intTypePromotion=4
Array
(
    [0] => Array
        (
            [banner_id] => 142
            [banner_name] => KM3 - Tặng đến 150%
            [banner_picture] => 412_1568183214.jpg
            [banner_picture2] => 986_1568183214.jpg
            [banner_picture3] => 458_1568183214.jpg
            [banner_picture4] => 436_1568779919.jpg
            [banner_picture5] => 
            [banner_type] => 9
            [banner_link] => https://tailieu.vn/nang-cap-tai-khoan-vip.html
            [banner_status] => 1
            [banner_priority] => 0
            [banner_lastmodify] => 2019-09-18 11:12:29
            [banner_startdate] => 2019-09-12 00:00:00
            [banner_enddate] => 2019-09-12 23:59:59
            [banner_isauto_active] => 0
            [banner_timeautoactive] => 
            [user_username] => minhduy
        )

)

Mô phỏng vi cấu trúc và sự chuyển pha cấu trúc của Ôxit SIO2 lỏng

Chia sẻ: Hoang Son | Ngày: | Loại File: PDF | Số trang:5

0
16
lượt xem
7
download

Mô phỏng vi cấu trúc và sự chuyển pha cấu trúc của Ôxit SIO2 lỏng

Mô tả tài liệu
  Download Vui lòng tải xuống để xem tài liệu đầy đủ

Mô phỏng động lực học phân tử (ĐLHPT) đã được sử dụng để nghiên cứu mô hình vật liệu ôxít SiO2 chứa 1998 (666 Si và 1332 O) nguyên tử trong hộp lập phương với điều kiện biên tuần hoàn, ở nhiệt độ 3200 K. Các đặc trưng cấu trúc của mô hình vật liệu xây dựng, được phân tích thông qua hàm phân bố xuyên tâm (HPBXT) thành phần, phân bố số phối trí (SPT), phân bố góc liên kết.

Chủ đề:
Lưu

Nội dung Text: Mô phỏng vi cấu trúc và sự chuyển pha cấu trúc của Ôxit SIO2 lỏng

Đỗ Thị Vân và cs<br /> <br /> Tạp chí KHOA HỌC & CÔNG NGHỆ<br /> <br /> 78(02): 29 - 33<br /> <br /> MÔ PHỎNG VI CẤU TRÚC VÀ SỰ CHUYỂN PHA CẤU TRÚC<br /> CỦA ÔXIT SIO2 LỎNG<br /> Đỗ Thị Vân*, Đặng Thị Uyên và Phạm Hữu Kiên<br /> Trường Đại học Sư phạm - Đại học Thái Nguyên<br /> <br /> TÓM TẮT<br /> Mô phỏng động lực học phân tử (ĐLHPT) đã đƣợc sử dụng để nghiên cứu mô hình vật liệu ôxít<br /> SiO2 chứa 1998 (666 Si và 1332 O) nguyên tử trong hộp lập phƣơng với điều kiện biên tuần hoàn,<br /> ở nhiệt độ 3200 K. Các đặc trƣng cấu trúc của mô hình vật liệu xây dựng, đƣợc phân tích thông<br /> qua hàm phân bố xuyên tâm (HPBXT) thành phần, phân bố số phối trí (SPT), phân bố góc liên kết.<br /> Kết quả mô phỏng cho thấy, cấu trúc của SiO2 đƣợc tạo nên bởi các đơn vị cấu trúc cơ bản SiO4,<br /> SiO5 và SiO6, các đơn vị cấu trúc này liên kết với nhau bởi 1, 2 và 3 cầu nối oxy. Khi áp suất mô<br /> hình tăng, số lƣợng đơn vị SiO4 giảm, SiO6 tăng còn SiO5 đạt cực đại trong khoảng áp suất 12-15<br /> GPa, đây chính là áp suất chuyển pha cấu trúc trong SiO2 lỏng nhƣ đã đƣợc phát hiện trong nghiên<br /> cứu thực nghiệm.<br /> Từ khoá: Động lực học phân tử; Vi cấu trúc; Chuyển pha cấu trúc; Biên tuần hoàn<br /> <br /> GIỚI THIỆU*<br /> Các hệ ôxít hai nguyên nhƣ Al2O3, SiO2 và<br /> GeO2 là những đối tƣợng đƣợc quan tâm và là<br /> những đề tài mang tính thời sự thu hút sự<br /> nghiên cứu của nhiều nhà khoa học trong<br /> nhiều thập niên gần đây [1-10]. Trong đó, ôxít<br /> silic (SiO2) là một trong những đối tƣợng<br /> đƣợc nhiều nhà khoa học nghiên cứu vật liệu<br /> mới quan tâm nhất [8-12]. Bởi vì, SiO2 có<br /> ứng dụng rộng rãi trong việc chế tạo nhiều<br /> loại linh kiện và vật liệu. Gần đây đã có nhiều<br /> công trình nghiên cứu vi cấu trúc và tính toán<br /> các tính chất vật lý của hệ SiO2 bằng cách sử<br /> dụng các phƣơng pháp khác nhau trong đó có<br /> phƣơng pháp mô phỏng ĐLHPT. Chuyển pha<br /> cấu trúc đƣợc phát hiện trong SiO2 theo sự<br /> thay đổi của áp suất và nhiệt độ [1,2]. Ở nhiệt<br /> độ thấp sự chuyển pha cấu trúc trong SiO2 là<br /> rất chậm. Kết quả cho thấy tồn tại hai pha<br /> (pha có cấu trúc tứ diện và bát diện) ở điều<br /> kiện áp suất khác nhau là rất thú vị. Với cùng<br /> một dải nhiệt độ, pha thứ nhất bền vững ở áp<br /> suất thấp, trái lại pha thứ hai bền vững ở áp<br /> suất cao. Vùng áp suất xảy ra chuyển pha đã<br /> đƣợc nhiều công trình đề cập đến và giá trị<br /> này nằm trong khoảng 12-15GPa [7-12].<br /> <br /> *<br /> <br /> Tel: 01689931371, Email: dovan12a2@yahoo.com<br /> <br /> Cho tới nay đã có một lƣợng lớn công trình<br /> nghiên cứu về sự chuyển pha cấu trúc của<br /> SiO2 [1-12]. Tuy nhiên, sự hiểu biết đầy đủ về<br /> hiện tƣợng này vẫn chƣa thoả đáng và còn<br /> nhiều vấn đề đang đƣợc thảo luận. Đặc biệt,<br /> sự thay đổi cấu trúc ở nhiệt độ 3200 K trong<br /> một dải áp suất vẫn đang là đề tài nóng (vì<br /> đây là nhiệt độ trong lòng Trái đất nơi tồn tại<br /> SiO2). Vì vậy, trong nghiên cứu này chúng tôi<br /> muốn cung cấp thêm một vài thông tin về vi<br /> cấu trúc cũng nhƣ sự chuyển pha cấu trúc<br /> trong vật liệu SiO2 lỏng khi nén mô hình.<br /> PHƢƠNG PHÁP TÍNH TOÁN<br /> Sự chuyển pha cấu trúc trong SiO2 lỏng ở đây<br /> đƣợc nghiên cứu bằng phƣơng pháp ĐLHPT,<br /> sử dụng thế tƣơng tác BKS và điều kiện biên<br /> tuần hoàn. Thế BKS đƣợc phát triển bởi Van<br /> Beest, Kramer và Van Sansten, bằng phƣơng<br /> pháp tính toán ab initio, nó có dạng [1-5,6]:<br /> <br /> U (rij ) <br /> <br /> qi q j e2<br /> rij<br /> <br />  Aij exp( Bij rij )  Cij rij6<br /> (1)<br /> <br /> trong đó: qi, qj là điện tích của các ion i, j đối<br /> với ion Si, qSi = +2.4e và đối với ion O, qo = 1.2e (e là điện tích nguyên tố); rij là khoảng<br /> cách tƣơng tác giữa một ion loại i và một ion<br /> loại j; Aij, Bij, Cij là các hằng số đƣợc tính<br /> bằng phƣơng pháp ab initio. Các số hạng<br /> 29<br /> <br /> Số hóa bởi Trung tâm Học liệu – Đại học Thái Nguyên<br /> <br /> http://www.lrc-tnu.edu.vn<br /> <br /> Đỗ Thị Vân và cs<br /> <br /> Tạp chí KHOA HỌC & CÔNG NGHỆ<br /> <br /> trong biểu thức này tƣơng ứng cho các tƣơng<br /> tác Coulomb, tƣơng tác đẩy và tƣơng tác<br /> Vander Waal. Chúng tôi sử dụng thuật toán<br /> Verlet với bƣớc thời gian mô phỏng là 4x10-14s<br /> để xác định tích phân phƣơng trình chuyển<br /> động. Số phối trí trung bình Z đƣợc xác<br /> định bằng biểu thức tích phân đỉnh thứ nhất<br /> HPBXT [1-5]:<br /> R<br /> <br /> Z  4 j  g (r )r 2 dr<br /> 0<br /> <br /> (2)<br /> <br /> R là bán kính ngắt, thƣờng đƣợc chọn là vị trí<br /> cực tiểu sau đỉnh thứ nhất của HPBXT gαβ(r).<br /> HPBXT đƣợc dùng để xác định đặc trƣng trật<br /> tự gần. HPBXT có thể xác định bằng phép<br /> tích phân Fourier từ thừa số cấu trúc nhận<br /> đƣợc ở đƣờng cong nhiễu xạ tia X và cho<br /> phép xác định số lƣợng trung bình các nguyên<br /> tử ở khoảng cách bất kì tính từ nguyên tử<br /> đang xét. HPBXT thành phần gαβ(r) đƣợc xác<br /> định nhƣ sau [1-5]:<br /> g ,  (r )  N αβ<br /> <br /> N α Nβ<br /> <br />  δ(r -r)<br /> ij<br /> <br /> i<br /> <br /> 50 000 bƣớc lặp. Sáu mẫu vật liệu thu đƣợc<br /> dùng để phân tích vi cấu trúc và sự chuyển<br /> pha cấu trúc.<br /> KẾT QUẢ VÀ THẢO LUẬN<br /> Đặc trƣng cấu trúc của các mô hình SiO2<br /> nhiệt độ 3200 K và các áp suất khác nhau<br /> đƣợc thống kê trong Bảng 1.Nhƣ có thể thấy,<br /> ở nhiệt độ 3200 K, áp suất -0.01GPa vị trí<br /> đỉnh cực đại thứ nhất trong các HPBXT thành<br /> phần Si-Si, Si-O và O-O lần lƣợt là 3.08, 1.6,<br /> 2.6 Å. Hình 1 cho thấy HPBXT thành phần<br /> của SiO2 lỏng ở các áp suất khác nhau và T =<br /> 3200 K. Nhƣ có thể thấy, các HPBXT thành<br /> phần giống nhau về cả hình dạng và vị trí các<br /> đỉnh. Vị trí cực đại thứ nhất dịch sang trái và<br /> độ cao các đỉnh giảm theo sự tăng áp suất.<br /> Ngoài ra, SPT trung bình thay đổi rất mạnh<br /> theo áp suất, cụ thể, các cặp Si-Si, Si-O, O-Si<br /> và O-O lần lƣợt tăng từ 4.49-8.98, 4.07-5.50,<br /> 2.03-2.75 và 8.17-15.20 khi áp suất tăng từ 0.01 đến 25.20 GPa.<br /> P=-0,10 GPa<br /> P= 4,87 GPa<br /> P=25,20 GPa<br /> <br /> 9<br /> <br /> α, β  Si, O<br /> <br /> 6<br /> <br /> j<br /> <br /> N<br /> <br />   N ( N  1)<br />  0  <br /> N αβ  <br />  N<br />  ρ0 N α Nβ<br /> <br /> Si-Si<br /> <br /> 3<br /> <br /> α=β<br /> <br /> 0<br /> 2<br /> <br /> 9<br /> <br /> αβ<br /> <br /> ở đây, N là tổng số nguyên tử trong mô hình,<br /> N và N lần lƣợt là số nguyên tử loại  và<br /> loại ; 0 là mật độ nguyên tử trung bình<br /> trong thể tích V.<br /> Trong nghiên cứu này, 6 mẫu vật liệu có áp<br /> suất khác nhau đã đƣợc xây dựng, mỗi vật<br /> liệu là một mô hình chứa 1998 (666 Si và<br /> 1332 O) nguyên tử đƣợc gieo ngẫu nhiên<br /> trong một khối lập phƣơng kích thƣớc cỡ<br /> 23.7×23.7×23.7 Å3 với điều kiện biên tuần<br /> hoàn. Mô hình ban đầu đƣợc làm nóng 5000<br /> K và giữ ở nhiệt độ này sau 50 000 bƣớc lặp<br /> (để phá vỡ trạng thái nhớ ban đầu). Sau đó,<br /> mô hình đƣợc làm lạnh xuống 3200 K và duy<br /> trì ở nhiệt độ này với 50 000 bƣớc lặp. Sáu<br /> mẫu vật liệu có áp suất khác nhau: 0, 5, 10,<br /> 15, 20 và 25 GPa đƣợc dựng lên tại nhiệt độ<br /> 3200 K sau khi mỗi mẫu đƣợc hồi phục sau<br /> <br /> 78(02): 29 - 33<br /> <br /> (r) 6<br /> g ij r<br /> <br /> 4<br /> <br /> 6<br /> <br /> 8<br /> <br /> 10<br /> <br /> 4<br /> <br /> 6<br /> <br /> 8<br /> <br /> 10<br /> <br /> 6<br /> <br /> 8<br /> <br /> 10<br /> <br /> Si-O<br /> <br /> 3<br /> 0<br /> 2<br /> <br /> 9<br /> 6<br /> <br /> O-O<br /> 3<br /> 0<br /> 0<br /> <br /> 2<br /> <br /> 4<br /> <br /> 12<br /> <br /> r(Å)<br /> <br /> Hình 1. Hàm phân bố xuyên tâm thành phần của<br /> SiO2 lỏng ở các áp suất khác nhau và T=3200K<br /> <br /> Hình 2 cho thấy sự phụ thuộc của mật độ<br /> vào áp suất của hệ SiO 2 lỏng ở nhiệt độ<br /> 3200K. Nhƣ có thể thấy, khi tăng áp suất để<br /> nén mẫu thì mật độ nguyên tử tăng lên.<br /> Trên đƣờng cong, ở áp suất trong khoảng<br /> 11-14 GPa độ dốc giảm mạnh. Đây là một<br /> thông tin quan trọng về sự chuyển pha cấu<br /> trúc khi thay đổi áp suất.<br /> <br /> 30<br /> <br /> Số hóa bởi Trung tâm Học liệu – Đại học Thái Nguyên<br /> <br /> http://www.lrc-tnu.edu.vn<br /> <br /> Đỗ Thị Vân và cs<br /> <br /> Tạp chí KHOA HỌC & CÔNG NGHỆ<br /> <br /> 78(02): 29 - 33<br /> <br /> Bảng 1. Các đặc tính cấu trúc của SiO2 lỏng ở 3200 K; rij, gij là vị trí và độ cao đỉnh thứ nhất của<br /> HPBXT thành phần; Zij là số phối trí trung bình. Ở đây, 1-1 cho cặp Si-Si, 1-2 cho cặp Si-O, 2-1 cho cặp<br /> O-Si và 2-2 cho cặp O-O<br /> Áp suất,<br /> rij(Å)<br /> gij<br /> Zij<br /> GPa<br /> 1-1<br /> 1-2<br /> 2-2<br /> 1-1<br /> 1-2<br /> 2-2<br /> 1-1<br /> 1-2<br /> 2-1<br /> 2-2<br /> -0.10<br /> 3.10<br /> 1.60<br /> 2.60<br /> 2.89<br /> 9.1<br /> 2.75<br /> 4.49<br /> 4.07<br /> 2.03<br /> 8.17<br /> 4.87<br /> 3.08<br /> 1.60<br /> 2.56<br /> 2.57<br /> 7.22<br /> 2.48<br /> 5.71<br /> 4.40<br /> 2.2<br /> 11.13<br /> 9.83<br /> 3.08<br /> 1.60<br /> 2.50<br /> 2.42<br /> 6.14<br /> 2.40<br /> 6.90<br /> 4.78<br /> 2.39<br /> 12.95<br /> 15.73<br /> 3.08<br /> 1.62<br /> 2.50<br /> 2.38<br /> 5.67<br /> 2.41<br /> 7.96<br /> 5.08<br /> 2.54<br /> 13.91<br /> 20.15<br /> 3.08<br /> 1.62<br /> 2.46<br /> 2.36<br /> 5.42<br /> 2.43<br /> 8.42<br /> 5.31<br /> 2.65<br /> 14.61<br /> 25.20<br /> 3.08<br /> 1.64<br /> 2.44<br /> 2.35<br /> 5.29<br /> 2.46<br /> 8.98<br /> 5.50<br /> 2.75<br /> 15.20<br /> <br /> Hình 2. Sự phụ thuộc của mật độ vào áp suất<br /> của hệ SiO2 lỏng ở nhiệt độ 3200K<br /> <br /> Hình 3. Sự phụ thuộc của tỷ lệ các đơn vị cấu trúc SiO4,<br /> SiO5 và SiO6 vào áp suất của hệ SiO2 ở nhiệt độ 3200K<br /> <br /> Hơn nữa, nhƣ thấy trên Hình 3 về sự phụ<br /> thuộc số lƣợng đa diện SiOx (x = 4, 5, 6) vào<br /> áp suất. Khi áp suất mô hình tăng, chúng tôi<br /> thấy xuất hiện sự thay đổi đột ngột tỷ lệ số<br /> lƣợng các đa diện SiOx trong mẫu vật liệu.<br /> Cụ thể, tỷ lệ số đa diện SiO4 giảm nhanh, tỉ<br /> lệ số đa diện SiO6 tăng nhanh và tỉ lệ số đa<br /> diện SiO5 đạt giá trị cực đại trong vùng 1116 GPa. Trong khi, tâm điểm xảy ra chuyển<br /> pha vào khoảng 12-13 GPa đã đƣợc quan sát<br /> trong thực nghiệm. Ở vùng áp suất cao hơn<br /> 12-13 GPa, số đa diện SiO4 và SiO5 tiếp tục<br /> giảm và số đa diện SiO6 tăng. Có nghĩa,<br /> trong SiO2 lỏng ở 3200 K và áp suất khác<br /> nhau tồn tại tính đa cấu trúc.<br /> Một thông tin cũng khá quan trọng là phân<br /> bố góc liên kết O-Si-O trong các đơn vị cấu<br /> trúc SiO4, SiO5 và SiO6; góc liên kết Si-O-Si<br /> giữa các đơn vị cấu trúc. Trên Hình 4(a) góc<br /> liên kết O-Si-O có giá trị khoảng 1020 và<br /> <br /> hầu nhƣ không thay đổi theo áp suất. Do đó,<br /> cấu trúc của ôxít SiO2 là các tứ diện SiO4 (ở<br /> đó, một nguyên tử Si ở giữa và bốn nguyên<br /> tử O bao xung quanh).<br /> <br /> Hình 4. Phân bố góc liên kết O-Si-O trong các<br /> đơn vị cấu trúc SiO4 (a), SiO5 (b), SiO6 (c) và<br /> góc Si-O-Si giữa các đơn vị cấu trúc (d)<br /> <br /> 31<br /> <br /> Số hóa bởi Trung tâm Học liệu – Đại học Thái Nguyên<br /> <br /> http://www.lrc-tnu.edu.vn<br /> <br /> Đỗ Thị Vân và cs<br /> <br /> Tạp chí KHOA HỌC & CÔNG NGHỆ<br /> <br /> 78(02): 29 - 33<br /> <br /> Bảng 2. Phân bố liên kết cầu O giữa hai đơn vị cấu trúc SiO x với m là số nguyên tử O tham gia liên kết<br /> cầu giữa hai đơn vị cấu trúc SiOx lân cận. Các cột tiếp theo chỉ ra tỷ lệ phần trăm liên kết cầu tƣơng ứng<br /> với m. Ví dụ, 8,430% số liên kết giữa hai đơn vị cấu trúc lân cận có hai nguyên tử O tham gia cầu liên kết<br /> ở áp suất nén 4,87 GPa<br /> Áp suất (GPa)<br /> m<br /> -0.10<br /> 4.87<br /> 9.83<br /> 15.73<br /> 20.15<br /> 25.20<br /> 1<br /> 97.88<br /> 91.17<br /> 82.52<br /> 80.04<br /> 77.46<br /> 76.78<br /> 2<br /> 2.05<br /> 8.43<br /> 16.20<br /> 18.01<br /> 20.57<br /> 21.51<br /> 3<br /> 0.07<br /> 0.40<br /> 1.27<br /> 1.95<br /> 1.96<br /> 1.71<br /> <br /> Các góc liên kết O-Si-O trong các đa diện<br /> SiOx (x = 5, 6) thay đổi rất nhỏ theo áp suất<br /> (xem trên Hình 4(b), (c)). Tuy nhiên, góc liên<br /> kết Si-O-Si giữa các đa diện SiOx (x = 4, 5, 6)<br /> thay đổi rất mạnh theo áp suất. Nhƣ thấy trên<br /> Hình 4(d), ở áp suất cao (>9 GPa) trong phân<br /> bố góc Si-O-Si xuất hiện hai cực đại: cực đại<br /> thứ nhất nằm ở vị trí khoảng 910, và 1410 cho<br /> cực đại thứ hai, đây chính là hai góc gần với<br /> hai góc trong cấu trúc bát diện hoàn hảo.<br /> Trong vật liệu ôxit silic tồn tại các đơn vị cấu<br /> trúc SiOx (x = 4, 5 và 6), chúng liên kết với<br /> nhau bằng các nguyên tử ôxi và đƣợc gọi là<br /> liên kết cầu ôxi. Nhƣ thấy trong Bảng 2, tỷ lệ<br /> các liên kết giữa các đa diện bằng cầu 1, 2 và<br /> 3 nguyên tử O có sự thay đổi mạnh theo áp<br /> suất. Cụ thể, khi áp suất tăng từ -0.10 GPa<br /> đến 9.83 GPa thì tỷ lệ số liên kết giữa các đa<br /> diện với nhau bằng 1 nguyên tử ôxi chiếm đa<br /> số và liên kết bằng 2, 3 nguyên tử O chỉ<br /> chiếm vài %. Tuy nhiên, từ áp suất 9.83 GPa<br /> trở lên, số liên kết bằng 2, 3 nguyên tử O tăng<br /> lên rõ rệt, cụ thể, lần lƣợt tăng từ 16.2 21.51% và từ 1.27 - 1.96%.<br /> Qua phân tích các số liệu thu đƣợc trên đây,<br /> chúng tôi có những thảo luận sau: Đối với<br /> SiO2 lỏng ở nhiệt độ 3200 K, khi thay đổi áp<br /> suất từ -0.01 đến 25.20 GPa thì có sự chuyển<br /> pha cấu trúc từ cấu trúc tứ diện (đơn vị cấu<br /> trúc SiO4 chiếm ƣu thế) sang cấu trúc bát diện<br /> (đơn vị cấu trúc SiO6 chiếm một lƣợng đáng<br /> kể). Áp suất ở đó xảy ra sự chuyển pha cấu<br /> trúc đƣợc tìm thấy nằm trong khảng 12-15<br /> GPa, giá trị này phù hợp tốt với quan sát thực<br /> nghiệm (12-13 GPa) [2,12-16]. Điều thú vị ở<br /> đây là có sự tƣơng ứng giữa sự biến đổi của<br /> các đa diện SiOx và các liên kết cầu ôxi. SiO4<br /> có cấu trúc tứ diện nhƣng khi chuyển sang<br /> SiO6 chúng có cấu trúc bát diện, đây là sự<br /> <br /> biến đổi quan trọng cần xét đến khi nghiên<br /> cứu về chuyển pha của chất lỏng SiO2.<br /> KẾT LUẬN<br /> Cấu trúc của SiO2 lỏng đƣợc nghiên cứu bằng<br /> phƣơng pháp mô phỏng ĐLHPT, dùng thế<br /> tƣơng tác cặp BKS và điều kiện biên tuần<br /> hoàn. Đặc trƣng cấu trúc của mô hình xây<br /> dựng đƣợc phân tích thông qua HPBXT, phân<br /> bố SPT, phân bố góc liên kết. Kết quả chỉ ra<br /> rằng, cấu trúc SiO2 lỏng đƣợc tạo bởi các đơn<br /> vị SiO4, SiO5 và SiO6 thông qua các cầu oxy<br /> 1, 2 và 3. Khi tăng áp suất từ 0-25GPa thì có<br /> sự chuyển pha cấu trúc tứ diện sang cấu trúc<br /> bát diện trong khoảng áp suất 12-15GPa. Các<br /> đặc trƣng cấu trúc nhƣ phân bố tỷ lệ số đa<br /> diện SiOx, phân bố tỷ lệ liên kết cầu oxy và sự<br /> phụ thuộc của mật độ vào áp suất thể hiện rõ<br /> quá trình chuyển pha cấu trúc.<br /> TÀI LIỆU THAM KHẢO<br /> [1]. N.T. Nhan, V.V. Hung, P.H. Kien, T.V. Mung and<br /> P.K. Hung., Journal of Science of HNUE. Natural Sci.,<br /> 2008, V.53, No 1, pp.74-79.<br /> [2]. P.H. Kien, P.K. Hung and V.V. Hung, Tạp chí<br /> Khoa học và Công nghệ, Đại học Thái Nguyên Tập 68,<br /> Số 06, 2010, tr. 50-55.<br /> [3]. Mai Thị Lan, Phạm Hữu Kiên và Phạm Khắc Hùng,<br /> Hội nghị Vật lý chất rắn và Khoa học vật liệu toàn quốc<br /> lần thứ 6 (SPMS-2009) - Đà Nẵng 2009, tr. 841-845.<br /> [4]. A.Takada, P.Richet, C.R.A Catlow and G.D.Price.<br /> J.Non-Cryst.Solids, 2004. 345 và 346, 224.<br /> [5]. Liping Huang, L.Duffrene and J.Kieffer. J.NonCryst.Solids, 2004. Phys. Rev. B 69, 224203.<br /> [6]. J. Daniel, Lacks, Phys. Rev. Lett. 84 (2000) 4629.<br /> [7]. James Badro et al., Phys. Rev. B, 56 (1997) 5797.<br /> [8]. N. Kuzuu, H. yoshi, Y. Tamai and C. Wang, J. NonCryst. Solids 349 (2004) 319.<br /> [9]. M. Scott Shell et al, Phys. Rev. E, 66 (2002)<br /> 011202.<br /> [10]. R. James. Rustad and A. David. Yuen, Phys. Rev.<br /> Lett. 54 (1990) 1995.<br /> [11]. A. Polian and M. Grimsditch, Phys. Rev. B,<br /> 41(1990) 6086.<br /> [12]. B.W.H. van Beest, G.L. Kramer, R.A. Van Santen,<br /> Phys. Rev. Lett. 54 (1990) 1995.<br /> <br /> 32<br /> <br /> Số hóa bởi Trung tâm Học liệu – Đại học Thái Nguyên<br /> <br /> http://www.lrc-tnu.edu.vn<br /> <br /> Đỗ Thị Vân và cs<br /> <br /> Tạp chí KHOA HỌC & CÔNG NGHỆ<br /> <br /> 78(02): 29 - 33<br /> <br /> SUMMARY<br /> SIMULATION OF THE MICROSTRUCTURAL AND PHASE TRANSITION<br /> IN SIO2 LIQUID<br /> Do Thi Van*, Dang Thi Uyen and Pham Huu Kien<br /> College of Education - TNU<br /> <br /> The molecular dynamic simulation has been used to study of microstructural and phase transition<br /> in SiO2 liquid containing 1998 (666 Si and 1332 O) atoms in cubic box with periodic boundary<br /> conditions, at 3200 K. Structure characteristics of considred model is analysised through the partial<br /> radial distribution function, coordination number and bond-angle distribution. The simulation<br /> result reveals that SiO2 liquid is composed of the species SiO4, SiO5 and SiO6 units, they are linked<br /> by 1, 2 and 3 O bridge. As pressure increases, the fraction of SiO 4 decreases, SiO6 increases and<br /> SiO5 appears a maximum lied in range 12-15GPa and this is pressure range to occurs phase<br /> transition in SiO2 liquid, it likes observed experimental.<br /> Keywords: Molecular dynamic simulation; Microstructural; Phase transition; Periodic boundary<br /> <br /> *<br /> <br /> Tel: 01689931371, Email: dovan12a2@yahoo.com<br /> <br /> 33<br /> <br /> Số hóa bởi Trung tâm Học liệu – Đại học Thái Nguyên<br /> <br /> http://www.lrc-tnu.edu.vn<br /> <br />

CÓ THỂ BẠN MUỐN DOWNLOAD

YOMEDIA
Đồng bộ tài khoản