình 1.10. Hình dạng xung ra từ một tiền khuếch đại hồi tiếp:
16
Tiền khuếch đại hồi tiếp điện trở có hai giới hạn lớn:
- Bởi vì phần đuôi xung có thời gian phân rã dài, xác suất chồng chập xung cao
khi tốc độ đếm chậm. Quan trọng hơn, khi tốc độ đếm cao, mức điện áp DC trung bình tăng
cao, ảnh hưởng tới độ tuyến tính giữa điện tích được tập hợp và độ cao xung.
p á n ệ i Đ
Xung bị méo
Dải động
Thời gian
Hình 1.11. Chồng chập xung tại lối ra của tiền khuếch đại hồi tiếp điện trở
- Điện trở hồi tiếp Rf có nhiễu nội tại (Johnson noise), điều này trở nên nghiêm
trọng đối với các xung có kích thước rất bé. Để giảm thiểu nguồn gốc nhiễu này, giá trị của
Rf được chọn rất cao. Quay lại, điều này có nghĩa thời gian phân rã của xung ra sẽ dài, và
lại ảnh hưởng đến sự chồng chập xung. Về nguyên tắc, có thể giảm thời gian phân rã bằng
cách giảm dung kháng Cf, nhưng làm vậy sẽ ảnh hưởng tới tính chất tuyến tính của tiền
khuếch đại.
Thực tế thì chúng ta mong quá trình tập hợp điện tích xảy ra càng nhanh càng tốt,
điều này bị giới hạn bởi tiền khuếch đại. Đặc điểm kỹ thuật của tiền khuếch đại là xung ra
có phần thời gian tăng, liên quan tới điện dung vào (ví dụ điện dung 30 pF thì thời gian tăng
bé hơn 20 ns). Thật hiệu quả nếu giá trị này rất nhỏ so với thời gian tăng của xung detector,
khi đó thời gian tăng của xung phụ thuộc detector mà không phụ thuộc tiền khuếch đại.
1.2.4. Khuếch đại
1.2.4.1. Chức năng
Mô tả chi tiết quá trình xử lý xung tương tự giúp hiểu về kỹ thuật xử lý xung số
thực hiện các chức năng tương tự như trong xử lý xung tương tự. Các xung đỉnh nhọn tạo ra
từ hệ detector – khuếch đại không phù hợp để tính độ cao xung (lý tưởng nhất là loại xung
tăng dần đến phần đỉnh bằng tương đối rồi giảm nhanh về mức nền – đối nghịch với xung
tiền khuếch đại). Trong bất kỳ trường hợp chồng chập xung nào, là trường hợp không thể
17
tránh khỏi đối với hệ đếm tốc độ cao, cũng cản trở việc đo độ cao xung so với mức điện áp
nền khuếch đại. Điều này được biểu thị trong Hình 1.12, trong hình này có nhiều xung với
độ cao gần bằng nhau, khi xảy ra chồng chập, tạo ra các điện áp đỉnh với độ cao khác nhau.
Chức năng chính của khối khuếch đại là khuếch đại tín hiệu và hình thành dạng
xung tối ưu để thuận tiện cho việc xử lý xung tín hiệu về sau. Trong cả hai mục đích này,
khối khuếch đại phải bảo toàn thông tin được quan tâm (độ cao xung, thời gian đến...).
Tại đây chúng ta bàn luận về chức năng cho ra thông tin độ cao xung (tương
đương với năng lượng của tia gamma bi hấp thụ) từ bờ tăng của xung của bộ khuếch đại.
Chức năng này được thực hiện bởi một bộ lọc điện tử, gọi là tạo dạng xung (shaping). Tạo
dạng xung là chức năng chính của khối khuếch đại, nhưng để hiệu chỉnh được những hệ
quả không mong muốn của quá trình tạo dạng xung, điều làm suy yếu độ phân giải, một bộ
khuếch đại cho phổ độ phân giải cao phải bao gồm chức năng khử cực zero, khôi phục mức
nền và cả loại bỏ chồng chập.
g n u x o a c ộ Đ
Xung tiền khuếch đại
Thời gian
Hình dạng xung lý tưởng cho việc đo độ cao
Hình 1.12. Xung tiền khuếch đại hồi tiếp điện trở chồng chập và xung đã được xử lý
1.2.4.2. Hình thành xung
Hình 1.13 biểu thị, theo thứ tự, sơ đồ mạch của hai bộ lọc cơ bản và ảnh hưởng của
nó lên một xung vào dạng bậc thang. Lúc này, ta có thể xem xung bậc xấp xỉ như bờ tăng
18
nhọn của xung dạng mũ. Bộ vi phân, được xem như một bộ lọc cao tần, chỉ cho phép những
thành phần xung tần số cao truyền qua, chặn lại thành phần DC của xung bậc và kết quả là
xung ra có đỉnh nhọn. Thời gian suy giảm của xung ra được xác định bởi R và C, trường
hợp phổ gamma thì giá trị này từ 1 µs đến 12 µs.
(a) Vi phân (Lọc cao tần) (b) Tích phân (Lọc thấp tần)
(c) Mạch kết hợp CR-RC
Xung vào Sau khi tích phân Sau khi vi phân
Hình 1.13. Ảnh hưởng của bộ lọc lên xung bậc: (a) Vi phân; (b) Tích phân;
(c) Kết hợp tích phân và vi phân
Hình 1.13b là sơ đồ mạch của bộ tích phân, một chuỗi điện trở mắc nối tiếp được
theo sau bởi một tụ điện mắc song song với xung – gọi là bộ lọc thấp tần, chỉ cho phép
truyền qua thành phần tần số thấp của xung. Có thể làm chậm thời gian tăng để điều chỉnh
xung bậc. Tốc độ tăng của xung được xác định bởi giá trị của RC của mạch. Nếu ta đưa tín
hiệu từ lối ra của bộ tích phân vào bộ vi phân, thì xung bậc sẽ chuyển thành một xung ngắn
và bất đối xứng, như được mô tả trong Hình 1.13c. Một xung tiền khuếch đại truyền qua
mạch kết hợp như vậy sẽ được chuyển thành một xung ngắn hơn nhiều (dài vài micro giây
so với hàng trăm micro giây), và dễ dàng xử lý hơn bởi các mạch đo độ cao xung trong bộ
chuyển đổi tương tự sang số. Loại hình thành xung đơn giản như vậy được gọi là hình
thành xung RC (hình thành xung RC dễ dàng kiểm chứng bằng thực nghiệm, sử dụng tụ
điện 0.01 µs và điện trở 100 Ω mắc thành mạch như trong Hình 1.13, khi đó hằng số thời
19
gian τ = RC = 1 µs. Áp một xung vuông từ máy phát xung, một xung đuôi đơn vị hoặc có
thể là xung tiền khuếch đại... vào lối vào và kiểm tra xung ra bằng máy hiện sóng
(Osciloscope).
1.2.4.3. Dạng xung tối ưu
Dạng xung “Nhiễu” tỷ đối
Nhọn (cusp)
Tam giác
Gaussian
CR-nRC
Double CR, RC
Delay line DL, RC
Hình 1.14. Sự đóng góp nhiễu tỷ đối của các dạng xung tích phân khác nhau [6]
Sự ảnh hưởng của nhiễu tín hiệu lên phổ rất quan trọng. Phần này, chúng tôi tìm
hiểu dạng xung nào là lý tưởng cho việc xử lý tín hiệu. Hình 1.14 biểu diễn một số dạng
xung khác nhau cùng với một thông số lý thuyết gọi là “hệ số nhiễu tỷ đối (relative noise)”
mà hệ thống hình thành xung đưa ra. Ở đây chúng tôi không cần đưa ra những giải thích
mang tính toán học, chỉ cần nói rằng, hệ số nhiễu tỷ đối càng nhỏ thì độ phân giải cuối cùng
của hệ càng tốt. Về mặt lý thuyết, dạng xung tối ưu là dạng mũi nhọn (cusp-like) và các
dạng xung giống như thế. Ta không thể tạo ra một xung mũi nhọn hoàn toàn chỉ bằng các
mạch điện thực tế, trong nhiều trường hợp thì dạng xung như thế không thỏa mãn cho bộ
ADC tính độ cao xung bằng dạng xung gốc từ tiền khuếch đại. Mặc dù không thể nào hình
thành dạng xung mũi nhọn bằng mạch tương tự nhưng chúng ta có thể có được bộ lọc mũi
nhọn bằng kỹ thuật xử lý xung số (sẽ được nghiên cứu kỹ trong các chương sau).
20
Hình thành xung tam giác (chỉ gần giống tam giác (quasi – triangular) và xung ra
có dạng tương tự như một tam giác) được sử dụng trong một số bộ khuếch đại hiện đại đặc
tính kỹ thuật cao. Với cung thời gian đỉnh (peaking time), bề rộng xung tam giác như hẹp
hơn xung bán Gaussian.
Những bộ khuếch đại đầu tiên của hệ phổ kế gamma (sử dụng detector nhấp nháy)
sử dụng mạch hình thành xung RC và cho phép điều khiển dạng xung ở lối ra bằng cách
cung cấp một sự điều khiển độc lập với các hằng số thời gian tích phân và vi phân. Tuy
nhiên, lý thuyết đã dự đoán sự đóng của nhiễu thấp nhất là khi các hằng số thời gian tích
phân và vi phân bằng nhau. Trong các bộ khuếch đại hiện đại ngày nay, các hằng số thời
gian hình thành xung được cài đặt bằng nhau và được điều khiển bởi một núm xoay điều
chỉnh (single selector knob).
Hình 1.14 là sự đóng góp nhiễu tỷ đối của các dạng xung tích phân khác nhau.
Mạch hình thành xung RC đơn giản nhất với một mạch vi phân có hệ số nhiễu xấu nhất
(1.36 so với dạng xung mũi nhọn). Nếu một mạch vi phân thứ hai được thêm vào (CR – RC
– RC) thì nhiễu tỷ đối còn 1.22 và về mặt lý thuyết, nếu có vô hạn mạch RC nối tiếp vào
(CR – n(RC)) thì có thể đạt được hệ số nhiễu tỷ đối là 1.12 và con số này bằng với hệ số
trong hệ thống hình thành xung Gaussian và chỉ xấu hơn một chút so với hình thành xung
tam giác. Một xung Gaussian đối xứng thực tế không thể tạo được, chỉ có dạng xung bán
Gaussian (semi – Gaussian), tương đương với dạng xung ra từ mạch đơn tích phân theo sau
bởi hai mạch vi phân (CR – RC – RC).
1.2.4.4. Bộ khuếch đại vi phân cổng
Việc giải thích kỹ hơn về sự tổng hợp điện tích tệ rất đáng được đề cập đến. Trong
Hình 1.15 có hai đồ thị, đường cao hơn là tín hiệu ra từ mạch hình thành xung với hằng số
thời gian dài hơn rất nhiều so với thời gian cần thiết để tập hợp hoàn toàn điện tích. Đường
đồ thị thấp hơn là hình dạng xung thu được với hằng số thời gian thực tế hơn (ngắn hơn).
Độ chênh lệch giữa hai độ cao xung như vậy gọi là độ hụt xung (ballistic deficit). Nếu độ
hụt này là hằng số và tỉ lệ với độ cao xung thì không có vấn đề gì. Nhưng thật không may,
như chúng ta đã biết, nó (độ hụt) biến đổi cùng với thời gian tăng, và có thể có một sự khác
nhau đáng kể trong thời gian tăng của xung. Sự khác nhau trong độ hụt này sẽ dẫn đến độ
phân giải đỉnh phổ xấu hơn.
21
Hình 1.15. Định nghĩa độ hụt xung (ballistic deficit)
Mặc dù điện tích có thể không được tập hợp trong thời gian vi phân hiệu dụng
(effective integrator time) của mạch hình thành xung, do đó đóng góp vào độ cao của đỉnh,
điện tích sẽ tiếp tục được tập hợp trong suốt phần còn lại của chiều dài xung. Do đó, chúng
ta có thể có một xung mà độ cao của nó không biểu diễn điện tích tổng cộng được tập hợp,
mà phần diện tích giới hạn bởi hình dạng xung mới thực sự biểu diễn điện tích tổng cộng
Lối ra vi phân cổng
Độ cao
Lối ra bán Gaussian
g n u x o a c ộ Đ
Trở thành
Diện tích
Thời gian
được tập hợp (xem Hình 1.16).
Hình 1.16. So sánh giữa xung bán Gaussian và xung ra vi phân cổng
22
Lối ra tiền khuếch đại – lối vào bộ tích phân
p á n ệ i Đ
Thời gian
Mạch khử cực zero
Lối ra từ bộ tích phân – lối vào bộ vi phân
Xung ra có bướu âm
Hình 1.17. Hiện tượng bướu âm và mạch khử cực zero
1.2.4.5. Một số khái niệm khác
Tín hiệu ra từ mạch CR – (RC), có một số trường hợp không mong đợi như: bứu
âm, chồng chập, dịch chuyển mức nền... Để khắc phục những tình trạng này, trong kỹ thuật
xử lý xung tín hiệu tương tự, các sơ đồ mạch khá phức tạp (xem Hình 1.17). Nhưng đối với
kỹ thuật xử lý xung tín hiệu số DPP, mọi việc trở nên khá đơn giản vì tín hiệu detector –
tiền khuếch đại được số hóa trực tiếp (chúng tôi bàn luận kỹ hơn trong chương sau).
1.2.5. Bộ phân tích độ cao xung
Tín hiệu ra từ tiền khuếch đại là một chuỗi các xung đã được tạo dạng, ngẫu nhiên về
độ cao và về khoảng cách giữa các xung. Nhiệm vụ của bộ phân tích độ cao xung là đo độ
cao của từng xung và đếm tổng số các xung mà có độ cao thuộc từng khoảng nhỏ điện áp.
Bởi vì độ cao của xung tương ứng với lượng năng lượng được hấp thụ bên trong detector,
nên tập hợp số đếm cho phổ năng lượng tia gamma.
MCA (Multichannel Analyzer) là bộ phân tích đa kênh, để đo phổ năng lượng của
một nguồn bức xạ, nghĩa là ghi nhận lại sự phân bố độ cao xung tín hiệu được tạo ra bởi các
hạt phát ra từ nguồn. MCA hoạt động theo hai dạng: phân tích độ cao xung (PHA) và đếm
số sự kiện (MCS). Chức năng đếm xung, các kênh riêng lẻ của bộ nhớ đếm tất cả các xung 23
tới trong khoảng thời gian được cài đặt trước Δt, sau khi hết thời gian Δt, công đoạn đếm tự
động tắt và chuyển sang kênh tiếp theo của bộ nhớ. Chức năng cơ bản đo độ cao xung, chọn
ra các xung đến theo độ cao của chúng và lưu lại số các xung của một độ cao riêng biệt vào
trong một địa chỉ của bộ nhớ MCA, gọi là số kênh.
Cách đơn giản nhất đo phổ gamma là sử dụng bộ phân tích đơn kênh SCA (Single
Channel Analyser) như được mô tả trong Hình 1.18. Bộ SCA có hai ngưỡng điện: Phân biệt
dưới (Lower level discriminator) tại H1, những xung dưới ngưỡng này không truyền qua, và
phân biệt trên (Upper level discriminator) tại H2, các xung trên ngưỡng này bị chặn lại. Các
xung có độ cao thuộc khoảng giữa hai giới hạn này được phép truyền qua, và ứng với mỗi
xung được truyền qua tạo ra một xung ra logic. Ta có thể tưởng tượng rằng, nếu cửa sổ –
khoảng điện áp giữa H1 và H2 – được tạo ra đủ nhỏ, chúng ta có thể di chuyển cửa sổ một
cách tăng dần qua dãy năng lượng, dừng lại tại mỗi điểm để đếm số các xung. Tại mỗi thời
g n u x o a c ộ Đ
điểm, các xung không nằm trong vùng cửa sổ, được xem như bị mất.
Thời gian
Hình 1.18. Một SCA với hai mức ngưỡng trên và dưới xác định một “cửa sổ”
Lưu ý rằng, tất cả các Bộ phân tích đa kênh MCA, đều có SCA để loại bỏ các xung
có mức năng lượng thấp dưới ngưỡng LLD và cao trên ngưỡng ULD.
Về nguyên tắc, độ cao xung (năng lượng) và số kênh phải tuyến tính một cách chính
xác, kể từ mức zero. Trong thực tế, mặc dù chúng ta dễ dàng biểu diễn mối liên hệ này bởi
một đường thẳng, nhưng rất có khả năng đường thẳng này không đi qua gốc. Nếu cần thiết,
24
người ta dùng ADC zero offset, có chức năng điều chỉnh sự hiệu chỉnh năng lượng, cho nó
qua 0 keV. Nói chung, đường thẳng này được đặc trưng bởi độ dốc và phần mặt phẳng bị
chắn bởi nó – trong thực tế, đây là sự hiệu chỉnh năng lượng của phổ kế. Sự thay đổi hệ số
khuếch đại và hằng số thời gian có thể làm thay đổi các độ cao xung, kéo theo sự thay đổi
g n u x o a c ộ Đ
độ dốc của đường tuyến tính độ cao xung/ số kênh (xem Hình 1.19).
Sau khi tăng độ khuếch đại
Số kênh
Hình 1.19. Đáp ứng lý tưởng của một MCA, chỉ rõ ADC zero offset và ảnh hưởng
của sự tăng độ khuếch đại
Bộ chuyển đổi tương tự sang số ADC có chức năng đo biên độ của tất cả các tín hiệu
tương tự đến (tín hiệu điện thế) và chuyển chúng thành tín hiệu số. Một ADC có độ phân
giải 8 bit và có khoảng thế hoạt động 1000 mV thì tương ứng 256 số đếm (kênh theo điện
thế) hay 4 mV chuyển đổi thành số đếm là 1. Ví dụ: một tín hiệu vào có biên độ 340 mV sẽ
được chuyển sang tín hiệu số có giá trị là 85, 1000 mV thành 256. Ngưỡng điện thế của
ADC càng lớn thì khả năng phân biệt các tín hiệu nhỏ càng chính xác. Đối với hệ xử lý
xung tín hiệu số, bộ chuyển đổi tương tự sang số sử dụng cho MCA là Flash – ADC, là bộ
chuyển đổi nhanh nhất. Như một dạng của một số lượng lớn các SCA, việc đo độ cao xung
được thực hiện liên tục. Ngoại trừ sự phức tạp trong thuật ngữ của các kênh thành phần –
một n-bit ADC cần 2n – 1 SCA đơn – và cần một lượng năng lượng lớn hơn nhiều so với
các ADC khác, thì bất lợi lớn của flash ADC là độ phân giải bị giới hạn từ 8 tới 10 bit,
tương đương từ 1 tới 2000 kênh. Không chỉ số hóa độ cao xung, flash ADC có thể số hóa
25
các phần bờ tăng và giảm của xung tín hiệu. Do đó, có thể áp dụng các giải thuật toán để xử
lý xung dễ dàng hơn nhiều so với xử lý xung tín hiệu tương tự.
1.2.6. Độ phân giải năng lượng
Độ phân giải năng lượng của detector nhấp nháy nói chung là tốt hơn detector bán
dẫn. Bề rộng ở một nữa giá trị cực đại của đỉnh phổ năng lượng (FWHM) (full width at half
maximum) được định nghĩa như bề rộng của phân bố tại tọa độ bằng một nữa độ cao cực
đại của đỉnh, với điều kiện tất cả phông nền đã được loại bỏ. độ phân giải năng lượng của
detector được định nghĩa là tỷ số của Γ (FWHM) và vị trí đỉnh E0. Độ phân giải năng lượng
𝛤
𝐸0
là đại lượng không thứ nguyên và được diễn tả theo % năng lượng tại đỉnh, là R, bằng .
Đối với những đỉnh có dạng Gauss, độ lệch chuẩn σ, thì FWHM là 2,35σ (xem Hình
1.20)
Phổ nguồn
Sự phân bố độ cao xung
Hình 1.20. Độ phân giải năng lượng xác định bởi độ rộng nữa đỉnh và tỉ số Γ/E0
1.3. Sơ đồ hệ phổ kế hiện đại
Đối với một hệ phổ kế gamma truyền thống, tín hiệu tương tự từ tiền khuếch đại sẽ
được đưa vào bộ khuếch đại để khuếch đại và tạo dạng xung (thường là hình thành dạng
xung Semi-Gaussian). Xung tín hiệu tạo thành được số hóa nhờ bộ chuyển đổi tín hiệu
tương tự sang số ADC, sau đó được chuyển vào bộ phân tích và ghi nhận. Đối với một hệ
phổ kế gamma số hiện nay, khác với hệ phổ kế truyền thống, tín hiệu từ hệ detector – tiền
26
khuếch đại được số hóa trực tiếp nhờ bộ Flash-ADC và quá trình xử lý tín hiệu số thay thế
Năng lượng
Số đếm
Interface
Thời gian
Flash ADC
DPP
DETECTOR – Tiền khuếch đại
Hình dạng
cho quá trình xử lý tín hiệu tương tự. Hình 1.21 mô tả hệ phổ kế số hiện đại.
Hình 1.21. Sơ đồ hệ phổ kế số hiện đại
27
CHƯƠNG 2: KỸ THUẬT XỬ LÝ XUNG TÍN HIỆU SỐ DPP
2.1. Kỹ thuật xử lý xung tín hiệu số DPP [15]
Từ những năm đầu thập niên 90, sự phát triển của bộ chuyển đổi tương tự sang số
ADCs với độ phân giải số cao đã cho phép mở ra một triển vọng mới trong kỹ thuật xử lý
số các xung ra từ detector. Bấy giờ nhiều hệ phổ kế số được thiết kế sẵn trên thị trường kết
hợp phương pháp xử lý số thay thế phương pháp tương tự truyền thống, các hệ phổ kế này
đã chứng tỏ được những lợi thế quang trọng vượt hơn hệ phổ kế truyền thống. Cho đến thời
điểm hiện tại kỹ thuật DPP đã được phát triển rộng rãi trong nhiều phòng thí nghiệm trên
thế giới áp dụng vào đo bức xạ hạt nhân.
DPP (Digital Pulse Processing) là kỹ thuật xử lý xung tín hiệu số mà tín hiệu từ hệ
detector - tiền khuếch đại được số hóa trực tiếp và được xử lý để cho ra các thông tin về
năng lượng, thời gian đến,...của bức xạ. Các giải thuật số thay thế cho hệ mạch điện thời
gian và hình thành xung tương tự. Các lợi ích của kỹ thuật DPP là do tính linh hoạt trong
việc thực thi các giải thuật, một board mạch có thể thực hiện được nhiều chức năng.
Có nhiều giải thuật DPP như: Phân tích độ cao xung cho thông tin năng lượng (Pulse
Height Analysis); Tích phân điện tích cho thông tin vị trí đỉnh và điện tích (Charge
Integration); Đo thời gian cho thông tin thời gian đến (Time Measurement)... Trong giới
hạn đề tài này, chúng tôi nghiên cứu phát triển giải thuật DPP phân tích độ cao xung suy ra
thông tin năng lượng mà hạt để lại trong detector.
Trong các hệ phổ kế số hiện nay, chức năng tính toán năng lượng (độ cao xung) được
thực hiện bởi vai trò của Bộ lọc Hình thang, có thể mô tả ngắn gọn bộ lọc này như là một
bộ lọc có khả năng chuyển tín hiệu suy giảm dạng mũ được tạo ra bởi tiền khuếch đại nhạy
điện tích thành dạng hình thang đối xứng. Dạng xung hình thang hình thành có phần đỉnh
bằng mà độ cao của nó tương đương với biên độ tín hiệu vào (tương đương với năng lượng
mà bức xạ gamma để lại trong detector) (xem Hình 2.1).
28
Đỉnh bằng
Độ cao = Năng lượng Bờ tăng
HÌNH THANG
VỊ TRÍ ĐỈNH
Hình 2.1. Xung hình thang với độ cao phần đỉnh bằng mang thông tin năng lượng
2.2. Xử lý xung tín hiệu phân tích độ cao xung [4],[8],[9],[10],[11]
2.2.1. Sự tổng hợp của các xung hình thang và xung tam giác
Trong các hệ phổ kế nói chung, tín hiệu ra từ hệ detector – tiền khuếch đại được
truyền qua mạch lọc sơ bộ (mạch khử cực zero, mạch vi phân CR) tạo ra một xung với thời
gian tăng ngắn được theo sau bởi đuôi mũ dài. Trong phần nghiên cứu dưới đây, chúng tôi
giả sử loại tín hiệu vào này có biên độ chuẩn hóa bằng một và hằng số thời gian suy giảm là
τ, đồng thời thời gian tăng của xung là rất ngắn. Hình 2.2 phát thảo một xung vào dạng mũ
) h n ê k ( ộ đ n ê i B
Thời gian (bin x 2048 ns) Hình 2.2. Xung vào dạng mũ
điển hình.
Cần phát triển một giải thuật chuyển xung mũ vào này thành một xung ra có dạng
hình thang đối xứng. Đầu tiên chúng tôi sẽ phân tích trong miền thời gian liên tục, sau đó
áp dụng kết quả vào miền thời gian gián đoạn.
Tín hiệu ra s(t) của hệ tuyến tính bất biến thời gian được cho bởi tích phân tích chập
s(t) = (2.1)
+∞ −∞ ∫
29 𝜈(𝑡′)ℎ(𝑡 − 𝑡′)𝑑𝑡′
với ν(t) là tín hiệu vào và h(t) là đáp ứng xung của hệ. Đối với xử lý tín hiệu thời gian thực,
tín hiệu ra tại một thời điểm cho trước chỉ phụ thuộc vào những giá trị của tín hiệu vào tính
từ thời điểm hiện tại trở về trước. Do đó cận trên của tích phân trong phương trình (2.1) có
thể được giới hạn tại thời điểm t. Mục đích của chúng tôi là tìm ra một hệ nhân quả (causal
function) với đáp ứng xung hạn định mà khi được sử dụng vào phương trình (2.1) sẽ cho
kết quả là chuyển một tín hiệu vào dạng mũ thành tín hiệu ra dạng bậc thang. Hàm tích
chập phải đơn giản và thực tế dễ thực hiện.
2.2.2. Sự tích chập với hàm chữ nhật và hàm dốc cụt (rectangular and truncated
ramp functions)
Trước tiên chúng ta xét một hệ với đáp ứng xung chữ nhật đơn giản, gọi là hệ trung
bình động (moving average system). Hình 2.3b mô tả một hàm chữ nhật đơn vị. Đáp
ứng ra của hệ trung bình động đối với một tín hiệu vào dạng mũ (Hình 2.3a) được biểu
diễn trong Hình 2.3c. Kết quả của phép tích chập của một tín hiệu dạng mũ với một
hàm chữ nhật đơn vị được mô tả trong phương trình sau:
′
(𝑡
−𝑡)/𝜏
p(t) = = (1 ), 0 t (2.2) T2
−𝑡/𝜏 (
′
(𝑡
−𝑡)/𝜏
𝑇2/𝜏
𝑡 0 ∫ 𝑒 𝑇2 0 ∫ 𝑒
𝑑𝑡′ ≤ ≤ p(t) = 𝜏 = ) (2.3) −𝑒 −𝑡/𝜏 Đáp ứng của hệ bằng không khi t < 0. Chú ý rằng các số hạng phụ thuộc thời gian trong 𝑑𝑡′ 𝜏𝑒 𝑒 − 1
phương trình (2.2) và (2.3) biểu diễn tín hiệu mũ. Một đặc điểm quan trọng của tín hiệu
ra là, khi đạt đến cực đại nó suy giảm với cùng hằng số thời gian của tín hiệu vào.
𝜏
30
a)
−
𝑡 𝜏
1 - t ≤ 0 ν(t) = t ≥ 0 0 � 𝑒 t
0 t < 0 b) (t) = 1
0 ≤ t ≤ t> 0 1 � ℎ2 𝑇2 𝑇2
t
𝑇2 c)
p(t) = ν(t) * (t)
ℎ2
Hình 2.3. Tích chập tín hiệu vào dạng mũ (a) với hàm đáp ứng chữ nhật (b)
và đáp ứng ra của hệ (c)
t
Một hàm tích chập đơn giản khác là hàm dốc cụt (hàm răng cưa). Hình 2.4b mô tả
một hàm dốc cụt với khoảng thời gian T1. Đáp ứng của hệ này đới với một tín hiệu mũ
(Hình 2.4a) được miêu tả trong Hình 2.4c. Đáp ứng ra của hệ này được cho bởi
′
(𝑡
−𝑡)/𝜏
′
−𝑡/𝜏
r(t) = = t (1 ), 0 t T1 (2.4)
2 (
(2.5)
′
−𝑡)/𝜏
(𝑡
𝑇1/𝜏 Đáp ứng của hệ bằng không khi t < 0. Trong phương trình (2.4) có hai số hạng phụ
𝑡 0 ∫ 𝑡 𝑇1 0 ∫ 𝑡
𝑑𝑡′ −𝑒 ≤ ≤ 𝜏 = r(t) = (T1 – τ)), t > T 𝑒 ′ 𝜏 − −𝑡/𝜏 𝑒 𝑑𝑡′ 𝜏𝑒 𝜏 + 𝑒
thuộc thời gian, một là tuyến tính và một là mũ.
2.2.3. Đáp ứng xung của sự hình thành xung hình thang
Tiếp theo chúng ta sẽ khảo sát điều kiện tổng hợp dạng xung bậc thang có phần đỉnh
bằng. Từ hàm r(t) và p(t) được xác định ở trên, xét hàm f(t) được định nghĩa như sau
(2.6) f(t) = r(t) + τ p(t) + a p(t–T1),
với a là một tham số. Giả sử rằng T1< T2. Hơn nữa, để đơn giản việc tính toán, hàm mô tả
tín hiệu ra của hệ trong khoảng thời gian cho trước sẽ được chia ra sử dụng hai chỉ số đầu
31
và cuối của khoảng này, chẳng hạn f01(t) kí hiệu hàm f(t) khi 0 ≤ t ≤ T1, f12(t) kí hiệu hàm f(t)
khi T1 ≤ t ≤ T2. Sử dụng quy ước này và định nghĩa thời điểm T3 = T1 + T2, thì phương trình
(2.6) được viết lại như ba phương trình riêng biệt như sau:
(2.7) f01(t) = τt
2
−𝑡/𝜏
(1 ) + (τ + (1 ) f12(t) = (T1 – τ)) + a
−𝑡/𝜏 + τ
−(𝑡 – 𝑇1)/𝜏
𝑇1/𝜏 (T1 – τ – a),
2
𝑒 𝜏 −𝑒 −𝑒 + a (2.8) 𝜏 =
−(𝑡 – 𝑇1)/𝜏
−𝑡/𝜏
𝑇1/𝜏 Phương trình (2.7) miêu tả đường dốc tăng tuyến tính của hình dạng bậc thang mong
(τ + ) (2.9) 𝜏𝑒 −(𝑡 – 𝑇1)/𝜏 ) + (T1 – τ)) + aτ(1– f23(t) = 𝜏 2 𝜏 ( −𝑡/𝜏 𝑒 𝑇2/𝜏 𝑒 – 1 𝜏𝑒 𝜏 𝑒 𝑒 𝑒
muốn. Bước tiếp theo nữa là tìm điều kiện để hàm f(t) không đổi trong khoảng T1 ≤ t ≤ T2.
Điều kiện này có thể được xác định từ phương trình (2.8). Vì hàm f12(t) độc lập với thời
gian nên bắt buộc T1 – τ – a = 0 hay a = T1 – τ. Với trường hợp a = T1 – τ thì phương trình
(2.8) và (2.9) được viết lại như sau:
(2.10) f12(t)= T1τ
2
−(𝑡 – 𝑇2)/𝜏
(2.11) f23(t) = + τ(T1 – τ)
Trong các phần còn lại của phép phân tích này, vẫn giả sử a = T1 – τ. Nếu dạng xung 𝜏 𝑒
bậc thang là đối xứng thì tín hiệu phải suy giảm về không tại thời điểm T3 = T1 + T2. Đáp
ứng của hệ được viết như sau:
s(t) = f(t) + q(t) (2.12)
với q(t) là một hàm đặc biệt làm cho hàm s(t) trở thành hàm bậc thang đối xứng theo định
nghĩa sau:
= 0 (2.13)
= τt (2.14) 𝑠−∞0(𝑡)
(2.15) = T1τ 𝑠01(𝑡)
(2.16) = T1τ – τ(t – T2) 𝑠12(𝑡)
= 0 (2.17) 𝑠23(𝑡)
𝑠3∞(𝑡)
32
a)
1
0 τ ΔT τ t
b)
2τ τ
0 t
-τ
2
c)
𝜏
Hình 2.4. Tích chập tín hiệu vào dạng mũ (a) với đáp ứng xung hình
thang (b) và đáp ứng ra của hệ (c)
t 0
Đáp án hàm q(t) có thể tìm được từ phương trình (2.7) và từ phương trình (2.10) đến
phương trình (2.17). Kết quả đó là q(t) = 0 trong khoảng thời gian – T2, và trong
miền thời gian còn lại q(t) được định nghĩa như sau: ∞ ≤ 𝑡 ≤
2
−(𝑡 – 𝑇2)/𝜏
(2.18) q23(t) = –
2
−(𝑡 – 𝑇2)/𝜏
�𝜏(𝑡 – 𝑇2) − 𝜏 (1 – 𝑒 )� (2.19) = –
� �𝜏 𝑒 𝑞3∞(𝑡) Từ các phương trình (2.4), (2.5) và (2.18), (2.19) chứng tỏ rằng q(t) có dạng giống
r(t) nhưng có chiều ngược lại và trễ một khoảng thời gian T2:
(2.20) q(t) = –r(t – T2)
Như vậy, một hệ với thuộc tính chuyển đổi một dạng mũ sang dạng bậc thang đã
được xác định xong. Trong trường hợp T1 = T2 dạng bậc thang biến đổi thành dạng tam
33
giác. Lưu ý rằng bằng những điều kiện và phép đặt khác ta cũng thu được một dạng hình
thang bất đối xứng, tuy nhiên, xung hình thang đối xứng được xem như tổ hợp xung tối ưu
đối cho tỉ số tín hiệu trên nhiễu tốt trong phép đo độ cao xung. Từ thuộc tính của các phép
tích chập, đáp ứng xung của hệ có thể viết lại là:
(2.21) h(t) = h1(t) + τ h2(t) + (T1 – τ) h2(t – T1) – h1(t – T2)
với h1(t) và h2(t) lần lượt là các đáp ứng xung của hệ răng cưa và hệ trung bình động. Đáp
ứng xung của hệ hình thành xung hình thang được mô tả trong Hình 2.4 với T1 = τ. Đáp ứng
xung hình thang được tổng hợp từ các hàm đơn giản và phù hợp với việc thực hiện trên tín
hiệu số.
2.2.4. Số hóa hình thành xung hình thang
Giả sử một tín hiệu vào suy giảm dạng mũ được lấy mẫu tại những khoảng thời gian
giống nhau. Trong các phép tính toán dưới đây, thời gian được chuẩn hóa theo đơn vị của
khoảng lấy mẫu. Tín hiệu vào tại thời điểm i được viết là ν(i). Bước đầu tiên trong phép
tổng hợp là thực hiện tích chập tín hiệu vào đã được lấy mẫu với một hàm chữ nhật.
34
k’
a)
k
t k
b)
k
t k
c) k
k’
t k – k’ – 1
Hình 2.5. Đáp ứng xung của hệ dốc cụt tương ứng với các giá trị khác
nhau của tham số trễ k’: k’ > k (a); k’ = k (b); k’ < k (c)
k
Bởi vì sự tích chập yêu cầu phải thực hiện trong thời gian thực nên sẽ thuận tiện nếu
sử dụng giải thuật tích chập đệ quy. Dạng đệ quy của hệ trung bình động được cho như sau:
𝑛 𝑖=0
p(n) = – ν(i – l)
hay ∑ 𝜈(𝑖)
p(n) = p(n – 1) + ν(n) – ν(n – l), n 0 (2.22)
với ν(n) là mẫu tức thời tại thời điểm n và ν(n – l) là mẫu tức thời tại thời điểm trễ hơn thời ≥
điểm n một khoảng l. Chúng tôi sẽ định nghĩa l là chiều dài của hàm tích chập.
Các điều kiện đầu được áp đặt sẽ xác định độ lệch của tín hiệu ra, thường thì yêu cầu
độ lệch băng không, vì vậy mà điều kiện đầu là:
ν(n) = 0 , n < 0 (2.23)
Điều kiện này được áp dụng cho các giải thuật đệ quy được thảo luận sau đây.
35
Bước tiếp theo là xác định một giải thuật đệ quy cho tích chập hàm răng cưa. Một
lần nữa giả sử rằng đoạn bờ dốc bằng một. Dưới những điều kiện này, dạng đệ quy của
phép tích chập có thể được viết như sau:
𝑖 𝑗=0
r(n) =
𝑛 𝑖=0 ∑ �∑
hay � 𝜈(𝑗) − 𝜈(𝑗 − 𝑘) − 𝜈(𝑖 − 𝑘′)𝑘
r(n) = r(n – 1) + p(n) – ν(n – )k , n 0 (2.24)
là tham số trễ. Ba đáp Ở đây p(n) biểu diễn hàm trung bình động với độ dài k, và 𝑘′ ≥
ứng xung khác nhau có thể thu được phụ thuộc vào sự lựa chọn giá trị của k , như được mô
tả trong Hình 2.5. Đối với hình thành xung hình thang thì 𝑘′ bằng k.
Sự đáp ứng của hình thành xung hình thang đã đề cập ở trên trong miền thời gian 𝑘′
liên tục có thể được viết dưới dạng giải thuật đệ quy trong miền thời gian gián đoạn. Giả sử
rằng hằng số thời gian suy giảm của tín hiệu xung mũ bằng M. Thời gian tăng của dạng
xung hình thang là k và thời gian đoạn đỉnh bằng là m = l – k. Từ phương trình (2.21), đáp
ứng của hệ có thể viết lại là:
s(n) = r(n) + Mp(n) + (k – M)p(n – k) – r(n – l) (2.26)
Từ phương trình (2.22) và phương trình (2.24) đáp ứng của hệ có thể được viết lại theo hàm
mũ của tín hiệu vào như sau:
𝑛 𝑖=0
𝑖 𝑗=0
𝑛 𝑖=0
s(n) = + M
∑ [𝜈(𝑖) − 𝜈(𝑖 − 𝑙)] – + (k – M)
𝑛 𝑖=0
𝑖 𝑗=0
∑ ∑ [𝜈(𝑗) − 𝜈(𝑗 − 𝑘)] − 𝜈(𝑖 − 𝑘)𝑘 𝑛 𝑖=0 (2.27) ∑ ∑ [𝜈(𝑗 − 𝑙) − 𝜈(𝑗 − 𝑘 − 𝑙)] − 𝜈(𝑖 − ∑ [𝜈(𝑖 − 𝑘) − 𝜈(𝑖 − 𝑙 − 𝑘)]
𝑘 − 𝑙)𝑘
Đặt
(2.28) dk,l(j) = ν(j) – ν(j – k) – ν(j – l) + ν(j – k – l)
Thế phương trình (2.28) vào phương trình (2.27) ta có:
𝑘,𝑙
𝑖 𝑗=0 Dạng đệ quy của phương trình (2.2.29) là:
𝑛 𝑖=0 ∑ ∑
s(n) = + dk,l(i)M (2.29)
𝑑 (𝑗)
s(n) = s(n – 1) + p’(n) + dk,l(n)M , n 0 (2.30)
với ≥
36
p’(n) = p’(n – 1) + dk,l(n),
n 0 (2.31)
Phương trình (2.30) và (2.31) định nghĩa một giải thuật đệ quy tạo dạng xung hình thang ≥
đối xứng từ dạng xung tín hiệu mũ. Khi k = l đáp ứng của hệ cho kết quả là dạng xung tam
giác cân.
Giải thuật đệ quy chuyển xung vào dạng mũ thành xung ra hình thang có thể được
tóm tắt như sau:
dk,l(n) = v(n) – v(n – k) – (n – l) + v(n – l – k) (2.32)
(2.33) p(n)
r(n) = p(n – 1) + dk,l(n) = p(n) + M dk,l(n) (2.34)
s(n) = s(n – 1) + r(n) (2.35)
trong đó v(n) là tín hiệu vào dạng mũ; s(n) là tín hiệu ra dạng bậc thang; v(n), p(n) và s(n)
bằng 0 khi n < 0, với n là chỉ số thời gian được số hóa; M chỉ phụ thuộc vào hằng số thời
gian suy giảm của xung mũ và chu kỳ lấy mẫu Tclk của bộ số hóa và được cho bởi:
𝜏 𝑇𝑐𝑙𝑘 − 0.5
τ (2.36)
1 𝑇𝑐𝑙𝑘 𝜏 −1 ≈
𝑒
𝑀 = Thời gian tăng của xung bậc thang đối xứng được cho bởi giá trị nhỏ hơn của k và l
(min(k, l)) và thời gian của phần đỉnh bằng của xung bậc thang được cho bởi trị tuyệt đối
hiệu của k và l (m = abs(k – l) là thời gian phần đỉnh bằng).
Phương trình (2.32) có thể được biểu diễn dưới dạng một hệ quả của hai quá trình
đồng nhất, gọi là khối trễ - trừ (delay-subtract) (xem Hình 2.6), được cho bởi hệ phương
trình sau:
dk(n) = v(n) – v(n – k) (2.37)
(2.38) dk,l(n) = dk(n) – dk(n – l)
Tín hiệu vào Tín hiệu ra
+ Trễ 𝛴 − Hình 2.6. Sơ đồ khối delay-subtract
Phương trình (2.33) và (2.34) có thể được biểu diễn bằng sơ đồ khối như trong Hình
2.7.
M
+
X ν(n) Mν(n) 37
ACC 𝛴
p(n)
+ Hình 2.7. Sơ đồ khối HPD (High-Pass Network)
HPD
DS2
DS1
m1
X
dk,l(n)
dk(n)
Sơ đồ khối hình thành xung hình thang được biểu diễn trong Hình 2.8 như sau:
r(n)
ACC2
+
+
Trễ [l]
+
Trễ [k]
s(n)
𝛴
p(n)
𝛴
−
−
+
X ACC1 m2
ν(n)
𝛴
Hình 2.8. Sơ đồ khối hình thành xung hình thang
Khối hợp nhất cuối cùng của bộ hình thành xung hình thang là bộ chồng chập, bộ
này thực thi hoạt động được mô tả trong phương trình (2.35). Nếu tín hiệu vào là hàm bậc
(step function) thì khối HPD (the high-pass filter deconvolver) được bỏ qua. Trong trường
hợp này, tín hiệu sau khi qua hai khối DS (delay-subtract) sẽ được đưa trực tiếp vào khối
ACC (accumulator). Để bộ xử lý có thể cho phép cả tín hiệu bậc và tín hiệu mũ thì khối
HPD trong Hình 2.7 được thay thế bằng khối HPD như trong Hình 2.8. Số liệu vào bộ nhân
và bộ chồng chập – nhân được nhân với lần lượt hai hệ số m1 và m2.. Khi tín hiệu vào ν(n) là
dạng xung mũ thì m1/m2 = M, trong đó m2 là thông số xác định sự khuếch đại hình dạng
xung và M cho bởi phương trình (2.36). Khi tín hiệu vào ν(n) là dạng xung bậc thì hệ số
nhân m2 bằng không và hệ số khuếch đại được quy định bởi m1. Dựa vào sơ đồ Hình 2.8,
viết lại hệ phương trình hình thành xung ra dạng hình thang trong khi xung vào dạng mũ
hoặc dạng bậc như sau:
= v(n) – v(n – k) (2.32a)
dk(n) dk,l(n) = dk(n) – dk(n – l) (2.32b)
p(n) (2.33a)
r(n) (2.34a) = p(n – 1) + m2dk,l(n) = p(n) + m1dk,l(n)
= s(n – 1) + r(n) (2.35a) s(n)
2.2.5. Một số giải thuật đệ quy khác
Các giải thuật đệ quy được mô tả trong phần trước cho phép nhiều dạng xung khác
nhau được tổng hợp trong thời gian thực. Khi hằng số thời gian suy giảm của xung mũ có
thể so sánh được với chiều dài hàm tích chập thì phương pháp được mô tả ở trên cho tín 38
hiệu hình thang có thể được áp dụng nhưng với kết quả rất khác nhau. Với sự lựa chọn các
tham số riêng, ta có thể thu được các dạng xung mũi nhọn hữu hạn và xung mũi nhọn bị
cụt. Trong phần này chúng tôi sẽ xét một trường hợp khác, trong đó xung mũ có hằng số
thời gian suy giảm rất dài và có thể xem như xung bậc (bậc thang). Xung này có được khi
tín hiệu ra từ tiền khuếch đại nhạy điện tích được số hóa trực tiếp. Giả sử xung vào là xung
dạng bậc. Sử dụng hàm tích chập chữ nhật sẽ thu được đáp ứng hình thang hoặc tam giác.
Trong khi đó dạng xung mũi nhọn hoặc mũi nhọn cụt có thể thu được nhờ áp dụng các giải
thuật đệ quy trong phương trình (2.24).
Bảng 2.1 Các giải thuật đệ quy và đáp ứng ra tương ứng đối với tín hiệu vào dạng mũ
Xung vào ν(n) Thuật toán đệ quy Tham số trễ l Xung ra s(n)
s(n) = s(n – 1) + ν(n) –
2k m
2 ν(n – k) + ν(n – 2k)
s(n) = s(n – 1) + ν(n) –
ν(n – k) – ν(n – l) + ν(n l = 2k + m
2k + m
– l – k)
p(n) = p(n – 1) + ν(n) –
ν(n – l)
2k + 1
l = 2k + 1 s(n) = s(n – 1) + p(n) –
ν(n – k)l
p(n) = p(n – 1) + ν(n) –
ν(n – k) + ν(n – l) – ν(n
– l – k)
l = k + m s(n) = s(n – 1) + p(n) –
2k + m
[ν(n – k) + ν(n – l)]k –
ν(n – l) + ν(n – l – k)
Các thuật toán đệ quy chuyển xung vào dạng mũ thành xung ra dạng mũi nhọn được
viết như sau:
dk[n] = v[n]- v[n-k] (2.39)
39
d1[n] = v[n] - v[n - 1] (2.40)
(2.41) p[n] = p[n - 1] + dk[i] - kd1[n-l]
(2.42) q[n] = q[n-1] + m2p[n]
(2.43) s[n] = s[n - 1] + q[n] + m1p[n]
trong đó l = 2k + 1. Bảng 2.1 mô tả giải thuật và dạng xung được hình thành tương ứng khi
xung vào là xung bậc.
2.3. Khôi phục mức nền (baseline restoration)
Trong các hệ thống xử lý xung số, quá trình khôi phục mức nền được thực hiện bằng
cách tính trung bình cộng mức nền của các xung, sau đó lấy giá trị biên độ của mỗi xung trừ
đi giá trị xấp sỉ tính được. Mức nền có thể được ước lượng độc lập với từng xung hoặc với
hàng loạt xung.
40
CHƯƠNG 3: KHẢO SÁT MỐI LIÊN HỆ GIỮA XUNG DẠNG MŨ
VÀ XUNG HÌNH THANG
3.1. Khảo sát dạng xung hình thang theo các tham số DPP
Quá trình hình thành xung tín hiệu một từ đầu dò bức xạ có thể được xem là quá trình
“lọc” (filtering). Hầu hết các quá trình hình thành xung bao hàm “bộ lọc bất biến tuyến tính
thời gian” (“linear time – invariant filters”) [8]. Do đó để chắc chắn bộ lọc hình thang cũng
thỏa mãn đặc tính bất biến tuyến tính thời gian này, chúng tôi tạo ra các xung vào dạng mũ
giống như các xung tín hiệu detector – tiền khuếch đại và sử dụng giải thuật DPP chuyển
các xung này sang các xung ra hình thang. Bằng cách cố định một trong các tham số DPP
Xung vào dạng mũ
Xung ra dạng hình thang
) h n ê k ( a r g n u x o a c ộ Đ
) h n ê k ( o à v g n u x ộ đ n ê i B
Thời gian (bin x 2048 ns)
và thay đổi hai tham số còn lại, chúng tôi khảo sát hình dạng và độ cao xung ra.
Hình 3.1. Xung vào dạng mũ mô phỏng và xung ra hình thang tương ứng Xung vào được giả định theo hàm ν(t) = A.e-t/τ có thời gian tăng bằng zero và đuôi
xung dạng mũ với hằng số thời gian suy giảm τ bằng 60 µs, các giá trị biên độ xung A lần
lượt là 80, 100, 150, 200, 220 (kênh). Hình dạng xung hình thang tương ứng với xung mũ
được mô tả trong Hình 3.1. Cần nhắc lại, k là thời gian tăng, m là phần đỉnh bằng (m = l –
k), m2 là hệ số khuếch đại. Ký hiệu bề rộng xung là Tw = k + l.
3.1.1. Cố định bề rộng xung Tw, thay đổi k và m
Cố định bề rộng xung 40 µs, thay đổi giá trị của hoặc k và m. Xung ra hình thang có
hình dạng thay đổi như trong Hình 3.2. Bảng 3.1 là giá trị của (Tw, k, m2) và độ cao xung
hình thang tương ứng.
41
60000
50000
40000
Xung vào dạng mũ Xung ra hình thang k = 14, Tw = 40 Xung ra hình thang k = 12, Tw = 40 Xung ra hình thang k = 16, Tw = 40 Xung ra hình thang k = 10, Tw = 40
30000
20000
10000
) h n ê k ( o a c ộ Đ
0
0
10
20
40
50
70
80
30 60 Thời gian (bin x 2048 ns)
Hình 3.2. Hình dạng xung hình thang trường hợp cố định Tw, thay đổi k và m
k(µs)
Độ cao xung (bin)
m2(µs) Tw(µs)
10
33040
30050
22476
14967
11980
J
12
39648
36055
26957
17953
14363
K
1
40
14
46244
42065
31457
20942
16766
L
16
52851
48045
35942
23931
19157
M
Bảng 3.1 Độ cao xung ra và tham số DPP trường hợp cố định l, thay đổi k và m
3.1.2. Cố định thời gian tăng k, thay đổi m và Tw
Cố định thời gian tăng 15µs, thay đổi giá trị của m và Tw. Hình dạng xung ra hình
thang thay đổi như trong Hình 3.3. Bảng 3.2 là giá trị của (Tw, k, m2) và độ cao xung hình
thang tương ứng. Đặc biệt khi m bằng 0 thì xung ra có dạng tam giác.
42
120000
Xung vào dạng mũ
Xung ra hình thang Tw = 30, k = 15
100000
Xung ra hình thang Tw = 35, k = 15
Xung ra hình thang Tw = 40, k = 15
80000
Xung ra hình thang Tw = 45, k = 15
60000
40000
) h n ê k ( o a c ộ Đ
20000
0
0
10
30
60
70
40
80
90
100
20 50 Thời gian (bin x 2048 ns)
Hình 3.3. Hình dạng xung hình thang trường hợp cố định k, thay đổi m và Tw
Độ cao xung (bin)
m2(µs)
k(µs) Tw(µs)
99065
90130
67450
44879
35890
B
30
1
15
99177
90168
67470
44897
35903
C
35
99219
90263
67552
44935
35913
D
40
99254
90337
67616
44963
35915
E
45
Bảng 3.2 Độ cao xung ra và tham số DPP trường hợp cố định k, thay đổi m và Tw
3.1.3. Cố định thời gian phần đỉnh bằng m, thay đổi k và Tw
Cố định phần đỉnh bằng là 10 µs và thay đổi giá trị của k và Tw. Hình dạng xung ra
hình thang được mô tả trong Hình 3.4. Bảng 3.3 là giá trị của (Tw, k, m2) và độ cao xung
hình thang tương ứng.
43
140000
Xung vào dạng mũ
Xung ra hình thang k = 20, m = 10
120000
Xung ra hình thang k = 30, m = 10
100000
Xung ra hình thang k = 40, m = 10
Xung ra hình thang k = 10, m = 10
80000
60000
) h n ê k ( o a c ộ Đ
40000
20000
0
0
20
40
60
80
100
Thời gian (bin x 2048 ns)
Hình 3.4. Hình dạng xung hình thang trường hợp cố định m, thay đổi k và Tw
Độ cao xung (bin)
m2(µs)
k(µs) Tw(µs)
1
33039
29996
22442
14945
11962
F
10
30
20
50
66083
60081
44933
29942
23942 G
30
70
99177
90186
67470
44897
35903 H
40
90
132293
120333
90058
59908
47877
I
Bảng 3.3 Độ cao xung ra và tham số DPP trường hợp cố định m, thay đổi k và Tw
3.1.4. Kết luận
Trong mọi trường hợp thay đổi các tham số DPP thì độ cao xung ra luôn luôn tuyến
tính với biên độ xung vào (xem Hình 3.5). Khi k = l (Trường hợp 1B) thì xung hình thang
trở thành xung tam giác.
44
) h n ê k ( a r g n u x o a c ộ Đ
Hình 3.5. Đường tuyến tính Biên độ xung vào – Độ cao xung ra
Biên độ xung vào (kênh)
3.2. Ảnh hưởng của thời gian tăng (rise time) của xung mũ lên độ cao xung hình thang [10]
Thời gian tăng là khoảng thời gian xung tăng từ 10 đến 90% độ cao toàn phần của nó.
Trong phần xây dựng lý thuyết, xung vào dạng mũ được giả sử có phần thời gian tăng là rất
ngắn, tuy nhiên trong thực tế thời gian tăng của tín hiệu là hữu hạn và phụ thuộc vào nhiều
yếu tố khác nhau: thời gian tăng hữu hạn của các mạch tương tự, hệ thống CR (CR
networks) trong đường truyền của tín hiệu, thời gian tập hợp điện tích hữu hạn, ...Do đó
chúng tôi khảo sát sự ảnh hưởng của thời gian tăng hữu hạn này lên dạng xung hình thang được hình thành. Dạng xung vào giả định được thay đổi dưới dạng hàm ν(t) = e-t/τ – e-t/θ với
θ là thời gian tăng hữu hạn của xung.
45
100
80
B C D
60
40
) h n ê k ( o a c ộ Đ
20
0
0
10 20 30 40 50 60 70 80 90 100
(a)
1.0
0.8
0.6
0.4
B C D
) h n ê k ( o a c ộ Đ
Thời gian (bin x 2048 ns)
0.2
0.0
0
10 20 30 40 50 60 70 80 90 100
(b)
Thời gian (bin x 2048 ns)
Hình 3.6. Ba xung mũ với thời gian tăng khác nhau (a) và các xung bậc thang tương
ứng (b)
Trong Hình 3.6a là ba xung vào A, B, C dạng mũ, với tỉ số θ/τ lần lượt là 0.02, 0.025
và 0.03. Trong mỗi trường hợp điện tích tổng cộng (phần diện tích dưới v(t)) là giống
nhau). Phần thời gian tăng của xung hình thang bằng hằng số thời gian suy giảm của xung
mũ, phần đỉnh bằng của xung mũ bằng 1/2 của hằng số τ.
46
Phần xung được đánh dấu là phần chịu ảnh hưởng của sự khác nhau của thời gian
tăng θ nhiều nhất. Lưu ý rằng độ cao xung hình thang trong ba trường hợp đều như nhau,
hay, độ cao xung ra hình thang không phụ thuộc vào sự thăng giáng của thời gian tăng θ
trong giới hạn này (xem Hình 3.6b).
Phần đỉnh bằng xung hình thang phải đủ dài so với thăng giáng thời gian tăng θ của
tín hiệu vào nhưng đồng thời cũng không dài quá mức cần thiết để giảm thiểu chiều dài
tổng cộng và giảm thiểu xác suất xảy ra chồng chập xung. Trong điều kiện như thế, hình
thành xung hình thang hoặc xung có dạng đỉnh bằng có nhiều ưu thế, nhất là tránh sự thăng
giáng thời gian tập hợp điện tích mà có thể làm giả độ phân giải năng lượng.
3.3. Khảo sát sự chồng chập xung [4]
Tθ là thời gian tăng của xung tín hiệu vào, Trt là thời gian tăng của xung hình thang
và Tft là thời gian của phần đỉnh bằng. Giả sử ΔT là khoảng thời gian giữa hai xung liên
tiếp.
Trường hợp 1: ΔT Trt Tft khi xung thứ hai bắt đầu trên phần bờ giảm của xung
thứ nhất thì cả hai xung đều mang thông tin tốt (không có sự kiện chồng chập). Có thể xác > +
định được độ cao của từng xung riêng biệt (xem Hình 3.7).
Trường hợp 2: ΔT Tθ Trt Tft khi xung thứ hai bắt đầu trên phần bờ tăng hoặc
phần đỉnh bằng của xung thứ nhất thì việc xác định độ cao từng xung là không thể, do đó ~ < < +
không có thông tin năng lượng và xung chồng chập cần được loại bỏ. Tuy nhiên, hệ thống
vẫn ghi nhận (đếm ) được hai sự kiện (xem Hình 3.8).
Trường hợp 3: ΔT Tθ khi hai xung vào chồng chập tại phần bờ tăng của chúng
thì không thể xác định được độ cao xung đồng thời cũng không phân biệt được hai xung do < ~
đó thông tin năng lượng và thời gian đều mất. Xung chồng chập này cần được loại bỏ (xem
Hình 3.9).
47
140
120
Xung vào thứ nhất Xung vào thứ hai Xung chồng chập
100
80
60
40
) h n ê k ( o a c ộ Đ
20
0
20
40
60
80
100
120
140
160
0
Tθ
50000
Trt Tft
40000
Xung ra thứ nhất Xung ra thứ hai Xung ra chồng chập
30000
20000
) h n ê k ( o a c ộ Đ
10000
0
0
20
40
60
100
120
140
160
80 Thời gian (bin x 2048 ns)
Thời gian (bin x 2048 ns)
Hình 3.7. Xung thứ hai bắt đầu sau thời gian Trt + Tft (ứng với vị trí bờ giảm của xung
hình thang thứ nhất)
48
140
120
100
80
60
40
) h n ê k ( o a c ộ Đ
20
0
0
20
40
60
80
100
120
140
160
70000
60000
50000
40000
30000
) h n ê k ( o a c ộ Đ
20000
10000
0
0
20
40
60
80
100
120
140
160
Thời gian (bin x 2048 ns)
Thời gian (bin x 2048 ns)
Hình 3.8. Xung thứ hai chồng lên xung thứ nhất sau thời gian Tθ (ứng với vị trí bờ
tăng hoặc đỉnh bằng của xung hình thang thứ nhất)
49
180
160
140
120
100
80
) h n ê k ( o a c ộ Đ
60
40
20
0
0
20
60
80
100
120
140
160
40 Thời gian (bin x 2048 ns)
100000
80000
60000
40000
) h n ê k ( o a c ộ Đ
20000
0
0
20
60
80
100
120
140
160
40 Thời gian (bin x 2048 ns)
Hình 3.9. Sự chồng chập xảy ra trong thời gian Tθ (thời gian tăng của xung mũ)
Hiện tượng chồng chập có thể chia làm hai loại, mà ảnh hưởng của mỗi loại lên việc
tính độ cao xung là khác nhau. Loại thứ nhất được gọi là chồng chập đuôi, xung thứ hai
xuất hiện trên phần đuôi hoặc phần âm của xung thứ nhất, gây ra xếp chồng hoặc bướu âm
của xung thứ hai (Hình 3.10). Sự chồng chập xung đuôi sẽ trở nên đáng quan tâm khi hệ
50
đếm chậm, vì phần đuôi chồng chập hoặc bướu âm sẽ tiếp tục kéo dài khoảng thời gian này.
Hiện tượng này ảnh hưởng xấu đến độ phân giải năng lượng trong phép đo bởi sự xuất hiện
phần “cánh” bên cạnh đỉnh phổ trong phổ độ cao xung . Điều này được làm rõ trong phần
thực nghiệm theo sau. Các dạng xung mà suy giảm về mức cơ bản nhanh sẽ giúp loại trừ
chồng chập đuôi [5].
Thời gian
Đuôi
Thời gian
Bướu âm
Hình 3.10. Chồng chập đuôi và ảnh hưởng của nó lên phổ độ cao xung vi phân của
các xung có biên độ là hằng số
Loại chồng chập thứ hai là chồng chập đỉnh, xuất hiện khi hai xung rất gần nhau đến
mức hệ thống phân tích xem như một xung (không thể phân biệt hai xung riêng lẻ). Trong
Hình 3.11 cho thấy sự chồng chập với các phần đỉnh bằng dẫn đến một xung kết hợp xuất
hiện có độ cao gần bằng tổng độ cao của hai xung thành phần. Sự chồng chập loại này
không chỉ dẫn đến sự biến dạng phổ phóng xạ thu được mà còn gây nhiễu các phép đo định
lượng dựa trên việc đo phần diện tích dưới đỉnh năng lượng toàn phần. Sự chồng chập của
hai xung năng lượng toàn phần làm mất vị trí vốn có của cả hai trong phổ độ cao xung, và
phần diện tích dưới đỉnh năng lượng toàn phần trong phổ sẽ không còn là một số đo tổng số
51
sự kiện năng lượng toàn phần đúng. Bởi vì sự chồng chập dẫn đến việc ghi nhận một xung
thay vì hai xung, phần diện tích tổng cộng dưới phổ thu được sẽ nhỏ hơn tổng số xung có
Hình 3.11. Chồng chập đỉnh, hai xung ở khoảng cách rất gần nhau tạo thành một xung bị méo. Một
vài trường hợp khác được phát thảo với sự tăng chồng chập của xung thứ nhất và thứ hai
mặt trong hệ trong suốt thời gian đo.
52
CHƯƠNG 4: THỰC NGHIỆM
Kỹ thuật xử lý xung số sẽ dần thay thế cho kỹ thuật xử lý xung tương tự và hệ phổ kế
số sẽ mang lại nhiều tiện lợi và ưu thế hơn hệ phổ kế truyền thống. Tuy nhiên, để có thể xây
dựng cũng như đưa vào sử dụng hệ phổ kế số cần có những kiến thức và hiểu biết về kỹ
thuật DPP và các thông số DPP tối ưu. Để khảo sát các tham số DPP, chúng tôi thực hiện thí nghiệm đầu dò NaI(Tl) 3 inch x 3 inch. Năng lượng khảo sát là 511 keV từ nguồn 22Na.
Xung tín hiệu từ bộ tiền khuếch đại (dạng e mũ) được mã hóa thành số thông qua thiết bị
Flash-ADC và bộ trigger FPGA. Số liệu được truyền lên máy tính.
4.1. Bố trí thí nghiệm
22
4.1.1. Bố trí thí nghiệm
Tiền
Máy tính
(Flash-ADC và FPGA trigger)
Detector NaI(Tl) 3 inch x 3 inch
(LabView)
khuếch đại
Na 0.1 µCi
Hình 4.1. Sơ đồ thí nghiệm ghi nhận số liệu tín hiệu detector – tiền khuếch đại
nguồn 0,1 µCi
Thực hiện thí nghiệm đặt nguồn 22Na (hoạt độ 0,1 µCi) gần detector nhấp nháy
NaI(Tl) 3 inch 3 inch. Tín hiệu từ tiền khuếch đại được số hóa bởi thiết bị Flash ADC và
bộ trigger FPGA. Số liệu được truyền vào máy tính thông qua phần mềm giao tiếp ×
LabVIEW. Hình 4.1 là sơ đồ bố trí thí nghiệm.
4.1.2. Các thông số thí nghiệm [12],[13],[14]
Thiết bị Flash ADC có khoảng thế hoạt động 1000 mV, độ phân giải 8 bit. Mỗi xung tín
hiệu detector – tiền khuếch đại được số hóa thành xung dạng số với 151 dữ liệu.
Trục điện thế có độ cao tối đa là 256 kênh ứng với điện thế 1000 mV nghĩa là
một kênh ứng với 4 mV. Trục thời gian có độ dài tối đa là 151 bin (một sự kiện), mỗi bin là 28 x 8 ns (vì bộ mã hóa có độ phân giải 8 bit). Thời gian của cửa sổ thu nhận mỗi xung là
151 2048 ns. Hình 4.2 là xung tín hiệu detector – tiền khuếch đại dạng mũ được ghi nhận
bởi phần mềm giao tiếp LabVIEW. Xung tín hiệu dạng mũ được làm khớp bằng phương ×
−𝑥/𝜏1
trình y = y0 + A1 , trong đó A1 là biên độ xung và τ1 là hằng số thời gian phân rã, hàm
53 𝑒
khớp tuyến tính có R2 = 0.998 và χ2 = 0.178 (xem Hình 4.3). Hằng số thời gian phân rã là
30 bin (60 µs).
130
120
110
100
90
) h n ê k ( ộ đ n ê i B
80
70
0
40
20
80 100 120 140 160
60 Thời gian (bin x 2048 ns)
Hình 4.2. Xung tín hiệu detector – tiền khuếch đại ghi nhận bằng Labview
Hình 4.3. Xung tín hiệu detector – tiền khuếch đại dạng mũ
4.2. Phân tích các tham số DPP đối với dạng xung ra hình thang
Áp dụng giải thuật DPP hình thành xung ra dạng hình thang. Hình 4.4 cho thấy mối
quan hệ tuyến tính giữa độ cao xung ra hình thang và độ cao xung vào.
54
30000
25000
20000
15000
10000
5000
) h n ê k ( g n a h t h n ì h g n u x o a c ộ Đ
0
0
20
40
60
80
100
120
140
160
Độ cao xung mũ (kênh)
Hình 4.4. Đường tuyến tính giữa độ cao xung hình thang và biên độ xung mũ
Các tham số DPP ảnh hưởng đến hình dạng xung ra gồm thời gian cạnh lên k, thời
gian đỉnh bằng m, độ rộng xung Tw và hệ số khuếch đại m2 (m2/m1 = M). Trong đó Tw = 2k
+ m = l + m. Để khảo sát sự ảnh hưởng của k, l và m lên hình dạng xung chúng tôi cố định
hệ số khuếch đại m2 = 1 và cố định độ rộng xung Tw với các giá trị lần lượt là 20 µs, 30 µs
và 40 µs.
4.2.1. Trường hợp cố định Tw = 20 µs
Giới hạn độ rộng xung hình thang 20 µs (10 bin), thay đổi giá trị cạnh lên k của xung
ra lần lượt 4 µs, 6 µs, 8 µs và 10 µs kéo theo giá trị của đỉnh bằng cũng thay đổi. Ứng với
mỗi trường hợp xung tín hiệu sau khi xử lý bằng giải thuật DPP được vẽ thành phổ và tính toán độ phân giải năng lượng. Dạng xung ra hình thang và phổ năng lượng của 22Na trong
trường hợp độ rộng xung Tw = 20 µs, thời gian cạnh lên k = 6 µs và đỉnh bằng m = 14 µs
được mô tả trong Hình 4.5.
55
140
10000
Xung vào dạng mũ
8000
Xung ra hình thang
120
6000
(b)
4000
(a)
100
m ế đ ố S
2000
) h n ê k ( g n u x ộ đ n ê i B
) h n ê k ( g n u x ộ đ n ê i B
80
0
70
0
10
20
30
40
50
60 Thời gian (bin x 2048 ns)
Độ cao xung (kênh)
Hình 4.5. Xung vào và xung ra hình thang ứng với độ rộng Tw = 20 µs, k = 6 µs, m = 8 µs (a) và phổ năng lượng đỉnh 22Na 511 keV tương ứng (b)
4.2.2. Trường hợp Tw = 30 µs
Cố định giá trị độ rộng xung là 30 µs, thay đổi giá trị cạnh lên k của xung ra lần lượt
là 2 µs, 4 µs, 6 µs, 8 µs, 10 µs, 12 µs kéo theo giá trị đỉnh bằng cũng thay đổi. Ứng với từng
cặp giá trị (k, m) xung tín hiệu dạng hình thang được hình thành bằng giải thuật DPP được
vẽ thành phổ và tính toán độ phân giải năng lượng (xem Hình 4.6). Giới hạn giá trị k phải
110
5000
105
Xung vào dạng mũ Xung ra hình thang
100
95
(b)
(a)
90
m ế đ ố S
85
4000 ) h n ê 3000 k ( g n u 2000 x ộ đ n 1000 ê i B
80
) h n ê k ( g n u x ộ đ n ê i B
0
0
20
40
60
80 100 120 140 160
Thời gian (bin x 2048 ns)
Độ cao xung (kênh)
phù hợp với m trong trường hợp độ rộng là 30 µs.
Hình 4.6. Xung vào dạng mũ và xung ra hình thang ứng với độ rộng Tw = 30 µs (a)
và phổ năng lượng 22Na 511 keV tương ứng (b)
4.2.3. Trường hợp Tw = 40 µs
Cố định độ rộng xung 40 µs, thay đổi giá trị cạnh lên k lần lượt là 2 µs, 4 µs, 6 µs, 8
µs, 10 µs, 12 µs, 14 µs, 16 µs kéo theo giá trị đỉnh bằng m cũng thay đổi. Xử lý số liệu
bằng giải thuật DPP ứng với từng cặp giá trị (k, m) và vẽ thành phổ (xem Hình 4.7).
Xung vào dạng mũ Xung ra hình thang
(b)
(a)
m
) h n ê k ( g n u x
) h n ê k ( g n u x
56
105
6000
5000
100
4000
95
3000
90
2000
85
1000
80
0
0
20
40
60
80
100 120 140 160
Hình 4.7. Xung vào dạng mũ và xung ra hình thang ứng với độ rộng Tw = 30 µs, k =
12 µs, m = 18 µs (a) và phổ năng lượng 22Na 511 keV tương ứng (b)
9.2
Tw = 20 µs
9.0
Tw = 30 µs
Tw = 40 µs
8.8
)
%
8.6
8.4
8.2
8.0
( i ả i g n â h p ộ Đ
7.8
0
2
4
12
14
8
16
18
4.2.4. So sánh và đánh giá tham số DPP dựa vào độ phân giải năng lượng
Thời gian tăng (µs) 6 10
Hình 4.8. Độ phân giải đỉnh phổ 22Na 511 keV ứng với các tham số DPP đối với dạng xung
ra hình thang
40
30
20
Tw (µs)
k (µs) m (µs)
R ± ΔR(%)
k (µs) m (µs)
R ± ΔR(%)
k (µs) m (µs)
R ± ΔR(%)
2
36
9.02 ± 0.00078
2
9.10 ± 0.00084
2
16
9.16 ± 0.00068
26
Bảng 4.1 Độ phân giải đỉnh phổ 22Na 511 keV ứng với các tham số DPP
4
32
8.05 ± 0.00064
4
8.17 ± 0.00066
4
12
8.51 ± 0.00064
22
m
6
28
7.98 ± 0.00062
6
8.15 ± 0.00065
6
8
8.30 ± 0.00064
18
8
24
7.98 ± 0.00062
8
8.16 ± 0.00064
14
10
20
7.84 ± 0.00060
10
8.15 ± 0.00065
10
12
16
7.84 ± 0.00064
12
8.15 ± 0.00061
6
14
12
7.88 ± 0.00059
k Tw
57
16
8
7.90 ± 0.00063
Chúng tôi chỉ giới hạn khảo sát với độ rộng xung lần lượt 20 µs, 30 µs và 40 µs. Kết
quả độ phân giải năng lượng trong từng trường hợp của giá trị (l, k, m) được biểu diễn dạng
số trong Bảng 4.1 và dạng đồ thị trong Hình 4.8.
Dựa vào Bảng 4.1 ta nhận thấy độ rộng xung càng lớn thì độ phân giải càng tốt.
Cùng độ rộng xung, giá trị k phù hợp với m (độ chênh lệch giữa k và m là nhỏ) thì độ phân
giải tốt hơn. So sánh phổ năng lượng theo độ cao xung ra dạng hình thang và phổ năng lượng theo diện tích xung vào dạng mũ của nguồn 22Na với giao diện Labview (xem Hình
4.9).
Hình 4.9. Phổ theo diện tích của bức xạ gamma từ nguồn 22Na 511 keV với giao diện
Labview
4.3. Phân tích các tham số DPP đối với dạng xung ra mũi nhọn (cusp - like)
50000
40000
30000
20000
) h n ê k ( c á i g m a t g n u x o a c ộ Đ
10000
0
0
Độ cao xung mũ (kênh) 20 60
80
40
100 120 140 160
4.3.1. Phân tích các tham số DPP đối với dạng xung ra tam giác
Hình 4.10. Đường tuyến tính giữa độ cao xung tam giác và độ cao xung mũ với độ
rộng xung Tw là 40 µs
Xung vào dạng mũ
Xung ra tam giác
) h n
) h n ê k
58
6000
115
5000
110
105
4000
100
(b)
3000
95
90
2000
85
1000
80
0
75
0
5
10 15 20 25 30 35 40 45 50
Hình 4.11. Xung vào e mũ và xung ra tam giác ứng với độ rộng Tw = 20 µs (a) và phổ năng lượng 22Na 511 keV tương ứng (b)
Đối với dạng xung ra hình thang, khi Tw = 2k và m = 0 thì xung hình thang trở thành
xung tam giác. Ứng với mỗi giá trị của Tw là 20 µs, 28 µs và 40 µs chỉ có một trường hợp
xung ra dạng tam giác. Hình 4.10 cho thấy mối quan hệ tuyến tính giữa độ cao xung ra tam
giác và độ cao xung vào trường hợp độ rộng xung Tw là 40 µs.
Hình 4.11 biểu diễn dạng xung ra tam giác và phổ năng lượng 22Na 511 keV tương
ứng trường hợp Tw = 20 µs. Kết quả độ phân giải năng lượng trường hợp hình thành xung
tam giác được biểu diễn dưới dạng số trong Bảng 4.2 và dạng đồ thị trong Hình 4.14.
Bảng 4.2 Độ phân giải đỉnh phổ 22Na 511 keV trường hợp hình thành xung tam giác
Tw (µs)
40
28
20
k (µs) m (µs) R ± ΔR(%) k (µs) m (µs) R ± ΔR(%) k (µs) m (µs) R ± ΔR(%)
k
20
0
8.18 ± 0.0006
14
0
8.28 ± 0.0006
10
0
8.33 ± 0.0006
Tw
) h n ê k (
n ọ h n i ũ m g n u x o a c ộ Đ
với độ rộng xung lần lượt là 40 µs, 28 µs và 20 µs
59 Độ cao xung mũ (kênh)
250000
200000
150000
100000
50000
0
0
20
40
60
80
100 120 140 160
Hình 4.12. Đường tuyến tính giữa độ cao xung mũi nhọn và độ cao xung e mũ, độ rộng xung Tw là 20 µs
130
75000
120
60000
Xung vào dạng mũ
Xung ra mũi nhọn
110
45000
100
30000
90
m ế đ ố S
15000
) h n ê k ( g n u x ộ đ n ê i B
) h n ê k ( g n u x ộ đ n ê i B
80
0
0
10
20
30
50
60
70
80
40
Thời gian (bin x 2048 ns)
Độ cao xung (kênh)
Tiếp tục xét trường hợp hình thành xung ra dạng mũi nhọn (cusp - like) cũng với độ
Hình 4.13. Xung vào dạng mũ và xung ra mũi nhọn ứng với độ rộng Tw = l = 42 µs (a) và phổ năng lượng 22Na 511 keV tương ứng (b) rộng xung Tw có giá trị lần lượt là 22 µs, 30 µs và 42 µs (bằng với độ rộng xung tam giác). Tuy nhiên trong giải thuật hình thành xung mũi nhọn, tham số l là thời gian cạnh lên của
4.3.2. Phân tích các tham số DPP đối với dạng xung ra mũi nhọn
xung ra mũi nhọn và tham số k chính là độ rộng xung Tw, trong đó, k = Tw = 2l + 1. Hình
4.12 cho thấy mối quan hệ tuyến tính giữa độ cao xung ra mũi nhọn và độ cao xung vào. Hình dạng xung ra mũi nhọn và phổ năng lượng 22Na 511 keV tương ứng trường hợp Tw =
40 µs được biểu diễn trong Hình 4.13. Kết quả độ phân giải năng lượng trường hợp hình
thành xung mũi nhọn được biểu diễn dưới dạng số trong Bảng 4.3 và dạng đồ thị trong
Hình 4.14.
Bảng 4.3. Độ phân giải đỉnh phổ 22Na 511 keV trường hợp hình thành xung mũi nhọn và
42
30
22
Tw = k (µs)
k (µs)
l (µs) R ± ΔR(%)
k (µs)
l (µs) R ± ΔR(%)
k (µs) l (µs) R ± ΔR(%)
42
20
9.17 ± 0.0007 30
14
9.51 ± 0.0008 22
10
9.55 ± 0.009
với độ rộng xung lần lượt là 40 µs, 28 µs và 20 µs
60
11.0
Hình thành xung mũi nhọn
10.5
Hình thành xung tam giác
10.0
)
%
9.5
9.0
8.5
( i ả i g n â h p ộ Đ
8.0
7.5
7.0
10
14
16
18
20
12 Thời gian cạnh lên (µs)
Hình 4.14. Độ phân giải đỉnh phổ 22Na 511 keV trường hợp hình thành xung mũi
nhọn và tam giác với thời gian tăng lần lượt là 20 µs, 14 µs và 10 µs
So sánh kết quả thu được trong hai trường hợp xung ra tam giác và xung ra mũi
nhọn, nhận thấy dạng xung ra tam giác cho kết quả độ phân giải tốt hơn dạng xung ra mũi
nhọn khi cùng độ rộng xung. Do đó, hình thành dạng xung hình thang và tam giác được
xem là các xung tối ưu cho độ phân giải tốt, phù hợp với hệ đếm tốc độ cao.
4.4. Trường hợp chồng chập xung (pile-up)
Các kết quả thu được ở trên, chúng tôi không xét đến trường hợp xung tín hiệu vào
xảy ra chồng chập, nói cách khác mỗi sự kiện đến detector là một xung đơn dạng mũ. Khi
xung tín hiệu vào là các xung đơn dạng mũ thì độ cao xung ra tuyến tính với biên độ xung
vào và đồ thị là đường thẳng như trong Hình 4.10.
Khi xung tín hiệu vào có chồng chập, thì đồ thị độ cao – biện độ của các xung bị
chồng chập không còn là một đường thẳng, mà xuất hiện thêm phần “cánh”, đa phần nằm
dưới đường thẳng (xem Hình 4.15).
61
45000
40000
35000
30000
25000
20000
15000
) h n ê k ( a r g n u x o a c ộ Đ
10000
5000
0
0
20
40
80
100
120
60 Biên độ xung vào (kênh)
Hình 4.15. Độ cao xung hình thang theo biên độ xung mũ khi xung tín hiệu vào bị
chồng chập
62
KẾT LUẬN VÀ KIẾN NGHỊ
1. Kết luận
Trong luận văn, chúng tôi nghiên cứu về kỹ thuật DPP cho hệ đo phổ gamma sử dụng
đầu dò nhấp nháy NaI(Tl). Các thông số trong giải thuật DPP được khảo sát và đánh giá chi
tiết.
Chúng tôi đã sử dụng kỹ thuật DPP xử lý xung tín hiệu detector – tiền khuếch đại và vẽ thành phổ độ cao xung đỉnh năng lượng 511 keV của nguồn 22Na. Khảo sát độ phân giải
năng lượng theo các thông số DPP gồm hệ số khuếch đại m2 (cố định hệ số khuếch đại là
1), hệ số thời gian tăng của xung ra k, hệ số thời gian đỉnh bằng m và hệ số thời gian tạo
dang xung (độ rộng xung) Tw (Tw = 2k + m). Kết quả thu được như sau:
Trường hợp xung ra dạng hình thang và tam giác:
Độ rộng xung Tw là 20 µs, độ phân giải đạt tốt nhất rơi vào trường hợp cặp giá trị (k,
m) bằng (6 µs, 8 µs) là 8,3 %. Trường hợp xung ra dạng tam giác (k bằng 10 µs), độ phân
giải là 8.33 %.
Độ rộng xung Tw là 30 µs, độ phân giải tốt nhất khi (k, m) bằng (12 µs, 6 µs) là 8,15
%. Trường hợp xung ra dạng tam giác, độ rộng xung là 28 µs (k bằng 14 µs), độ phân giải
là 8.28 %.
Độ rộng xung Tw là 40 µs, độ phân giải tốt nhất khi (k, m) bằng (10 µs, 20 µs) là 7.84
%. Trường hợp xung ra dạng tam giác (k bằng 20 µs), độ phân giải là 8.18 %.
Trường hợp xung ra dạng mũi nhọn (Tw = 2k + 1):
Độ rộng xung Tw là 22 µs (k bằng 10 µs), độ phân giải là 9,55 %.
Độ rộng xung Tw là 30 µs (k bằng 14 µs), độ phân giải là 9,51 %.
Độ rộng xung Tw là 42 µs (k bằng 20 µs), độ phân giải là 9,17 %.
Chúng tôi nhận thấy khi dạng xung ra là hình thang và tam giác thì phổ năng lượng có
độ phân giải tốt hơn so với dạng xung ra mũi nhọn. So sánh với kết quả độ phân giải đỉnh
511 keV, thu được trên cùng điều kiện thí nghiệm nhưng bằng kỹ thuật xử lý xung tương tự
(tín hiệu detector – tiền khuếch đại được đưa qua bộ khuếch đại để tạo dạng xung, rồi đưa
vào bộ MCA để xác định độ cao xung), là 8,5 % [3], chúng tôi rút ra kết luận kỹ thuật DPP
cho độ phân giải tốt hơn.
Trong giới hạn đề tài này, các xung vào là xung đơn riêng biệt dạng mũ. Khi xung vào
có chồng chập, sự ảnh hưởng của xung chồng chập lên phổ độ cao xung là sự xuất hiện
63
phần “cánh”. Do đó, đề tài sẽ được mở rộng trong trường hợp xung tín hiệu vào có xảy ra
chồng chập, các xung chồng chập sẽ được tách và khôi phục thông tin từng xung riêng lẻ
bằng kỹ thuật DPP.
Kỹ thuật xử lý xung tín hiệu số DPP là phương pháp đáng tin cậy. Kỹ thuật DPP tiện
lợi trong tính toán độ cao xung; xử lý các hệ quả của quá trình xử lý xung như khôi phục
mức nền, phát hiện và loại bỏ xung chồng chập, khử bứu âm.
2. Kiến nghị
Chúng tôi đã thực hiện sử dụng phương pháp DPP cho đầu dò nhấp nháy NaI(Tl), thực hiện cho năng lượng 511keV từ nguồn 22Na, kiến nghị cần khảo sát cho các năng
lượng khác.
Thực hiện xây dựng cho hệ phổ kế gamma NaI(Tl) sử dụng giải thuật DPP.
64
TÀI LIỆU THAM KHẢO
Tiếng Việt
1. Trần Phong Dũng, Châu Văn Tạo, Nguyễn Hải Dương (2005), Phương pháp ghi bức xạ ion hóa,
Nxb Đại học Quốc gia, Tp. Hồ Chí Minh.
2. Đinh Sỹ Hiền (2005), Điện tử hạt nhân, Nxb Đại học Quốc gia, Tp. Hồ Chí Minh.
3. Nguyễn Quốc Hùng (2011), Xây dựng chương trình nhúng VHDL tính các thông số đặc trưng
cho hệ MCA (Flash-ADC/FPGA), Luận văn thạc sĩ, Đại học Cần Thơ.
Tiếng Anh
4. Carlo Tintori (2011), Digital Pulse Processing for Physics Application, Workshop on Digital
Pulse Processing, Liverpool.
5. Glenn F. Knoll (1999), Radiation Detection and Measurement – 3rd Edition, John Wiley & Sons, Inc., USA.
6. Gordon R. Gilmore (2008), Practical Gamma-ray Spectrometry – 2nd Edition, John Wiley &
Sons Ltd, The Atrium, Southern Gate, Chichester, West Sussex PO19 8SQ, England.
7. William R. Leo (1993), Techniques for Nuclear and Particle Physics Experiments – 2nd Edition,
Springer – Verlag Press .
8. Steven W.Smith (1999), The Scientist and Engineer’s Guide to Digital Signal Processing 2nd
Edition, California Technical Publishing San Diego, California.
9. V.T. Jordanov, Glenn F.Knoll (1994), Digital synthesis of pulse shapes in real time for high
resolution radiation spectroscopy, Nucl. Instrum. Method Phys. Res. A 345.
10. V.T. Jordanov, et al. (1994), Digital techniques for real-time pulse shaping in radiation
measurements, Nucl. Instrum. Method Phys. Res. A 353.
11. V.T. Jordanov (2000), Digital Pulse Processing – Part 1, Yantel, LLC · Los Alamos, NM USA.
Website
12. http://www.canberra.com
13. http://www.nucleide.org
14. http://www.ortec.com
15. http://www.caen.it
16. support.nuclear@caen.it
65
PHỤ LỤC
Phụ lục 1: Chương trình C ++ hình thành xung hình thang, tam giác
#include
#include
#include
#include
#include
#include
using namespace std ;
int main ()
{
int A, B;
int size = 151;
int k, l, m1, m2, L, G, counter, i, j, m, delay;
float M;
int max_out, p_maxout, min_out, p_minout, sum_out, s_mid, p_mid, max_in, p_maxin, sum_in,
min_in, p_minin, min, baseline, baselineout, threshold, s_meanpeak;
int [size], v_av[size], v_av2[size], d1[size], dk[size], dl[size], p[size], q[size], r[size], s[size];
/*READ FILE*/
ifstream inf("input.txt",ios::in);
if (!inf){
cout << "Can not open the in_file";
exit(1);
}
ofstream outf("output.txt", ios::out);
if (!outf){
cout << "Can not open the out_file";
exit(1);
}
ofstream outf1("output1.txt", ios::out);
if (!outf1){
cout << "Can not open the out_file";
exit(1);
}
66
/*INSERT PARAMETER*/
cout << "Insert threshold:";
cin >> threshold;
cout << "Insert rise time k, flat_top time m, gain_parameter m2:";
cin >> k;
cin >> m;
cin >> m2;
while (! inf.eof())
{
/*INITIAL CONDITION*/
max_in = 0; min_in = 151; sum_in = 0; max_out = 0;
sum_out = 0; counter = 0; baseline = 0; baselineout = 0;
s_mid = 0; s_meanpeak = 0; M = 29.5; m1 = M*m2; l = k + m;
// For cusp like shaper
// k = 2*l + 1;
while ((counter < size) and (!inf.eof()))
{
inf >> A>> B;
v[counter] = B;
counter ++;
}
/*MOVING AVERAGE FILTER FOR SMOOTH INPUT
for (i = 0; i < counter; i++)
{
v_av[i] = 0;
v_av2[i] = 0;
for (j = 0; j < L; j++)
{
v_av[i]= v_av[i] + v[i + j];
v_av2[i]= v_av2[i] + v[L + G + i + j];
}
v_av[i] = v_av[i]/L;
v_av2[i] = v_av2[i]/L;
//outf << (v_av2[i] - v_av[i]) << "\n";
outf << v_av2[i]-v_av[i] << "\n";
}
/*MAX INPUT and MIN INPUT*/
67
for (i = 0; i < counter ; i ++){
if (v[i] > max_in){max_in = v[i];p_maxin = i;}
if (v[i] < min_in){min_in = v[i];p_minin = i;}
}
//cout<< max_in<<" "<< p_maxin <<"\n";
/*INPUT BASELINE CACULATION*/
for (i = 0; i < 3; i++){
baseline = baseline + v[i];
}
div_t divresult;
divresult = div(baseline,3);
baseline = divresult.quot;
//cout << baseline << "\n";
/*DIGITAL PULSE SHAPER*/
if ((max_in > threshold) & (max_in < 200) )
{
//cout << " Selected Pulse: max = " << max_in << "\n";
dk[i]= 0; dl[i]= 0; p[i]= 0; r[i]= 0; s[i]= 0; d1[i]= 0; q[i]= 0;
for (i = 0; i < counter; i ++)
{
/* TRAPEZOIDAL DIGITAL PULSE SHAPER*/
if(i-k<0){v[i-k]=0;}
if(i-l<0){dk[i-l]=0;}
if(i-1<0){p[i-1]=0;s[i-1]=0;}
//v[i]= v[i]- baseline;
dk[i] = v[i]- v[i-k]; dl[i] = dk[i] - dk[i - l]; p[i] = p[i - 1] + m2*dl[i];
r[i] = p[i] + m1*dl[i]; s[i] = s[i - 1] + r[i];
outf1 << i<< " " << v[i] <<" "<< s[i] <<"\n";
}
/*MAX OUTPUT and MIN OUTPUT*/
for (i = 0; i < counter ; i ++)
{
if (s[i] > max_out){max_out = s[i];p_maxout = i;}
if (s[i] < min_out){min_out = s[i];p_minout = i;}
}
68
/*OUTPUT BASELINE CACULATION*/
for (i = 0; i < 3; i++)
{
baselineout = baselineout + s[i];
}
div_t divresultout;
divresultout = div(baselineout,3);
baselineout = divresultout.quot;
//cout << baselineout << "\n";
max_out = max_out - baselineout;
/*SUM OF INPUT and OUTPUT; MAX OUTPUT*/
for (i = 0; i < counter; i ++)
{
sum_in = sum_in + v[i];
s[i] = s[i] - baselineout;
sum_out = sum_out + s[i];
outf << s[i] << ""<< v[i] << ""<< i << "\n";
}
/*OUTPUT AT MIDDLE POINT*/
s_mid = s[p_maxin + k + m/2];
max_in = max_in - baseline;
/*OUTPUT MEAN PEAK*/
if(m == 0){m = 1;}
for (i = p_maxin + k; i < (m + k + p_maxin); i ++)
{
s_meanpeak = s_meanpeak + s[i];
}
div_t divresult2;
divresult2 = div(s_meanpeak,m);
s_meanpeak = divresult2.quot;
/*EXTRACT interested INFORMATION*/
outf << s_mid << " " << s_meanpeak << " " << max_out << " " << max_in << "\n";
}
}
inf.close();
69
outf.close();
system("pause");
return 0;
}
Phụ lục 2: Chương trình PAW vẽ phổ năng lượng
Macro ratetest
hi/de 0; ve/de *; opt *; set *
opt sta; opt fit; set fit 111; set fcol 4
file=Trapezoidpeak.txt
* ve/read a1,a2 [file] ! 'oc'
*zone 1 2
*ve/plot a1
*ve/plot a2
**********CREATE NTUBLE **************
nt/create 1 'three variables' 4 ! ! maxs s_mid sums sume
nt/read 1 [file]
************* HISTOGRAM ***************
1d 11 sumout 400 0 13000
1d 12 maxin 200 0 12500
1d 13 maxout 500 0 15000
1d 14 sumin 150 0 150
nt/proj 11 1.maxs
nt/proj 12 1.s_mid
nt/proj 13 1.sums
nt/proj 14 1.sume
*opt logy
*opt grid
zone 2 2
hi/plot 11
hi/plot 12
hi/plot 13
hi/plot 14
wait
*********** fitting gaussian region ***********
range1=12000
70
range2=15000
*******Fitting Gaussian Histogram 13*********
******** First fitting *********
zone 1 2
ve/create par(3) r
hi/fit 13([range1].:[range2].) g ! ! par
wait
********* Second fitting ********
ran1=par(2)-2*par(3)
ran2=par(2)+3*par(3)
hi/fit 13([ran1]:[ran2]) g ! ! par
wait
******Fitting Gaussian Histogram 12 *********
******** First fitting *********
zone 1 2
ve/create par(3) r
hi/fit 12([range1].:[range2].) g ! ! par
wait
********* Second fitting ********
ran1=par(2)-2*par(3)
ran2=par(2)+3*par(3)
hi/fit 12([ran1]:[ran2]) g ! ! par
wait
hi/pl 11
hi/pl 12
return
71
Phụ lục 3: Đồ thị xung ra dạng tam giác và mũi nhọn và đỉnh phổ năng lượng 22Na 511 keV
130
10000
120
Xung vào dạng mũ Xung ra tam giác
8000
110
(b)
(a)
6000
100
4000
90
m ế đ ố S
) h n ê k ( g n u x ộ đ n ê i B
) h n ê k ( g n u x ộ đ n ê i B
2000
80
70
0 100
0
20
40
60
80 Thời gian (bin x 2048 ns)
Độ cao xung (kênh)
130
14000
120
12000
Xung vào dạng mũ Xung ra tam giác
10000
110
8000
(b)
(a)
100
6000
90
m ế đ ố S
4000
) h n ê k ( g n u x ộ đ n ê i B
80
2000
) h n ê k ( g n u x ộ đ n ê i B
70
0
40
80
60
0 100
20 Thời gian (bin x 2048 ns)
Độ cao xung (kênh)
Hình 1. Xung vào dạng mũ và xung ra tam giác ứng với độ rộng Tw = 28 µs (a) và phổ năng lượng 22Na 511 keV tương ứng (b)
130
20000
120
Xung vào dạng mũ Xung ra mũi nhọn
15000
110
(a)
100
(b)
10000
m ế đ
90
ố S
5000
80
) h n ê k ( g n u x ộ đ n ê i B
) h n ê k ( g n u x ộ đ n ê i B
70
0
20
40
60
80
0 100
Thời gian (bin x 2048 ns)
Độ cao xung (kênh)
Hình 2. Xung vào dạng mũ và xung ra tam giác ứng với độ rộng Tw = 40 µs (a) và phổ năng lượng 22Na 511 keV tương ứng (b)
Hình 3. Xung vào dạng mũ và xung ra mũi nhọn ứng độ rộng k= 10 µs và Tw = 22 µs (a) và phổ năng lượng 22Na 511keV tương ứng (b)
72
40000
130
120
Xung vào dạng mũ Xung ra mũi nhọn
110
(a)
(b)
100
90
m ế đ ố S
80
) 30000 h n ê k ( g 20000 n u x ộ đ 10000 n ê i B
) h n ê k ( g n u x ộ đ n ê i B
70
0 100
0
20
40
60
80
Thời gian (bin x 2048 ns)
Độ cao xung (kênh)
Hình 4. Xung vào dạng mũ và xung ra mũi nhọn ứng độ rộng k = 7 µs và Tw = 30 µs (a) và phổ năng lượng 22Na 511keV tương ứng (b)
73
Phụ lục 4: Đoạn code chương trình C ++ hình thành mũi nhọn
/*CUSP-LIKE DIGITAL PULSE SHAPER*/
if(i-1<0){v[i-1]=0;p[i-1]=0; q[i-1]=0; s[i-1]=0;}
if(i-k<0){v[i-k]=0;}
if(i-l<0){d1[i-l]=0;}
v[i]= v[i]- baseline;
dk[i]= v[i]- v[i-k];
d1[i]= v[i] - v[i - 1];
p[i] = p[i - 1] + dk[i] - k*d1[i-l];
q[i]= q[i-1] + m2*p[i];
s[i] = s[i - 1] + q[i] + m1*p[i];
// k = 2l + 1;
74